双面研磨机自动测量停止装置制造方法及图纸

技术编号:35222403 阅读:23 留言:0更新日期:2022-10-15 10:40
本实用新型专利技术公开了双面研磨机自动测量停止装置,涉及双面研磨机技术领域,包括底座、设置于底座顶部的工作台、设置于底座顶部右侧的显示屏和设置于底座顶部后侧的安装架,安装架内转动设置有丝杆,丝杆上设置有螺纹座,螺纹座的前侧设置有安装板,工作台顶部转动设置有下盘,安装板底部转动设置有上盘,丝杆通过电机驱动,底座顶部左侧设置有定量组件。在本实用新型专利技术中,通过增加了定量组件,进而可以根据所需晶片厚度进行研磨,避免下量不稳定导致晶片加工不到量的问题,从而提高了工作效率,同时避免了晶片加工过薄导致晶片直接报废的问题,从而节约了成本。从而节约了成本。从而节约了成本。

【技术实现步骤摘要】
双面研磨机自动测量停止装置


[0001]本技术涉及双面研磨机
,尤其涉及双面研磨机自动测量停止装置。

技术介绍

[0002]在蓝宝石晶片双面研磨加工领域中,一般做法是将蓝宝石晶片放入双面研磨设备中,设置加工时间进行加工。在双面研磨过程中,蓝宝石晶片会越磨越薄,最后达到规定厚度,完成加工。
[0003]但现有的双面研磨机需要自己计算加工时间,在设备下量不稳定时,晶片厚度容易加工不到量,需要进行二次加工,从而导致研磨的时间加长,降低了工作效率,或者晶片加工过薄晶片直接报废,从而浪费成本,因此,需对上述问题进行改进处理。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术不足的问题,而提出的双面研磨机自动测量停止装置。
[0005]为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:
[0006]双面研磨机自动测量停止装置,包括底座、设置于底座顶部的工作台、设置于底座顶部右侧的显示屏和设置于底座顶部后侧的安装架,所述安装架内转动设置有丝杆,所述丝杆上设置有螺纹座,所述螺纹座的前侧设置有安装板,所述工作台顶部转动设置有下盘,所述安装板底部转动设置有上盘,所述丝杆通过电机驱动,所述底座顶部左侧设置有定量组件;
[0007]所述定量组件包括设置于底座顶部左侧的螺纹柱,所述螺纹柱上活动设有活动板,所述活动板的底部设置有安装座,所述安装座内转动设置有活动块,所述活动块与螺纹柱螺纹连接,所述活动块底部贯穿的安装座底部,所述活动板的顶部右侧设置有压力传感器,所述安装板底部左侧设置有用于配合压力传感器的触发块。
[0008]进一步,所述底座顶部左侧设置有安装柱,所述安装柱的顶部设置有定量杆,所述定量杆的前侧标注有刻度,所述活动板的左侧设置有指针,所述指针位于定量杆的前侧。
[0009]进一步,所述底座顶部左侧设置有导向杆,所述活动板与导向杆滑动连接,所述导向杆的顶部设置有限位板。
[0010]进一步,所述活动块底端外壁套设有橡胶套,所述橡胶套的表面设置有多个防滑凸块。
[0011]进一步,所述压力传感器的输出端与处理器的输入端电连接,所述处理器的输出端与继电器的输入端电连接,所述继电器的输出端与电机的输入端电连接。
[0012]与现有技术相比,本技术具备以下有益效果:
[0013]在本技术中,通过增加了定量组件,进而可以根据所需晶片厚度进行研磨,避免下量不稳定导致晶片加工不到量的问题,从而提高了工作效率,同时避免了晶片加工过薄导致晶片直接报废的问题,从而节约了成本。
附图说明
[0014]图1为本技术提出的双面研磨机自动测量停止装置的外观图;
[0015]图2为本技术提出的双面研磨机自动测量停止装置的结构示意图;
[0016]图3为图2中局部A部分放大示意图。
[0017]图中序号:1、底座;2、工作台;3、安装板;4、显示屏;5、定量组件;31、触发块;51、螺纹柱;52、活动板;53、安装座;54、活动块;55、指针;56、导向杆;57、限位板;58、安装柱;59、定量杆;521、压力传感器;541、橡胶套。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。
[0019]在本技术的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0020]参照图1

