存储硬件的量产方法、装置、终端设备及计算机介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种存储硬件的量产方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质，包括：输出预设的量产指令至目标存储硬件对应的虚拟存储硬件；调用所述虚拟存储硬件内的量产固件执行所述量产指令并得到所述虚拟存储硬件的目标量产数据；读取所述虚拟存储硬件内的引导程序以加载所述虚拟存储硬件内的运行固件，并调用所述运行固件按照所述目标量产数据执行虚拟量产操作。如此，本发明专利技术达到了简化存储硬件出厂前的仿真测试流程并能够实现对存储硬件进行模拟量产操作的技术效果。进行模拟量产操作的技术效果。进行模拟量产操作的技术效果。

【技术实现步骤摘要】
存储硬件的量产方法、装置、终端设备及计算机介质


[0001]本专利技术涉及存储器
，尤其涉及一种存储硬件的量产方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]存储硬件是当前最常用的存储介质之一，广泛应用于个人电脑、服务器等计算机设备中。相应的，存储硬件在出厂前的量产操作也变得越来越重要。而当前存储硬件的量产操作主要为在基于VS(Microsoft Visual Studio
‑
微软视觉工作室)2007工具开发的仿真测试平台上，通过输入固态存储硬件的TCM(Tightly Coupled Memories
‑
紧耦合内存)数据、DDR(Double data rate
‑
双倍资料传输率)数据及运行坏块表等信息对存储硬件进行仿真测试，之后再依据仿真测试结果对存储硬件执行量产操作，如此，存储硬件的量产操作过程就相对复杂，且无法及时模拟出存储硬件在运行过程中出现的异常情况。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例通过提供一种存储硬件的量产方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质，旨在简化存储硬件出厂前的仿真测试流程并能够实现存储硬件的模拟量产操作。
[0004]本专利技术提供一种存储硬件的量产方法，所述存储硬件的量产方法包括以下步骤：
[0005]输出预设的量产指令至目标存储硬件对应的虚拟存储硬件；
[0006]调用所述虚拟存储硬件内的量产固件执行所述量产指令并得到所述虚拟存储硬件的目标量产数据；
[0007]读取所述虚拟存储硬件内的引导程序以加载所述虚拟存储硬件内的运行固件，并调用所述运行固件按照所述目标量产数据执行虚拟量产操作。
[0008]进一步地，在所述输出预设的量产指令至目标存储硬件对应的虚拟存储硬件的步骤之前，所述方法还包括：
[0009]获取目标存储硬件的目标拓补结构数据和所述目标存储硬件内各闪存的坏块状态数据；
[0010]基于所述目标拓补结构数据配置与所述目标存储硬件对应的虚拟存储硬件的虚拟拓补结构数据，和，基于各所述坏块状态数据配置所述虚拟存储硬件的各虚拟坏块状态数据。
[0011]进一步地，所述调用所述虚拟存储硬件内的量产固件执行所述量产指令并得到所述虚拟存储硬件的目标量产数据的步骤包括：
[0012]调用所述量产固件读取所述量产指令内预设的各量产参数，并基于所述虚拟拓补结构数据构建系统块，和，基于各所述虚拟坏块状态数据构建坏块表；
[0013]将各所述量产参数、所述系统块及所述坏块表输入至所述量产固件进行计算得到所述目标量产数据。
[0014]进一步地，所述读取所述虚拟存储硬件内的引导程序以加载所述虚拟存储硬件内的运行固件的步骤，包括：
[0015]通过所述目标量产数据读取所述虚拟存储硬件内的引导程序；
[0016]由所述引导程序加载所述虚拟存储硬件内的运行固件。
[0017]进一步地，所述通过所述目标量产数据读取所述虚拟存储硬件内的引导程序的步骤，包括：
[0018]对所述虚拟存储硬件模拟掉电操作；
[0019]调用仿真测试平台的额外线程模拟所述虚拟存储硬件的主控芯片以在所述虚拟存储硬件内的闪存中读取所述引导程序。
[0020]进一步地，所述方法包括：
[0021]基于仿真测试平台构建模拟量产工具，其中，所述模拟量产工具用于对所述目标存储硬件进行仿真测试操作，和对所述目标存储硬件对应的虚拟存储硬件进行虚拟量产操作。
[0022]进一步地，所述基于仿真测试平台构建模拟量产工具的步骤，包括：
[0023]调用所述仿真测试平台的第一线程模拟所述目标存储硬件的常规量产操作，同时，调用所述仿真测试平台的第二线程模拟所述虚拟存储硬件；
[0024]将所述第一线程与所述第二线程进行交互得到所述模拟量产工具。
[0025]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种存储硬件的量产装置，所述装置包括：
[0026]程序构建模块：用于输出预设的量产指令至目标存储硬件对应的虚拟存储硬件；
[0027]虚拟量产模块：用于调用所述虚拟存储硬件内的量产固件执行所述量产指令并得到所述虚拟存储硬件的目标量产数据；
