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利用探察线圈型传感器的金属探测系统技术方案

技术编号:35255198 阅读:12 留言:0更新日期:2022-10-19 10:11
本发明专利技术的一实施例提供对如枪支类的特定物体进行检测并对这种物体进行追踪的技术。基于本发明专利技术的实施例的利用探察线圈型传感器的金属探测系统,包括:传感器模块,包括至少一个以上的传感器,对周围移动的物体进行检测,传感器具备外壳、芯以及线圈,外壳具备内部空间,芯形成为被引入外壳的内部空间,线圈卷绕于与芯的位置对应的外壳的外周面的一部位;摄像部,对在传感器模块的周围移动的物体或携带物体的人员进行摄像;阻抗匹配部,与所述传感器模块连接,执行阻抗匹配;以及放大部,与阻抗匹配部连接,将当物体靠近传感器模块时生成的微电流和微电压放大。电流和微电压放大。电流和微电压放大。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】利用探察线圈型传感器的金属探测系统


[0001]本专利技术涉及利用探察线圈型传感器的金属探测系统,更详细地说,涉及对如枪支类的特定物体进行检测并追踪这种物体的技术。

技术介绍

[0002]在磁传感器中采用了Squid、Fiber

Optic、Flux

Gate、Magnetic Impedance等多种技术,在各个所需的产业领域被高度化并应用。尤其,随着第四次产业革命的到来,出现了各种IoT应用产品,磁传感器技术在日常生活领域中的适用范围也在扩大。
[0003]随之,国内的三星电子、国外的霍尼韦尔(Honeywell)等公司正在研究进一步实现小型化的芯片(Chip)形态的磁传感器,而且为了提高检测灵敏度或范围,减少检测误差,正在进行各种研究开发。
[0004]并且,最近在美国等地由枪支引起的事故增加,由此,对用于提高如枪支等特定物体的探测性能的系统的兴趣和需求正在增加。
[0005]在大韩民国登录特许第10

0867375号(专利技术名称:利用3个磁传感器的移动体的位置及方向信息测定装置及方法)中公开了一种方法,包括:设置步骤,在上述移动体上设置与由x,y轴构成的面分别对应的2个磁传感器,并且在上述移动体上设置与z轴对应的磁传感器;存储步骤,移动体测定分别与上述各个x,y,z轴对应的地球磁场,将基准磁场的信息值存储于内部的存储器;判断步骤,移动体一边移动,一边对x,y,z轴测定磁场的大小,然后判断测定到的z轴磁场值与z轴基准磁场值之差的绝对值是否小于磁传感器所具有的误差范围;以及更新步骤,在判断步骤中判断为z轴的测定值与基准值之差的绝对值小于传感器的误差范围时,利用x,y轴磁场测定值,更新移动体的方向信息值。
[0006]现有技术文献
[0007]专利文献:大韩民国登录特许第10