3,双面研磨机自动测量停止装置,包括底座1、设置于底座1顶部的工作台2、设置于底座1顶部右侧的显示屏4和设置于底座1顶部后侧的安装架,安装架内转动设置有丝杆,丝杆上设置有螺纹座,螺纹座的前侧设置有安装板3,工作台2顶部转动设置有下盘,安装板3底部转动设置有上盘,丝杆通过电机驱动,底座1顶部左侧设置有定量组件5;
[0021]定量组件5包括设置于底座1顶部左侧的螺纹柱51,螺纹柱51上活动设有活动板52,活动板52的底部设置有安装座53,安装座53内转动设置有活动块54,活动块54与螺纹柱51螺纹连接,活动块54底部贯穿的安装座53底部,活动板52的顶部右侧设置有压力传感器521,安装板3底部左侧设置有用于配合压力传感器521的触发块31,通过增加了定量组件5,进而可以根据所需晶片厚度进行研磨,避免下量不稳定导致晶片加工不到量的问题,从而提高了工作效率,同时避免了晶片加工过薄导致晶片直接报废的问题,从而节约了成本。
[0022]进一步,底座1顶部左侧设置有安装柱58,安装柱58的顶部设置有定量杆59,定量杆59的前侧标注有刻度,活动板52的左侧设置有指针55,指针55位于定量杆59的前侧,通过指针55与定量杆59的配合,实现了定量研磨。
[0023]进一步,底座1顶部左侧设置有导向杆56,活动板52与导向杆56滑动连接,导向杆56的顶部设置有限位板57,通过导向杆56,防止了活动板52发生转动,使得活动板52保持稳定的滑动。
[0024]进一步,活动块54底端外壁套设有橡胶套541,橡胶套541的表面设置有多个防滑凸块,通过设置橡胶套541,进而方便转动活动块54。
[0025]进一步,压力传感器521的输出端与处理器的输入端电连接,处理器的输出端与继电器的输入端电连接,继电器的输出端与电机的输入端电连接。
[0026]工作原理:当需要对晶片进行研磨时,首先握紧橡胶套541,并转动橡胶套541,进而带动活动块54进行转动,进而带动安装座53进行上下移动,进而带动活动板52进行移动,进而带动指针55进行移动,当指针55指在定量杆59上的数值与所需研磨厚度一致时,停止
转动,此时使上盘和下盘进行转动,实现对晶片的研磨,同时驱动电机,进而带动丝杆进行转动,进而带动螺纹座进行向下移动,进而带动安装板3向下移动,进而带动触发块31进行向下移动,当触发块31触碰到压力传感器521接触时,压力传感器521会将信号传递给处理器进行处理,处理器将处理的结果发送给继电器,控制电机停止转动,此时晶片的厚度与所需晶片厚度相同,完成研磨,通过增加了定量组件5,进而可以根据所需晶片厚度进行研磨,避免下量不稳定导致晶片加工不到量的问题,从而提高了工作效率,同时避免了晶片加工过薄导致晶片直接报废的问题,从而节约了成本。
[0027]以上所述,仅为本技术较佳的具体实施方式,但本技术的保护范围并不局限于此,任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内,根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.双面研磨机自动测量停止装置,包括底座(1)、设置于底座(1)顶部的工作台(2)、设置于底座(1)顶部右侧的显示屏(4)和设置于底座(1)顶部后侧的安装架,所述安装架内转动设置有丝杆,所述丝杆上设置有螺纹座,所述螺纹座的前侧设置有安装板(3),所述工作台(2)顶部转动设置有下盘,所述安装板(3)底部转动设置有上盘,所述丝杆通过电机驱动,其特征在于,所述底座(1)顶部左侧设置有定量组件(5);所述定量组件(5)包括设置于底座(1)顶部左侧的螺纹柱(51),所述螺纹柱(51)上活动设有活动板(52),所述活动板(52)的底部设置有安装座(53),所述安装座(53)内转动设置有活动块(54),所述活动块(54)与螺纹柱(51)螺纹连接,所述活动块(54)底部贯穿的安装座(53)底部,所述活动板(52)的顶部右侧设置有压力传感器(521),所述安装板(3)底部左侧设置有用于配合压力传感器(521)的触发块(31)。2.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:肖迪
申请(专利权)人:青岛嘉星晶电科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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