信号校验方法、介质、电子设备和程序产品技术

本申请涉及处理器技术领域，公开了一种信号校验方法、介质、电子设备和程序产品。信号校验方法包括：校验码生成单元获取双核锁步系统的待校验信号，待校验信号包括待输入双核锁步系统或者待输出双核锁步系统的第一类信号；校验码生成单元计算第一类信号的校验位的数值，并将第一类信号与第一类信号对应的第二类信号传输至校验单元；校验单元根据第一类信号对应的第二类信号以及校验位的数值确定第一类信号是否正确。上述技术方案能够在不增设新信号的情况下，校验待校验信号是否发生错误，提高了双核锁步系统的故障检测率，降低了成本。降低了成本。降低了成本。

【技术实现步骤摘要】
信号校验方法、介质、电子设备和程序产品


[0001]本申请涉及处理器
，尤其涉及一种信号校验方法、介质、电子设备和程序产品。

技术介绍

[0002]在某些领域，例如汽车业或民用航空业，对于设备中各部件的功能安全有着较高的要求，中央处理器(central processing unit，CPU)作为这些设备的核心，其功能安全有着更高的要求。但在一些情况下，CPU也会出现故障，如辐射、时钟漂移、低电压都可能导致CPU出现故障。目前，一般通过双核锁步系统(Dual
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Core Lockstep System，DCLS)诊断CPU是否出现故障或错误，例如，在DCLS内新增信号来诊断故障，但是这种方式会增加成本。
[0003]其中，DCLS中一般包括两个相同的逻辑单元，例如包括第一CPU core、第二CPU core和检测单元，两个CPU core一般输入同样的数据并执行同样的指令，并有检测单元实时监测两个CPU core的状态。在检测到两个CPU core中的输出不匹配时，会输出信号至外部系统，由外部系统介入处理错误，例如将系统重启以恢复DCLS的正常运行，以保障系统的安全性。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种信号校验方法、介质、电子设备和程序产品。
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种信号校验方法，应用于电子设备，电子设备包括双核锁步系统、校验码生成单元和校验单元，该方法包括：校验码生成单元获取双核锁步系统的待校验信号，待校验信号包括待输入双核锁步系统或者待输出双核锁步系统的第一类信号，其中，第一类信号包括双核锁步系统启动后会被激活或使用的功能对应的信号；校验码生成单元计算第一类信号的校验位的数值，并将第一类信号与第一类信号对应的第二类信号传输至校验单元，其中，第二类信号为双核锁步系统启动后不会被激活或使用的功能对应的信号；校验单元根据第一类信号对应的第二类信号以及校验位的数值确定第一类信号是否正确。
[0006]在本申请实施例中，第一类信号可以为安全相关信号，例如，随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)相关的信号、interrupt(干扰)信号相关的信号，第二类信号可以为非安全相关信号，例如，Debug(调试)相关的信号。
[0007]通过本申请实施例提供的方法，能够在不增设新信号的情况下，校验安全相关信号是否发生错误，提高了双核锁步系统的故障检测率，降低了成本。
[0008]在上述第一方面的一种可能实现中，校验码生成单元包括第一校验码生成单元、第二校验码生成单元；校验单元包括第一校验单元、第二校验单元；对应于第一类信号为待输入双核锁步系统的信号的情况，校验码生成单元为第一校验码生成单元，校验单元为第一校验单元；对应于第一类信号为待输出双核锁步系统的信号的情况，校验码生成单元为第二校验码生成单元，校验单元为第二校验单元；其中，第一校验码生成单元、第二校验单
元位于双核锁步系统外，第二校验码生成单元、第一校验单元位于双核锁步系统内。
[0009]在上述第一方面的一种可能实现中，校验码生成单元基于第一类信号对应的第二类信号，计算第一类信号的校验位的数值包括：校验码生成单元基于第一类信号对应的第二类信号，通过奇偶校验算法，计算第一类信号的校验位的数值。
[0010]在本申请实施例中，根据第一类信号与第二类信号之间的对应关系，确定第一类信号是否正确，即无需在系统内部设置新的校验信号，即可完成第一类信号的校验，有效提高了双核锁步系统的故障检测率，校验的正确率。
[0011]在上述第一方面的一种可能实现中，待输入双核锁步系统的第一类信号对应的第二类信号包括：待输入双核锁步系统的第二类信号；待输出双核锁步系统的第一类信号对应的第二类信号包括：双核锁步系统包括的第二类信号。
[0012]在本申请实施例中，由于第二类信号是待输入双核锁步系统的信号或双核锁步系统本身存在的信号，因此，在本申请实施例中，无需设置新的信号，即可完成对第一类信号的校验，降低了成本。
[0013]在上述第一方面的一种可能实现中，对应于第一类信号为错误信号的情况，校验单元输出错误提示信息。
