激光雷达实际探测距离测量的方法、系统、电子设备及存储介质技术方案

本发明专利技术技术方案提供了一种激光雷达实际探测距离测量的方法、系统、电子设备及存储介质，该方法包括：获取被测物体的距离测试值和信号强度值；根据被测物体的距离测试值和信号强度值，匹配相应的函数系数；将距离测试值、信号强度值和函数系数代入实际距离输出函数，计算得到被测物体的实际距离值。采用此技术方案，可以使得不同的激光雷达采用同一个实际输出距离函数模型，从而能够减少对每一台激光雷达的效准过程，提高生产效率、减小测试误差。减小测试误差。减小测试误差。

【技术实现步骤摘要】
激光雷达实际探测距离测量的方法、系统、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及激光雷达
，特别涉及一种激光雷达实际探测距离测量的方法、系统、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在激光雷达探测中，由于现场测量的距离往往与实际距离有偏差，因此在采集到激光雷达的测量数据后，需要对该测量数据进行处理，才能得到现实世界中的实际距离。
[0003]然而，目前对激光雷达数据的处理是在固定的环境下，采用最小二乘法、多项式等拟合方法，对被测物体的距离测试值、信号强度值得到的点列进行拟合，得到实际距离与距离测试值及信号强度值之间的实际距离输出函数，由于不同的激光雷达个体对应不同的实际距离输出函数，因此需要对每一台生产的激光雷达重复上述流程，继而导致生产效率低和测试误差大的问题出现。

