双向高精度NMOS功率管电流采样电路及方法技术

技术编号:35228265 阅读:33 留言:0更新日期:2022-10-15 10:48
本发明专利技术涉及一种双向高精度NMOS功率管电流采样电路及方法。其包括:采样连接部,包括NMOS功率管M

【技术实现步骤摘要】
双向高精度NMOS功率管电流采样电路及方法


[0001]本专利技术涉及一种电流采样电路及方法,尤其是一种双向高精度NMOS功率管电流采样电路及方法。

技术介绍

[0002]随着传感技术的发展,越来越多的传感器系统使用微电子芯片作为感知物理量的方式;这些传感器系统工作时,将物理量先转换为电压信号或者电流信号,然后利用微电子芯片采样电信号,最后输出到终端。
[0003]上述转换得到的电信号中,电压信号可以直接由ADC采集,电流信号则需要先通过电流采样,将芯片外部的电流转化为芯片可以直接感知的信号。实际中,对电流采样实现方法有多种,可以直接在片外信号通路上串接电阻,但这样会有功耗损失,在电源系统中非常不适合。为了减小功率损失,某些系统中,利用电感的寄生电阻,即RDC采样,但这种电流采样只适合于有电感参与的系统。
[0004]图1中,示出了一种无需片外电阻的电流采样实施情况,图1中,M
P
为NMOS功率管,M
SNS
为采样管,I
SNS
为采样电流,NMOS功率管M
P
的栅极端与采样管M
SNS
的栅极端均接电压V
G_HS
,NMOS功率管M
P
的漏极端与采样管M
SNS
的漏极端均连接电压V1,NMOS功率管M
P
的源极端接电压V2。
[0005]图1中所示的电流采样,通过复制NMOS功率管M
P
的状态,通过采样管M
SNS
可等比例的将电流转换到芯片内部,电流路径无需额外电阻。但所述电流采样的主要缺点是只能针对一个方向的电流,如果电流的方向发生转变,则所述电流采样电路无法正常工作。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的是克服现有技术中存在的不足,提供一种双向高精度NMOS功率管电流采样电路及方法,其在无需额外引入片外电阻的情况下,可实现正负两个方向电流的采样,适应范围广,安全可靠。
[0007]按照本专利技术提供的技术方案,所述双向高精度NMOS功率管电流采样电路,包括:
[0008]采样连接部,包括NMOS功率管M
P
以及用于复制NMOS功率管M
P
状态的采样管M
SNS
,采样管M
SNS
的漏极端、NMOS功率管M
P
的漏极端均连接电压V1,NMOS功率管M
P
的源极端接电压V2;
[0009]误差放大部,与采样连接部内NMOS功率管M
P
的源极端以及采样管M
SNS
的源极端适配连接,用于对采样管M
SNS
源极端的电压进行环路控制,以使得采样管M
SNS
源极端的电压V
SNS
与NMOS功率管M
P
源极端的电压V2保持一致;
[0010]电流输出部,与误差放大部适配连接,误差放大部基于电压V1与电压V2的状态提供采样管M
SNS
的方向电流时,所述电流输出部基于所述误差放大部提供采样管M
SNS
的方向电流状态输出所需的采样电流;其中,误差放大部所提供采样管M
SNS
的方向电流与流过NMOS管M
P
的电流方向相一致。
[0011]所述误差放大部包括直流偏置电源、第一环路控制电流提供电路以及第二环路控
制电流提供电路,其中,
[0012]第一环路控制电流提供电路、第二环路控制电流提供电路与直流偏置电源适配电连接;
[0013]电压V1大于电压V2时,第一环路控制电流提供电路控制采样管M
SNS
源极端的电压V
SNS
与NMOS功率管M
P
源极端的电压V2保持一致,且提供从电压V1流向采样管M
SNS
源极端的方向电流;
[0014]电压V1小于电压V2时,第二环路控制电流提供电路控制采样管M
SNS
源极端的电压V
SNS
与NMOS功率管M
P
源极端的电压V2保持一致,且提供从采样管M
SNS
源极端流向电压V1的方向电流。
[0015]所述直流偏置电源包括PMOS管M
P3
、PMOS管M
P4
、PMOS管M
P5
、PMOS管M
P6
、PMOS管M
P7
以及PMOS管M
P8
,其中,
[0016]PMOS管M
P3
的源极端、PMOS管M
P4
的源极端、PMOS管M
P6
以及PMOS管M
P7
的源极端均与浮动电压V
FLY_VDD
连接,PMOS管M
P3
的栅极端、PMOS管M
P3
的漏极端、PMOS管M
P6
的栅极端以及PMOS管M
P7
的栅极端通过电流源I2与NMOS管M
N6
的漏极端、NMOS管M
N6
的栅极端以及NMOS管M
N7
的栅极端连接;
[0017]PMOS管M
P4
的栅极端与PMOS管M
P4
的漏极端、PMOS管M
P5
的源极端连接,PMOS管M
P5
的栅极端与PMOS管M
P5
的漏极端、NMOS管M
N7
的漏极端以及PMOS管M
P8
的栅极端连接;
[0018]PMOS管M
P6
的漏极端与NMOS管M
N9
的漏极端、NMOS管M
N9
的栅极端以及NMOS管M
N12
的栅极端连接,NMOS管M
N9
的源极端与NMOS管N
M8
的漏极端以及NMOS管M
N8
的栅极端连接;
[0019]PMOS管M
P7
的漏极端与PMOS管M
P8
的源极端、NMOS管M
N12
