一种地砖平整度控制盒尺制造技术

本实用新型专利技术属于房建施工技术领域，具体涉及一种地砖平整度控制盒尺。包括：基座和垂直设置于基座上表面两侧的测量尺，基座上下表面相互平行且均为平面，测量尺上延其延伸方向设置有刻度线；测量尺上设置有滑动块，滑动块可在测量尺上往复运动，滑动块的前部设置有校对开口，校对开口用于读取测量尺上的刻度，滑动块的背部设置有水平槽，水平槽内安装有划线片，水平槽和校对开口处于同一水平线上；基座的两端设置有吸盘。本实用新型专利技术具有小、轻、巧、方便等特点，在施工现场可随意拖动测量地砖平整度，对大面积地砖实测实量平整度更为准确、简便。简便。简便。

【技术实现步骤摘要】
一种地砖平整度控制盒尺


[0001]本技术属于房建施工
，具体涉及一种地砖平整度控制盒尺。

技术介绍

[0002]山西运城市途瑞通科研楼是我公司近两年开工的工程，依托运城市途瑞通科研楼工程，针对室内大面积铺砖工程，尤其是会议室、开放办公区域面积多达300平方米。
[0003]现有传统的控制地砖平整度的工具，大都是采用激光仪照射于墙体面上，根据激光点进行地面铺砖，大平米的铺砖若仅有激光点，极易出现偏差，地面倾斜的情况发生。