0867375号

技术实现思路

[0008]要解决的技术问题
[0009]用于解决如上所述问题的本专利技术的目的在于,无需对不具有磁气成分的芯和线圈施加任何变化,也能够利用含铁物体的微磁场来检测物体的位置、位移等。
[0010]而且,本专利技术的目的在于,随着含铁物体发生位移,相对于传感器发生了极性变更时,防止因磁场暂时减弱的范围(无极性范围)而导致检测滞后。
[0011]另外,本专利技术的目的在于,能够针对多个物体进行位置测定等,能够判断多个物体各自的移动路径等。
[0012]而且,本专利技术的目的在于,对如枪支类的特定物体进行检测并对这种物体进行追踪。
[0013]本专利技术所要解决的技术课题不限于上述的技术课题,对于没有提及的其他技术课题,本领域技术人员应能够根据下面的记载而明确理解。
[0014]用于解决问题的手段
[0015]用于实现上述目的的本专利技术的结构,包括:传感器模块,包括至少一个以上的传感器,对周围移动的物体进行检测,所述传感器具备外壳、芯以及线圈,所述外壳具备内部空间,所述芯形成为被引入所述外壳的内部空间,所述线圈卷绕于与所述芯的位置对应的所述外壳的外周面的一部位;摄像部,对在所述传感器模块的周围移动的所述物体或携带所述物体的人员进行摄像;阻抗匹配部,与所述传感器模块连接,执行阻抗匹配;以及放大部,与所述阻抗匹配部连接,将当所述物体靠近所述传感器模块时生成的微电流和微电压放大,所述传感器模块通过与含铁(Fe)的所述物体之间的距离变化而形成感应磁场,利用基于所述传感器模块的信息和通过所述摄像部获取的摄像图像来对所述物体进行分析。
[0016]本专利技术的一实施例中,可以包括:第一控制部,与所述放大部连接,对放大的电流和电压的波形进行分析;以及第二控制部,与所述第一控制部连接,生成对所述物体的移动和磁密度进行的分析的物体分析信息,与所述摄像部连接而收集所述摄像图像。
[0017]本专利技术的一实施例中,所述第二控制部,能够利用所述物体分析信息和所述摄像图像来执行针对所述物体的分类。
[0018]本专利技术的一实施例中,所述第二控制部,能够在判断所述物体的磁通密度是否包含在预定的磁通密度范围之后,利用所述摄像图像判断所述物体的种类。
[0019]本专利技术的一实施例中,在所述物体被判断为是枪支类时,所述第二控制部能够生成警告信号。
[0020]本专利技术的一实施例中,可以包括:输出部,与所述第二控制部连接,视觉性地输出所述物体的位置变化,输出所述警告信号。
[0021]本专利技术的一实施例中,可以形成有多个所述传感器模块,在多个所述传感器模块分别连接有所述阻抗匹配部和所述放大部。
[0022]本专利技术的一实施例中,多个所述传感器能够分别并列或以放射状配置。
[0023]本专利技术的一实施例中,所述传感器所具备的多个线圈分别直列配置。
[0024]专利技术效果
[0025]基于如上所述结构的本专利技术的效果如下:能够检测含铁物体的微磁场及磁通量的变化,能够以超低电力检测含铁物体的位置、位移等。
[0026]而且,本专利技术的效果还有,随着含铁物体发生位移,相对于传感器发生了极性变更时,即使出现了磁场暂时减弱的范围(无极性范围),也能够通过相邻的其他传感器或线圈检测含铁物体的磁场,装置能够正常且连续地工作。
[0027]此外,本专利技术的效果还有,能够与传感器或传感器模块的配置等无关地进行检测及测定。
[0028]而且,本专利技术的效果还有,能够利用多个传感器模块进行对多个物体的位置测定等,从而能够判断多个物体各自的移动路径等。
[0029]而且,本专利技术的效果还有,通过利用基于传感器模块的物体分析信息和基于摄像部的摄像图像来复合地执行对于物体的测定,因此能够提高对于物体的测定速度和测定精度。
[0030]而且,本专利技术的效果还有,能够检测含铁物体的微磁场及磁通量的变化,所以能够不受空气、土壤、水等的影响地发挥同一性能。
[0031]应理解为本专利技术的效果不限于上述的效果,还包括能够根据本专利技术的说明书或权利要求书中记载的专利技术结构推测的所有效果。
附图说明
[0032]图1和图2是基于本专利技术的一实施例的金属探测系统的概略图。
[0033]图3是基于本专利技术的第一实施例的传感器的概略图。
[0034]图4是基于本专利技术的第一实施例的传感器模块的概略图。
[0035]图5是基于本专利技术的第二实施例的传感器的概略图。
[0036]图6是基于本专利技术的第二实施例的传感器模块的概略图。
[0037]图7是基于本专利技术的各实施例的传感器的磁场区域的示意图。
[0038]图8是基于本专利技术的第三实施例的传感器的概略图。
[0039]图9是基于本专利技术的第三实施例的传感器模块的概略图。
[0040]图10是基于本专利技术的第四实施例的传感器模块的概略图。
[0041]图11和图12是物体通过基于本专利技术的第一实施例的传感器时的信号模式的图表。
具体实施方式
[004本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种利用探察线圈型传感器的金属探测系统,其特征在于,包括:传感器模块,包括至少一个以上的传感器,对周围移动的物体进行检测,所述传感器具备外壳、芯以及线圈,所述外壳具备内部空间,所述芯形成为被引入所述外壳的内部空间,所述线圈卷绕于与所述芯的位置对应的所述外壳的外周面的一部位;摄像部,对在所述传感器模块的周围移动的所述物体或携带所述物体的人员进行摄像;阻抗匹配部,与所述传感器模块连接,执行阻抗匹配;以及放大部,与所述阻抗匹配部连接,将当所述物体靠近所述传感器模块时生成的微电流和微电压放大,所述传感器模块通过与含铁的所述物体之间的距离变化而形成感应磁场,利用基于所述传感器模块的信息和通过所述摄像部获取的摄像图像来对所述物体进行分析。2.根据权利要求1所述的利用探察线圈型传感器的金属探测系统,其特征在于,还包括:第一控制部,与所述放大部连接,对放大的电流和电压的波形进行分析;以及第二控制部,与所述第一控制部连接,生成对所述物体的移动和磁密度进行的分析的物体分析信息,与所述摄像部连接而收集所述摄像图像。3.根据权利要求2所述的利用探察线圈型传感器的金属...

【专利技术属性】
技术研发人员:崔在勋金泰均金东亨
申请(专利权)人:金泰均
类型:发明
国别省市:

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