[0028]固件运行模块：用于读取所述虚拟存储硬件内的引导程序以加载所述虚拟存储硬件内的运行固件，并调用所述运行固件按照所述目标量产数据执行虚拟量产操作。
[0029]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种终端设备，所述终端设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的存储硬件的量产程序，所述处理器执行所述存储硬件的量产程序时实现如上述中的存储硬件的量产方法的步骤。
[0030]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有存储硬件的量产程序，所述存储硬件的量产程序被处理器执行时实现如上述中的存储硬件的量产方法的步骤。
[0031]本专利技术实施例提供的存储硬件的量产方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质，通过输出预设的量产指令至目标存储硬件对应的虚拟存储硬件；调用所述虚拟存储硬件内的量产固件执行所述量产指令并得到所述虚拟存储硬件的目标量产数据；读取所述虚拟存储硬件内的引导程序以加载所述虚拟存储硬件内的运行固件，并调用所述运行固件按照所述目标量产数据执行虚拟量产操作。
[0032]在本实施例中，终端设备在运行的过程中，首先通过基于仿真测试平台构建的模拟量产工具，并通过所述模拟量产工具输出预设的量产指令至目标存储硬件在所述仿真测试平台上对应的虚拟存储硬件内，该终端设备调用该虚拟存储硬件内的量产固件执行该量产指令并得到该虚拟存储硬件的目标量产数据，之后，该模拟量产工具该虚拟存储硬件内的闪存中读取预设的引导程序，由该引导程序加载并运行该虚拟存储硬件内的运行固件以
按照该目标量产数据执行虚拟量产操作。
[0033]如此，本专利技术通过在仿真测试平台上构建模拟量产工具，由该模拟量产工具输出量产指令至目标存储硬件对应的虚拟存储硬件以得到该虚拟存储硬件的目标量产数据，并基于该目标量产数据加载该虚拟存储硬件内的运行固件的方式，无需进行输入固态存储硬件的TCM数据、DDR数据及运行坏块表等信息才能完成仿真测试，达到了简化存储硬件出厂前的仿真测试流程并能够实现对存储硬件进行模拟量产操作的技术效果。
附图说明
[0034]图1是本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的终端设备的结构示意图；
[0035]图2为本专利技术存储硬件的量产方法一实施例的流程示意图；
[0036]图3为本专利技术存储硬件的量产方法一实施例涉及步骤S20的细化流程示意图；
[0037]图4为本专利技术存储硬件的量产方法一实施例涉及步骤S30的细化流程示意图；
[0038]图5为本专利技术存储硬件的量产方法一实施例涉及的功能模块示意图。
[0039]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储硬件的量产方法，其特征在于，所述存储硬件的量产方法包括以下步骤：输出预设的量产指令至目标存储硬件对应的虚拟存储硬件；调用所述虚拟存储硬件内的量产固件执行所述量产指令并得到所述虚拟存储硬件的目标量产数据；读取所述虚拟存储硬件内的引导程序以加载所述虚拟存储硬件内的运行固件，并调用所述运行固件按照所述目标量产数据执行虚拟量产操作。2.如权利要求1所述的存储硬件的量产方法，其特征在于，在所述输出预设的量产指令至目标存储硬件对应的虚拟存储硬件的步骤之前，所述方法还包括：获取目标存储硬件的目标拓补结构数据和所述目标存储硬件内各闪存的坏块状态数据；基于所述目标拓补结构数据配置与所述目标存储硬件对应的虚拟存储硬件的虚拟拓补结构数据，和，基于各所述坏块状态数据配置所述虚拟存储硬件的各虚拟坏块状态数据。3.如权利要求2所述的存储硬件的量产方法，其特征在于，所述调用所述虚拟存储硬件内的量产固件执行所述量产指令并得到所述虚拟存储硬件的目标量产数据的步骤包括：调用所述量产固件读取所述量产指令内预设的各量产参数，并基于所述虚拟拓补结构数据构建系统块，和，基于各所述虚拟坏块状态数据构建坏块表；将各所述量产参数、所述系统块及所述坏块表输入至所述量产固件进行计算得到所述目标量产数据。4.如权利要求1所述的存储硬件的量产方法，其特征在于，所述读取所述虚拟存储硬件内的引导程序以加载所述虚拟存储硬件内的运行固件的步骤，包括：通过所述目标量产数据读取所述虚拟存储硬件内的引导程序；由所述引导程序加载所述虚拟存储硬件内的运行固件。5.如权利要求4所述的存储硬件的量产方法，其特征在于，所述通过所述目标量产数据读取所述虚拟存储硬件内的引导程序的步骤，包括：对...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘颖彪，吴大畏，李晓强，
申请(专利权)人：深圳市硅格半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：