基于调试接口的芯片测试向量生成方法技术

本发明专利技术提供了一种基于调试接口的芯片测试向量生成方法，该方法包括：基于待测试芯片调试访问接口的控制时序和协议，生成与芯片测试基本操作相对应的操作模板；确定用于描述测试意图的测试流程配置文件；基于所述操作模板和所述测试流程配置文件，生成芯片测试向量。本发明专利技术的方法基于芯片既有调试访问接口，仅需要提供描述测试输入激励和输出期望的测试流程配置文件，在不增加额外测试逻辑的基础上即可借助于芯片调试功能快速完成测试向量的生成和更新。成和更新。成和更新。

【技术实现步骤摘要】
基于调试接口的芯片测试向量生成方法


[0001]本专利技术属于芯片测试领域，特别涉及一种基于调试接口的芯片测试向量生成方法。

技术介绍

[0002]芯片测试是从晶圆制造到芯片产品化的不可或缺的步骤。芯片测试的目的是剔除生产过程中失效或存在潜在失效风险的芯片。随着芯片功能的复杂度越来越高，很难依靠人工完成芯片测试。要实现芯片的快速、批量的功能和性能测试，必须借助芯片自动测试机(ATE Automatic Test Equipment)。
[0003]测试向量是自动测试机(ATE)的重要输入文件，其中定义了测试过程中的输入激励和输出期望。其中输入激励描述的是芯片测试中待测试的芯片DUT(Device Under Test)管脚的输入状态，自动测试机根据测试向量中的输入激励信息，逐周期地驱动待测试芯片的输入管脚，控制待测试芯片进入所期望的测试状态，在该测试状态下，待测试芯片执行测试者期望的测试功能。待测试芯片可以是CP(晶圆测试，Chip Probing)阶段未封装的裸片(die)，或者FT(最终测试，Final Test)阶段已封装的芯片(chip)。对于输出期望，其反映了待测试芯片在上述测试状态下的预期响应；测试中待测试芯片的实际响应能够反映芯片待测试逻辑的功能是否符合预期；自动测试机可以自动完成测试向量中定义的输出期望和实际输出响应之间的逐周期比对，当两者存在不一致时，则认为上述芯片待测试逻辑存在失效或潜在失效风险。
[0004]传统技术中，通常的测试向量生成流程为，首先对芯片待测试逻辑进行定向的功能仿真，随着仿真过程生成仿真VCD(Value Change Dump)波形文件，并将该VCD文件转换为测试向量后导入自动测试机。然而，仿真VCD是基于信号事件变化记录的波形文件，并非逐周期地记录输入管脚和输出管脚信号的变化。因此，还需要根据待测试芯片DUT的工作频率进行周期化的分割，获取逐周期的管脚信号变化，作为测试向量的输入激励和输出期望，才能实现由VCD波形文件转换为芯片测试机可识别的测试向量。同时由于VCD文件随仿真过程而产生，波形文件中的仿真毛刺也会对转换过程中周期化的分割带来困难。此外，当测试用例发生变化时，需要重新进行仿真、生成VCD文件，再次转换后提供自动测试机使用，无法高效地进行调试，造成芯片测试周期的延长。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种基于调试接口的芯片测试向量生成方法，以解决仿真文件转换成测试向量中存在的难点和测试向量更新时效率过低的问题。所述基于调试接口的芯片测试向量生成方法包括：
[0006]基于待测试芯片调试访问接口的控制时序和协议，生成与芯片测试基本操作相对应的操作模板；
[0007]确定用于描述测试意图的测试流程配置文件；
[0008]基于所述操作模板和所述测试流程配置文件，生成芯片测试向量。
[0009]优选地，所述芯片测试基本操作的类型包括以下任一项：
[0010]写寄存器操作、读寄存器操作、等待操作、读寄存器修改后回写操作和轮询片内寄存器标志位操作。
[0011]优选地，所述测试流程配置文件包括以下任一项：
[0012]芯片仿真验证用例、驱动调试程序和测试流程文档。
[0013]优选地，所述确定用于描述测试意图的测试流程配置文件，进一步包括，在所述测试流程配置文件中：
[0014]对于写寄存器操作，设置写地址和写数据操作数；
[0015]对于读寄存器操作，设置读地址和期望的读数据操作数；
[0016]对于等待操作，设置等待的测试周期操作数。
[0017]优选地，所述基于所述操作模板和所述测试流程配置文件，生成芯片测试向量，进一步包括：
[0018]从所述测试流程配置文件中识别当前操作类型和操作数；
[0019]根据识别到的当前操作类型和操作数，选择对应的操作模板，适配所述操作模板，并根据所述操作类型和操作数更新所述操作模板中相应待替换字段，得到与当前操作对应的测试向量片断。
[0020]优选地，所述根据所述操作类型和操作数更新所述模板中相应待替换字段，得到与当前操作对应的测试向量片断，进一步包括：
