一种基于AMOLEDGamma方法的测试调节系统技术方案

本发明专利技术涉及Gamma调节领域，且公开了一种基于AMOLEDGamma方法的测试调节系统，包括上位机、探头、数据采集模块、数据分析模块、数据计算模块、显示模块、调整模块，上位机的输出端连接探头的输入端，探头的输出端连接数据采集模块的输入端，数据采集模块的输出端连接数据分析模块的输入端，数据分析模块的输出端连接数据计算模块的输入端，数据计算模块的输出端连接显示模块的输入端，显示模块的输出端连接调整模块的输入端，在数据的采集、存储、分析、计算中，不断的预测最优的RGB的电阻起始值，同时根据“锁策略”，减少变量个数，使算法调试具有方向性，使GAMMA调试次数变少，缩短单次调试时间、大大提高生产效率。大大提高生产效率。大大提高生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种基于AMOLED Gamma方法的测试调节系统


[0001]本专利技术涉及Gamma调节领域，具体为一种基于AMOLED Gamma方法的测试调节系统。

技术介绍

[0002]随着社会的发展，电子产品的不断普及，国内外各大企业都在不断加强对OLED技术的研究，OLED技术进一步得到提高完善。OLED作为LCD后发展最有潜力的新兴显示技术，在商业、电子产品、VR、交通和工业等领域都占据很大的市场地位。由于人眼可识别的亮度与实际亮度呈非线性的关系，所以为了使OLED模组显示效果更符合人眼视觉曲线，就需要对模组做gamma进行测试调整，目前国内外检测设备厂商开发的GAMMA装置和方法主要针对LCD屏，且普遍存在调节速度慢、调节效果欠佳的问题，影响OLED模组厂商批量生产的效率和产品质，为此我们提出了一种基于AMOLED Gamma方法的测试调节系统。

技术实现思路

[0003](一)解决的技术问题
[0004]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种基于AMOLED Gamma方法的测试调节系统，解决了上述的问题。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于AMOLEDGamma方法的测试调节系统，其特征在于，包括上位机、探头、数据采集模块、数据分析模块、数据计算模块、显示模块、调整模块，所述上位机的输出端连接探头的输入端，所述探头的输出端连接数据采集模块的输入端，所述数据采集模块的输出端连接数据分析模块的输入端，所述数据分析模块的输出端连接数据计算模块的输入端，所述数据计算模块的输出端连接显示模块的输入端，所述显示模块的输出端连接调整模块的输入端。2.根据权利要求1所述的一种基于AMOLEDGamma方法的测试调节系统，其特征在于：所述数据采集模块的输出端连接有存储模块。3.根据权利要求2所述的一种基于AMOLEDGamma方法的测试调节系统，其特征在于：所述存储模块的输出端与上位机的输入端连接。4.根据权利要求1所述的一种基于AMOLEDGamma方法的测试调节系统，其特征在于：所述数据分析模块包括数据输入模块、数据验证模块、数...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧阳生运，韦贺，
申请(专利权)人：深圳市帝晶光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：