痕量汞检测装置制造方法及图纸

技术编号:35209947 阅读:21 留言:0更新日期:2022-10-15 10:22
本公开提供一种痕量汞检测装置,其包括:汞灯,所述汞灯用于发出激发光;流通池,所述流通池内流动待检测的样品,所述汞灯发出的激发光照射至流通池的待检测的样品;以及光电倍增管,所述光电倍增管设置于所述流通池的侧部,以接收待检测的样品在激发光的激发下所产生的共振荧光;其中,所述汞灯与所述流通池之间设置有可调节焦距的透镜;所述流通池与光电倍增管之间设置有滤光片。增管之间设置有滤光片。增管之间设置有滤光片。

【技术实现步骤摘要】
痕量汞检测装置


[0001]本公开涉及一种痕量汞检测装置。

技术介绍

[0002]汞及其化合物的特有性质,在生产和生活领域得到广泛应用。工业活动也产生大量的汞污染物,也带来了严重的环境污染,并对生物造成了危害。汞的各种形态中以甲基汞和乙基汞毒性最大,极少量的甲基汞即可对人体造成严重的健康危害。国际上和我们国家对饮用水的含量限值为1ng/L,对应的检测方法要求检测设备对汞的绝对检出量要求达到0.5pg以下,这对分析仪器设备的设计提出了积大的挑战。
[0003]现有技术中的汞检测装置主要采用原子吸收光谱法,原子荧光光谱法,ICP

MS法(电感耦合等离子体质谱法)等原理来实现。
[0004]但是,这些装置的检测精度依然有限,为实现0.5pg以下的检出量的检测,有必要对检测装置进行进一步的改进。

技术实现思路

[0005]为了解决上述技术问题之一,本公开提供了一种痕量汞检测装置。
[0006]根据本公开的一个方面,提供了一种痕量汞检测装置,其包括:
[0007]汞灯,所述汞灯用于发出激发光;
[0008]流通池,所述流通池内流动待检测的样品,所述汞灯发出的激发光照射至流通池的待检测的样品;以及
[0009]光电倍增管,所述光电倍增管设置于所述流通池的侧部,以接收待检测的样品在激发光的激发下所产生的共振荧光;
[0010]其中,所述汞灯与所述流通池之间设置有可调节焦距的透镜;所述流通池与光电倍增管之间设置有滤光片。
[0011]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述汞灯被光源支架所保持。
[0012]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述光源支架沿其长度方向形成有孔,所述汞灯设置于所述光源支架的孔内。
[0013]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述光源支架的侧壁开设有螺纹孔,所述螺纹孔与所述孔连通,通过拧入所述螺纹孔的螺钉,将所述汞灯与所述光源支架固定。
[0014]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述光源支架的侧壁开设有出光口,所述汞灯所发出的激发光经过反射后,从所述出光口发出。
[0015]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述光源支架的至少一个侧壁设置有加热装置。
[0016]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述加热装置的外部设置有
保温层。
[0017]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述光源支架还设置有温度传感器。
[0018]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述光源支架上设置有透镜支架,所述透镜支架能够固定可调节焦距的透镜。
[0019]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述透镜支架远离所述光源支架的一端形成有通孔,所述透镜设置于所述透镜支架的通孔处,并且通过透镜压板将透镜和透镜支架相固定。
[0020]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述透镜和流通池之间设置有第一遮挡板,所述第一遮挡板设置有狭缝,经过透镜的激发光通过所述第一遮挡板的狭缝照射至所述流通池。
[0021]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述流通池被固定支架所保持。
[0022]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述固定支架内部形成容纳空间,所述流通池设置于所述固定支架的容纳空间内;其中,所述固定支架的一个侧壁形成有第一缝隙;所述固定支架的另一个侧壁形成有第二缝隙,所述一个侧壁和另一个侧壁相邻;激发光通过第一缝隙照射至所述流通池,所述共振荧光通过第二缝隙被所述光电倍增管所接收。
[0023]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述第一缝隙、第二缝隙和狭缝的长度方向均为竖直方向。
[0024]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,还包括上盖板和下盖板,所述上盖板设置于所述固定支架的上部,并覆盖所述固定支架的上部开口,所述下盖板设置于所述固定支架的下端,并覆盖所述固定支架的下部开口,其中,所述流通池的进液口穿过所述下盖板,所述流通池的出液口穿过所述上盖板。
[0025]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述上盖板设置有紫外光电二极管。
[0026]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述固定支架设置有第二遮挡板,所述第二遮挡板形成有狭缝,所述第二遮挡板的狭缝与所述第一缝隙对应,所述汞灯所发出的激发光穿过所述第二遮挡板的狭缝后,再通过第一缝隙照射入流通池。
[0027]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述光电倍增管通过支架部所支撑。
[0028]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述支架部的内部形成有容纳空间,所述光电倍增管的至少部分位于所述支架部的内部。
[0029]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述支架部的侧壁形成有通孔,所述支架部的通孔内设置有滤光片。
[0030]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,在所述支架部的侧壁上还设置有滤光片压板,所述滤光片压板用于将滤光片固定于所述支架部。
[0031]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述支架部和固定支架之间设置有导光通道,所述导光通道用于共振荧光的传输。
[0032]根据本公开的至少一个实施方式的痕量汞检测装置,所述汞灯为脉冲低压汞灯。
附图说明
[0033]附图示出了本公开的示例性实施方式,并与其说明一起用于解释本公开的原理,其中包括了这些附图以提供对本公开的进一步理解,并且附图包括在本说明书中并构成本说明书的一部分。
[0034]图1是根据本公开的一个实施方式的痕量汞检测装置的原理图。
[0035]图2是根据本公开的一个实施方式的痕量汞检测装置的结构示意图。
[0036]图3至图6是根据本公开的一个实施方式的汞灯和光源支架的不同角度的结构示意图。
[0037]图7至图9是根据本公开的一个实施方式的流通池和光电倍增管的不同角度的结构示意图。
[0038]图中附图标记具体为:
[0039]100
ꢀꢀ
痕量汞检测装置
[0040]110
ꢀꢀ
汞灯
[0041]120
ꢀꢀ
流通池
[0042]130
ꢀꢀ
光电倍增管
[0043]140
ꢀꢀ
透镜
[0044]150
ꢀꢀ
滤光片
[0045]160
ꢀꢀ
光源支架
[0046]161
ꢀꢀ