技术实现思路

[0004]以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
[0005]本专利技术实施例提供了一种激光雷达实际探测距离测量的方法、系统、电子设备及存储介质，能够实时更新输出距离的运算模型参数，提高生产效率、减小测试误差。
[0006]第一方面，本专利技术实施例提供了一种激光雷达实际探测距离测量的方法，包括：
[0007]获取被测物体的距离测试值和信号强度值；
[0008]根据所述被测物体的所述距离测试值和所述信号强度值，匹配相应的函数系数；
[0009]将所述距离测试值、所述信号强度值和所述函数系数代入实际距离输出函数，计算得到所述被测物体的实际距离值。
[0010]第二方面，本专利技术实施例提供了一种计算激光雷达实际探测距离测量的系统，包括：
[0011]雷达探测距离模块，用于获取被测物体的距离测试值；
[0012]信号强度模块，用于获取所述被测物体的信号强度值；
[0013]数据库管理模块，用于根据所述被测物体的所述距离测试值和所述信号强度值，匹配相应的函数系数；
[0014]计算模块，用于将所述距离测试值、所述信号强度值和所述函数系数代入实际距离输出函数，计算得到所述被测物体的实际距离值。
[0015]第三方面，本专利技术实施例提供了一种电子设备，所述电子设备包括处理器、存储器，以及一个或多个程序，所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被配置由所述处理器执行，所述程序被处理器执行实现上述第一方面的激光雷达实际探测距离测量的方法。
[0016]第四方面，本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述第一方面的激光雷达实际探测距离的方法。
[0017]本专利技术实施例至少包括以下有益效果：通过增加随环境、被测物体材质变化的实时信号强度信息与实际输出距离函数系数的对应关系，将激光雷达不同的距离测试值与信号强度值对应不同的实际输出距离函数系数，根据被测物体的距离测试值与信号强度值为索引，匹配函数运算模型数据库中对应的函数系数，通过参数传递得到实际的距离值，并且在一定范围内不同的测试距离值及信号强度值与不同的实际输出距离函数系数一一对应，可以使得不同的激光雷达采用同一个实际输出距离函数模型，从而能够减少对每一台激光雷达的效准过程，提高生产效率、减小测试误差。
附图说明
[0018]图1为本专利技术实施例中一种激光雷达实际探测距离测量的方法流程图。
[0019]图2为本专利技术实施例中一种激光雷达实际探测距离测量的方法结构框图。
[0020]图3为本专利技术实施例中一种函数运算模型数据库的结构框图。
[0021]图4为本专利技术实施例中一种激光雷达实际探测距离测量的系统示意图。
[0022]图5为本专利技术实施例中一种电子设备的结构图。
具体实施方式
[0023]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0024]需要理解的是，如果在说明书和权利要求书及上述附图中涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0025]需要说明的是，至少一个的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述道第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
[0026]参照图1，为本专利技术实施例提供的一种激光雷达实际探测距离测量的方法流程图，包括但不限于以下步骤：
[0027]步骤S100：获取被测物体的距离测试值和信号强度值。
[0028]需要说明的是，本专利技术是针对飞行时间TOF测量原理的激光雷达所设计的，激光雷达测距系统在极高的同步时钟下，以均匀的时间间隔发射激光，激光束遇到被测物体时会反射回来，在扫描传感器接收到发射回来的光束后，由于激光飞行的速度v已知，激光飞行的往返时间也已知，因此可以通过发射和接收的时间差Δt(激光飞行往返时间的一半)来计算从激光传感器到被测物体之间的距离S＝v
×
Δt。在理想情况下被测物体与扫描传感
器之间的距离只与激光束的返回时间相关，但是在实际测量中由于被测物体的材质、反射面的粗糙度和光路介质等因素都会对测量距离有影响。由于本专利技术适用于测距相对较短的任务，因此主要考虑被测物体的材质和激光束的返回时间这两种因素与实际距离之间的相互关系。
[0029]具体地，本专利技术实施例由主程序驱动并由非直接访问存储区的函数运算模型数据库支持实现，主程序包括五个模块分别为雷达探测模块、信号强度模块、非直接访问存储器驱动模块、数据管理模块和非直接访问存储区完成模块，主程序在运行过程中通过调用数据库管理模块来访问函数运算模型数据库。其中，主程序首先调用雷达探测距离模块获取距离测试值，这里的距离测试值及上述的Δt，再调用信号强度模块来获取被测物体的信号强度值。需要说明的是，在激光雷达采集系统中信号强度值为以时间为单位长度的脉冲宽度值，不同的反射材质对应不同的信号强度即不同的脉冲宽度值：被测物体从完全吸光到低反射到高反射再到全反射，分别与同一点被测物体的由0到最宽的脉冲宽度相互对应。在本专利技术实施例中，共选了10种材质从低反射到高反射再到全反射的物体作为测试样本，完全吸光无反射的材质不作测试，在不同的测试点将低反射到高反射再到全反射测试到的脉冲宽度值分别定义为1到10，在这里不对分类标准作任何限定。
[0030]步骤S200：根据被测物体的距离测试值和信号强度值，匹配相应的函本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光雷达实际探测距离测量的方法，其特征在于，包括：获取被测物体的距离测试值和信号强度值；根据所述被测物体的所述距离测试值和所述信号强度值，匹配相应的函数系数；将所述距离测试值、所述信号强度值和所述函数系数代入实际距离输出函数，计算得到所述被测物体的实际距离值。2.根据权利要求1所述的激光雷达实际探测距离测量的方法，其特征在于，所述根据所述被测物体的所述距离测试值和所述信号强度值，匹配相应的函数系数，包括：对所述距离测试值进行取整运算，根据所述取整运算的结果确定数组的分段标签；根据所述数组标签，对所述取整运算的结果进行取余运算；基于单位长度对所述取余运算的结果进行取整运算，确定第一数组下标；基于单位长度对所述信号强度值进行取整运算，确定第二数组下标；根据所述第一数组下标和所述第二数组下标，获取所述函数系数。3.根据权利要求2所述的激光雷达实际探测距离测量的方法，其特征在于，所述对所述距离测试值进行取整运算，根据所述取整运算的结果确定数组的分段标签，包括：根据所述数组的分段标签选取对应的数值，将所述数值作为除数对所述距离测试值进行取整运算；对所述取整运算的结果进行过滤，根据所述过滤结果确定所述数组的分段标签；其中，所述分段标签用于指向所述函数系数所在的数组。4.根据权利要求2所述的激光雷达实际探测距离测量的方法，其特征在于，所述基于单位长度对所述取余运算的结果进行取整运算，确定第一数组下标，包括：将所述单位长度作为除数对所述取余运算的结果进行取整运算，确定所述取整运算的结果为第一数组下标。5.根据权利要求1所述的激光雷达实际探测距离测量的方法，其特征在于，在所述获取被测物体的距离测试值和信号强度值之后，还包括：获取访问权限，基于所述访问...

【专利技术属性】
技术研发人员：高瑞，张建洪，李志坚，程娟，
申请(专利权)人：珠海市睿特光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：