[0021]根据不同的操作类型，执行相对应的替换规则，并根据预定义的测试向量符号定义表的映射关系，按位得到输入激励的接口信号状态和输出响应的输出期望值。
[0022]优选地，在所述得到与当前操作对应的测试向量片断之后，进一步包括：
[0023]将所述与当前操作对应的测试向量片断追加到预先建立的测试向量存储文件中。
[0024]优选地，所述待测试芯片调试访问接口使用固定的控制时序和协议访问芯片待测试模块。
[0025]优选地，所述调试访问接口接收自动测试机逐周期地输入测试向量中描述的输入激励，并通过系统总线与芯片待测试模块相连接；当所述调试访问接口接收到一条完整调试命令后，对调试命令进行解析并传送到所述系统总线；通过所述系统总线根据所述调试命令发起对所述芯片待测试模块的寄存器访问，并通过所述系统总线接收所述芯片待测试模块的输出响应数据；所述调试访问接口将所述芯片待测试模块的输出响应数据返回到自动测试机中。
[0026]优选地，所述调试访问接口是标准CPU调试接口，或者基于通用串口协议实现的自定义传输格式的调试接口。
[0027]优选地，所述标准CPU调试接口为JTAG，所述JTAG的输入激励和输出响应分别为输入TCK、TDI、TMS和输出TDO。
[0028]相比于现有技术，本专利技术具有以下优点：
[0029]本专利技术的方法采用既有调试访问接口实现芯片测试功能，不需要为芯片测试预先设计测试电路，因而简化了测试逻辑设计复杂度，减少了测试逻辑芯片开发、验证周期。借助于调试访问接口，自动测试机(ATE)可以按照规定调试访问接口协议和控制时序实现对
芯片待测试模块的配置、逻辑状态监测。本专利技术中的测试流程配置文件均为芯片验证、回片调试、测试方案制定中的既有文件，不需要额外准备，便于快速完成测试向量的生成，具有普遍的适用性；配置文件维护、更新便捷，在测试过程中可以根据测试需要修改配置文件后快速重建新的测试向量，显著提高测试工程师的测试效率。
[0030]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且可以部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可以通过在说明书、权利要求书以及附图中所指出的结构来实现和获取。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的某些实施例，对于本领域普通技术人员来说，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获取其他的附图。
[0032]图1示出了根据本专利技术的测试向量示例的示意图。
[0033]图2示出了根据本专利技术的基于调试访问接口测试方法的实现架构示意图。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于调试接口的芯片测试向量生成方法，其特征在于，包括：基于待测试芯片调试访问接口的控制时序和协议，生成与芯片测试基本操作相对应的操作模板；确定用于描述测试意图的测试流程配置文件；基于所述操作模板和所述测试流程配置文件，生成芯片测试向量。2.根据权利要求1所述的基于调试接口的芯片测试向量生成方法，其特征在于，所述芯片测试基本操作的类型包括以下任一项：写寄存器操作、读寄存器操作、等待操作、读寄存器修改后回写操作和轮询片内寄存器标志位操作。3.根据权利要求1所述的基于调试接口的芯片测试向量生成方法，其特征在于，所述测试流程配置文件来自以下任一项：芯片仿真验证用例、驱动调试程序和测试流程文档。4.根据权利要求3所述的基于调试接口的芯片测试向量生成方法，其特征在于，所述确定用于描述测试意图的测试流程配置文件，进一步包括，在所述测试流程配置文件中：对于写寄存器操作，设置写地址和写数据操作数；对于读寄存器操作，设置读地址和期望的读数据操作数；对于等待操作，设置等待的测试周期操作数。5.根据权利要求4所述的基于调试接口的芯片测试向量生成方法，其特征在于，所述基于所述操作模板和所述测试流程配置文件，生成芯片测试向量，进一步包括：从所述测试流程配置文件中识别当前操作类型和操作数；根据识别到的所述当前操作类型和操作数，选择对应的操作模板，适配所述操作模板，并根据所述操作类型和操作数更新所述操作模板中相应待替换字段，得到与当前操作对应的测试向量片断。6.根据权利要求1所述的基于调试接口的芯片测试向量生成方法，其特征在于，所述根据操作类型和操作数更新所述模板中相应待替...

【专利技术属性】
技术研发人员：王大伦，汪宏志，吴涛，张瑞彪，宋志鑫，孙亮，张盖，王强，于炳俊，柳新昌，
申请(专利权)人：无锡众星微系统技术有限公司，
类型：发明
国别省市：