技术实现思路

[0004]本技术克服了现有技术存在的不足，提供了一种地砖平整度控制盒尺。
[0005]为了解决上述技术问题，本技术采用的技术方案为：一种地砖平整度控制盒尺，包括：基座和垂直设置于基座上表面两侧的测量尺，所述基座上下表面相互平行且均为平面，测量尺上延其延伸方向设置有刻度线；
[0006]所述测量尺上设置有滑动块，滑动块可在测量尺上往复运动，所述滑动块的前部设置有校对开口，校对开口用于读取测量尺上的刻度，所述滑动块的背部设置有水平槽，水平槽内安装有划线片，所述水平槽和校对开口处于同一水平线上；
[0007]所述基座的两端设置有吸盘。
[0008]更进一步的，所述基座两端的侧壁上设置有连接管，连接管为L型中空结构，所述连接管的侧壁上设置有行程轨道。
[0009]更进一步的，所述吸盘设置于连接管的底部，吸盘的上端设置有控制杆，所述控制杆穿过行程轨道，可在行程轨道内上下往复运动，从而带动吸盘吸附于面砖上。
[0010]更进一步的，所述基座上设置有安装槽，安装槽垂直截面为凸字形，所述测量尺从安装槽的开口处插入，安装槽两侧的壁面上均设置有夹持件用于对测量尺插入安装槽的部分进行夹持。
[0011]更进一步的，所述夹持件包括弹簧和限位板，弹簧的一端与基座的内侧壁连接，所述限位板设置于弹簧的另一端。
[0012]更进一步的，所述基座上表面的中部横向设置有气泡水平仪。
[0013]更进一步的，所述基座为矩形结构，其材质采用pvc软性材料，避免在基座底面接触面砖时，对面砖的表面产生划痕。
[0014]更进一步的，所述测量尺采用钢性材质，其厚度为10mm。
[0015]更进一步的，所述在水平气泡仪和测量尺之间、基座的上表面设置有储物空间，可用于存放缝卡，便于施工人员取用。
[0016]本技术与现有技术相比具有的有益效果是：
[0017]1、本技术具有小、轻、巧、方便等特点，在施工现场可随意拖动测量地砖平整度，对大面积地砖实测实量平整度更为准确、简便。
[0018]2、本技术通过滑动块、测量尺、校对开口和划线片之间的相互配合，在铺设面砖前期，精准确定基准点，以为后期铺设提供坚实的基础。
附图说明
[0019]下面结合附图对本技术做进一步的说明。
[0020]图1为本技术的结构示意图；
[0021]图2为本技术滑动块的俯视图；
[0022]图3为本技术图2A
‑
A的剖视图；
[0023]图4为本技术基座安装槽的剖视图；
[0024]图5为本技术连接管的侧视图。
[0025]图中：1为基座，2为测量尺，3为刻度线，4为滑动块，5为校对开口，6为水平槽，7为划线片，8为吸盘，9为连接管，91为行程轨道，10为控制杆，11为安装槽，12为弹簧，13为限位板，14为气泡水平仪。
具体实施方式
[0026]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0027]本技术提供一种地砖平整度控制盒尺，请参阅附图1，包括：基座1和垂直设置于基座1上表面两侧的测量尺2，基座1为矩形结构，基座1上下表面相互平行且均为平面，基座1材质采用pvc软性材料避免在基座底面接触面砖时，对面砖的表面产生划痕，基座1上表面的中部横向设置有气泡水平仪14，基座1的两端设置有吸盘8；测量尺2上延其延伸方向设置有刻度线3，测量尺2采用钢性材质，其厚度为10mm。
[0028]请参阅附图1
‑
图3，测量尺2上设置有滑动块4，滑动块4可在测量尺2上往复运动，滑动块4的前部设置有校对开口5，校对开口5用于读取测量尺2上的刻度，滑动块4的背部设置有水平槽6，水平槽内安装有划线片7，划线片7由碳酸钙和硫酸钙制成，水平槽6和校对开口5处于同一水平线上。
[0029]请参阅附图1和图5，基座1两端的侧壁上设置有连接管9，连接管9为L型中空结构，连接管9的侧壁上设置有行程轨道91，吸盘8设置于连接管9的底部，吸盘8的上端设置有控制杆10，控制杆10穿过行程轨道91，可在行程轨道91内上下往复运动，从而带动吸盘8吸附于面砖上，本技术在测量时，与面砖接触易出现滑动，可通过向上抬起控制杆10的外端,使控制杆10的内端对吸盘中部进行压制实现与面砖的吸附。
[0030]请参阅附图4，基座1上设置有安装槽11，安装槽11垂直截面为凸字形，测量尺2从安装槽11的开口处插入，安装槽11两侧的壁面上均设置有夹持件用于对测量尺2插入安装槽11的部分进行夹持，夹持件包括弹簧12和限位板13，弹簧12的一端与基座1的内侧壁连接，限位板13设置于弹簧12的另一端，通过在基座1上设置安装槽，可根据施工现场情况更换测量尺2的长度，同时将测量尺2设定为10mm，一方面滑动块4往复运动更为平稳，另一方面测量尺2底部与安装槽11的内底壁接触稳定，不易出现晃动。
[0031]本技术安装流程如下：
[0032]1、本技术使用之前，室内抹灰墙面已设定50建筑线；2、采用红外仪发射激光线，至测量尺的刻度线上，施工人员通过调整滑动块，读取校对开口的刻度线，因水平槽和校对开口处于同一水平线上，测量尺背部的划线片可对抹灰墙面精准划线，划线后该点作为基准点，根据基准点铺贴200*200小方砖，此时小方砖表面高度为建筑
±
0，表面平整度误差为0；3、再将高精度红外仪放置于小方砖上，找平投射激光，此时可用精度尺测量地面至激光线的高度H，也可采用本技术进行高度测量；4、开始铺设结合层，其为40mm，结合层为沙子和水泥材质，铺设完成后，采用本盒尺测量结合层的四个角（此处结合层的四个角指小块结合层的四个角），读数与(H
‑
1)CM允许误差2mm（H
‑
1中的1指面砖的厚度），因结合层为软性材质可出现2mm误差；5、铺贴面砖，铺设完成后将本技术放置于面砖上，通过红外仪投射激光至刻度线，测量面砖四个角的误差，读数与高度H允许误差为0，也就是说铺设面砖后，面砖上表面与H齐平。
[0033]上面结合附图对本技术的实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种地砖平整度控制盒尺，其特征在于，包括：基座（1）和垂直设置于基座（1）上表面两侧的测量尺（2），所述基座（1）上下表面相互平行且均为平面，测量尺（2）上延其延伸方向设置有刻度线（3）；所述测量尺（2）上设置有滑动块（4），滑动块（4）可在测量尺（2）上往复运动，所述滑动块（4）的前部设置有校对开口（5），校对开口（5）用于读取测量尺（2）上的刻度，所述滑动块（4）的背部设置有水平槽（6），水平槽内安装有划线片（7），所述水平槽（6）和校对开口（5）处于同一水平线上；所述基座（1）的两端设置有吸盘（8）。2.根据权利要求1所述的一种地砖平整度控制盒尺，其特征在于，所述基座（1）两端的侧壁上设置有连接管（9），连接管（9）为L型中空结构，所述连接管（9）的侧壁上设置有行程轨道（91）。3.根据权利要求2所述的一种地砖平整度控制盒尺，其特征在于，所述吸盘（8）设置于连接管（9）的底部，吸盘（8）的上端设置有控制杆（10），所述控制杆（10）穿过行程轨道（91），可...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨浩，宋伟，杨国锋，路宁，杨超，杨环，周翔，
申请(专利权)人：山西四建集团有限公司，
类型：新型
国别省市：