[0047]162
ꢀꢀ
螺纹孔
[0048]163
ꢀꢀ
出光口
[0049]164
ꢀꢀ
透镜支架
[0050]165
ꢀ本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种痕量汞检测装置,其特征在于,包括:汞灯,所述汞灯用于发出激发光;流通池,所述流通池内流动待检测的样品,所述汞灯发出的激发光照射至流通池的待检测的样品;以及光电倍增管,所述光电倍增管设置于所述流通池的侧部,以接收待检测的样品在激发光的激发下所产生的共振荧光;其中,所述汞灯与所述流通池之间设置有可调节焦距的透镜;所述流通池与光电倍增管之间设置有滤光片。2.如权利要求1所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述汞灯被光源支架所保持。3.如权利要求2所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述光源支架沿其长度方向形成有孔,所述汞灯设置于所述光源支架的孔内。4.如权利要求3所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述光源支架的侧壁开设有螺纹孔,所述螺纹孔与所述孔连通,通过拧入所述螺纹孔的螺钉,将所述汞灯与所述光源支架固定。5.如权利要求3所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述光源支架的侧壁开设有出光口,所述汞灯所发出的激发光经过反射后,从所述出光口发出。6.如权利要求3所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述光源支架的至少一个侧壁设置有加热装置。7.如权利要求6所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述加热装置的外部设置有保温层。8.如权利要求3所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述光源支架还设置有温度传感器。9.如权利要求2所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述光源支架上设置有透镜支架,所述透镜支架能够固定可调节焦距的透镜。10.如权利要求9所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述透镜支架远离所述光源支架的一端形成有通孔,所述透镜设置于所述透镜支架的通孔处,并且通过透镜压板将透镜和透镜支架相固定。11.如权利要求2所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述透镜和流通池之间设置有第一遮挡板,所述第一遮挡板设置有狭缝,经过透镜的激发光通过所述第一遮挡板的狭缝照射至所述流通池。12.如权利要求1所述的痕量汞检测装置,其特征在于,所述流通池被固定支架所保持。13.如权利要求12所述的痕量汞检测...

【专利技术属性】
技术研发人员:邵涛鲁明雷文敬张可欣
申请(专利权)人:天津众晟仪器有限公司
类型:新型
国别省市:

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