[0014]在本申请实施例中，当校验出第一类信号为错误信号时，校验单元输出错误提示信息，以供外部系统及时根据错误信息做出响应。
[0015]在上述第一方面的一种可能实现中，当双核锁步系统启动后，双核锁步系统通过第一类信号；双核锁步系统拒绝第二类信号。
[0016]在本申请实施例中，双核锁步系统拒绝第二类信号，以保证有足够的第二类信号用于校验第一类信号。
[0017]在上述第一方面的一种可能实现中，当双核锁步系统启动后，禁用第二类信号的原始功能。
[0018]在本申请实施例中，当双核锁步系统启动后，虽然第二类信号不会被激活或使用，但是第二类信号仍具有其原始功能，通过禁用第二类信号的原始功能，避免第二类信号的原始功能影响第一类信号的校验过程。
[0019]在上述第一方面的一种可能实现中，第二类信号具有配置参数，基于配置参数确定禁用第二类信号的原始功能；对应于第二类信号的原始功能未被禁用的情况，双核锁步系统通过第二类信号；对应于第二类信号的原始功能被禁用的情况，双核锁步系统拒绝第二类信号。
[0020]在本申请实施例中，用户可以根据实际需求设置是否根据第二类信号校验第一类信号。
[0021]第二方面，本申请实施例提供了一种SOC，SOC包括双核锁步系统、校验码生成单元和校验单元；包括：校验码生成单元，用于获取双核锁步系统的待校验信号，待校验信号包括待输入双核锁步系统或者待输出双核锁步系统的第一类信号，其中，第一类信号包括双核锁步系统启动后会被激活或使用的功能对应的信号；校验码生成单元，用于计算第一类信号的校验位的数值，并将第一类信号与第一类信号对应的第二类信号传输至校验单元，其中，第二类信号为双核锁步系统启动后不会被激活或使用的功能对应的信号；校验单元，用于根据第一类信号对应的第二类信号以及校验位的数值确定第一类信号是否正确。
[0022]第三方面，本申请实施例提供了一种可读介质，可读介质上存储有指令，指令在电子设备上执行时使电子设备实现上述第一方面及上述第一方面的各种可能实现提供的任一种信号校验方法。
[0023]第四方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括：存储器，用于存储由电子设备的一个或多个处理器执行的指令，以及处理器，是电子设备的一个或多个处理器之一，用于实现上述第一方面及上述第一方面的各种可能实现提供的任一种信号校验方法。
[0024]第五方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，包括：执行指令，执行指令存储在可读存储介质中，电子设备的至少一个处理器可以从可读存储介质读取执行指令，至少一个处理器执行执行指令使得电子设备实现上述第一方面及上述第一方面的各种可能实现提供的任一种信号校验方法。
[0025]第六方面，本申请实施例提供了一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种信号校验方法，应用于电子设备，其特征在于，所述电子设备包括双核锁步系统、校验码生成单元和校验单元；所述方法，包括：所述校验码生成单元获取所述双核锁步系统的待校验信号，所述待校验信号包括待输入所述双核锁步系统或者待输出所述双核锁步系统的第一类信号，其中，所述第一类信号包括双核锁步系统启动后会被激活或使用的功能对应的信号；所述校验码生成单元计算所述第一类信号的校验位的数值，并将所述第一类信号与所述第一类信号对应的第二类信号传输至所述校验单元，其中，所述第二类信号为所述双核锁步系统启动后不会被激活或使用的功能对应的信号；所述校验单元根据所述第一类信号对应的第二类信号以及所述校验位的数值确定所述第一类信号是否正确。2.根据权利要求1所述的信号校验方法，其特征在于，所述校验码生成单元包括第一校验码生成单元、第二校验码生成单元；所述校验单元包括第一校验单元、第二校验单元；对应于所述第一类信号为待输入所述双核锁步系统的信号的情况，所述校验码生成单元为第一校验码生成单元，所述校验单元为第一校验单元；对应于所述第一类信号为待输出所述双核锁步系统的信号的情况，所述校验码生成单元为第二校验码生成单元，所述校验单元为第二校验单元；其中，所述第一校验码生成单元、第二校验单元位于所述双核锁步系统外，所述第二校验码生成单元、所述第一校验单元位于所述双核锁步系统内。3.根据权利要求1所述的信号校验方法，其特征在于，所述校验码生成单元基于所述第一类信号对应的第二类信号，计算所述第一类信号的校验位的数值包括：所述校验码生成单元基于所述第一类信号对应的第二类信号，通过奇偶校验算法，计算所述第一类信号的校验位的数值。4.根据权利要求1所述的信号校验方法，其特征在于，待输入所述双核锁步系统的第一类信号对应的第二类信号包括：待输入所述双核锁步系统的第二类信号；待输出所述双核锁步系统的第一类信号对应的第二类信号包括：所述双核锁...

【专利技术属性】
技术研发人员：邬宇剑，
申请(专利权)人：安谋科技中国有限公司，
类型：发明
国别省市：