的漏极端以及第一环路控制电流提供电路适配连接,PMOS管M
P8
的漏极端、NMOS管M
N12
的源极端与NMOS管M
N11
的漏极端以及第二环路控制电流提供电路适配连接;
[0020]NMOS管M
N11
的栅极端与NMOS管M
N10
的栅极端、NMOS管M
N10
的漏极端以及电流源I3的输出端连接,电流源I3的电压端与浮动电压V
FLY_VDD
连接;
[0021]NMOS管M
N6本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双向高精度NMOS功率管电流采样电路,其特征是,包括:采样连接部,包括NMOS功率管M
P
以及用于复制NMOS功率管M
P
状态的采样管M
SNS
,采样管M
SNS
的漏极端、NMOS功率管M
P
的漏极端均连接电压V1,NMOS功率管M
P
的源极端接电压V2;误差放大部,与采样连接部内NMOS功率管M
P
的源极端以及采样管M
SNS
的源极端适配连接,用于对采样管M
SNS
源极端的电压进行环路控制,以使得采样管M
SNS
源极端的电压V
SNS
与NMOS功率管M
P
源极端的电压V2保持一致;电流输出部,与误差放大部适配连接,误差放大部基于电压V1与电压V2的状态提供采样管M
SNS
的方向电流时,所述电流输出部基于所述误差放大部提供采样管M
SNS
的方向电流状态输出所需的采样电流;其中,误差放大部所提供采样管M
SNS
的方向电流与流过NMOS管M
P
的电流方向相一致。2.根据权利要求1所述双向高精度NMOS功率管电流采样电路,其特征是:所述误差放大部包括直流偏置电源、第一环路控制电流提供电路以及第二环路控制电流提供电路,其中,第一环路控制电流提供电路、第二环路控制电流提供电路与直流偏置电源适配电连接;电压V1大于电压V2时,第一环路控制电流提供电路控制采样管M
SNS
源极端的电压V
SNS
与NMOS功率管M
P
源极端的电压V2保持一致,且提供从电压V1流向采样管M
SNS
源极端的方向电流;电压V1小于电压V2时,第二环路控制电流提供电路控制采样管M
SNS
源极端的电压V
SNS
与NMOS功率管M
P
源极端的电压V2保持一致,且提供从采样管M
SNS
源极端流向电压V1的方向电流。3.根据权利要求2所述双向高精度NMOS功率管电流采样电路,其特征是:所述直流偏置电源包括PMOS管M
P3
、PMOS管M
P4
、PMOS管M
P5
、PMOS管M
P6
、PMOS管M
P7
以及PMOS管M
P8
,其中,PMOS管M
P3
的源极端、PMOS管M
P4
的源极端、PMOS管M
P6
以及PMOS管M
P7
的源极端均与浮动电压V
FLY_VDD
连接,PMOS管M
P3
的栅极端、PMOS管M
P3
的漏极端、PMOS管M
P6
的栅极端以及PMOS管M
P7
的栅极端通过电流源I2与NMOS管M
N6
的漏极端、NMOS管M
N6
的栅极端以及NMOS管M
N7
的栅极端连接;PMOS管M
P4
的栅极端与PMOS管M
P4
的漏极端、PMOS管M
P5
的源极端连接,PMOS管M
P5
的栅极端与PMOS管M
P5
的漏极端、NMOS管M
N7
的漏极端以及PMOS管M
P8
的栅极端连接;PMOS管M
P6
的漏极端与NMOS管M
N9
的漏极端、NMOS管M
N9
的栅极端以及NMOS管M
N12
的栅极端连接,NMOS管M
N9
的源极端与NMOS管N
M8
的漏极端以及NMOS管M
N8
的栅极端连接;PMOS管M
P7
的漏极端与PMOS管M
P8
的源极端、NMOS管M
N12
的漏极端以及第一环路控制电流提供电路适配连接,PMOS管M
P8
的漏极端、NMOS管M
N12
的源极端与NMOS管M
N11
的漏极端以及第二环路控制电流提供电路适配连接;NMOS管M
N11
的栅极端与NMOS管M
N10
的栅极端、NMOS管M
N10
的漏极端以及电流源I3的输出端连接,电流源I3的电压端与浮动电压V
FLY_VDD
连接;NMOS管M
N6
的源极端、NMOS管M
N7
的源极端、NMOS管M
N8
的源极端以及NMOS管M
N11
的源极端均与电压V2连接。4.根据权利要求3所述双向高精度NMOS功率管电流采样电路,其特征是:所述第一环路控制电流提供电路包括PMOS管M
P12
、高压PMOS管M
HVP2
、NMOS管M
N2
、NMOS管M
N1
以及高压NMOS管
M
HVN1
,其中,PMOS管M
P12
的源极端接浮动电压V
FLY_VDD
,PMOS管M
P12
的漏极端与高压PMOS管M
HVP2
的源极端连接,高压PMOS管M
HVP2
的栅极端接电压V2,高压PMOS管M
HVP2
的漏极端与NMOS管M
N2
的漏极端、NMOS管M
N2
的栅极端、NMOS管M
N1
的栅极端以及电流输出部适配连接;NMOS管M
N1
的源极端以及NMOS管M
N2
的源极端接地,NM...

【专利技术属性】
技术研发人员:李响蔡胜凯董渊
申请(专利权)人:上海紫鹰微电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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