一种磁刺激设备治疗头异常的检测方法技术

一种磁刺激设备治疗头异常的检测方法，采用温度检测电路检测治疗头的温度，采用以下方法判断治疗头是否异常：S1:每次治疗开始时，读取LM35的数字温度T

【技术实现步骤摘要】
一种磁刺激设备治疗头异常的检测方法


[0001]本专利技术涉及磁刺激治疗设备，特别涉及磁刺激治疗头在工作中发生故障后产生异常的检测方法，属于医疗器械


技术介绍

[0002]磁刺激设备（行业推荐标准YY/T0994
‑
2015）是利用高压储能电容对磁场线圈进行瞬间放电产生脉冲磁场作用于神经系统产生刺激的设备。其原理是根据电磁感应定律，通过给高压储能电容充电，在极短的时间内向刺激线圈放电，强大的电流在线圈周围产生瞬间变化的磁场，诱发人体外周神经感应电场和电流，实现无痛、无损、无侵害的感应式刺激。这种磁场可无阻碍，无屏蔽的穿过肢体表面，在肢体内部控制神经诱发感应电场和电流，达到刺激和兴奋肢体内部神经的目的。目前市场上存在的激光磁治疗仪，输出强度大，设备复杂，随着使用时间老化或保养不到位，治疗头异常后如不能及时检测，会造成设备损坏，危及用户使用安全。目前的治疗头异常主要是以下几种情况：一是治疗头线圈在高压脉冲放电时，会产生大量热，一般需要制冷装置对其降温，需要对其进行温度检测，保证治疗头工作在正常温度范围内，若制冷装置发生异常无法散热时，不能及时检测或提示就会损坏线圈，甚至烫伤医护人员，二是磁刺激设备中治疗头线圈与放电电容之间不是直接连接的，需要通过专用接插件固定，由于设备老化或环境因素，导致接插件松动、锈蚀，造成治疗头线圈无法正常工作，这会导致治疗失败，严重情况下可能引起电气事故；三是其它硬件如电路异常导致的治疗头异常。按照行业规定标准，在治疗过程中治疗头温度不能超过41℃，通过在治疗头上安装温度传感器对器温度进行检测，然后传输到MCU进行识别控制是常用的温控方式，但由于治疗头在工作过程产生强磁场，还有受到一些环境因素的影响（如在医疗间内的其它相关设备的影响、环境磁场、环境电场等），这会对治疗头的温度监控产生很大的干扰，使温度检测出现很大“假象”。如温度超温报警时实际温度并不高，再如温度超温时也不报警提示等无法保证设备、治疗人员安全的现象，可靠性较差，所以针对这类设备，应该有一种更为可靠的方法。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于针对现有的磁刺激治疗设备发生的上述异常问题，提供一种磁刺激设备治疗头异常的检测方法。
[0004]为实现本专利技术的目的，采用了下述的技术方案：一种磁刺激设备治疗头异常的检测方法，采用温度检测电路检测治疗头的温度，所述的温度检测电路包括LM35温度传感器，LM35温度传感器的输出端经过电阻R40连接至MCU进行模数转换， LM35的输出端连接电阻R15，电阻R15串联电阻R13后接地，LA2284驱动电路板的8脚输入端连接在电阻R15与电阻R13之间，LA2284驱动电路板的5个输出端PD10、PD11、PD12、PD13、PD14连接至MCU，LA2284驱动电路板的5个输出端PD10、PD11、PD12、PD13、PD14均通过一个10K的电阻连接+5V电源，LM35温度传感器的输出端通过电阻R39连接+3.3V电源，LA2284驱动电路板的9脚连接+5V电
源，LA2284驱动电路板的9脚连接相互并联的电容C32、电阻R16后接地；LM35的输出端与接地之间接有一级滤波电容C23；LA2284驱动电路板的输入端有接地之间接有二级滤波电容C31；采用以下方法判断治疗头是否异常：S1: 每次治疗开始时，读取LM35的数字温度T
d0
和模拟温度T
a0
，比较数字温度T
d0
是否在模拟温度的范围内；若数字温度T
d0
和模拟温度T
a0
之差的绝对值小于等于10，认为数字温度T
d0
是在模拟温度的范围内，认为硬件连接正常，进行步骤S2；如若数字温度T
d0
和模拟温度T
a0
之差的绝对值大于10，则认为数字温度T
d
不在模拟温度的范围内，认为硬件发生故障； S2：治疗头工作过程中，每个固定周期T采集一次模拟温度和数字温度，其中T=0.5s，i次获取的温度模拟温度和数字温度值分别是T
ai 和T
di
，i>2，判断数据是否符合下式（1）、式（2）关系：∣Tdi－Tai∣≤10
ꢀꢀꢀꢀꢀ
式（1）∣Tdi－Td(i
‑
1)∣≤3
ꢀꢀ
式（2） 若全部符合式（1）、式（2）的关系，则继续进行温度采集；如不符合式（1）、式（2）中任一个关系，则将该次采集数据作为异常点丢弃，记录丢弃的异常点的数据的个数N和序号N
i ，当丢弃的异常点数据个数N=6时，计算丢弃速率Va=6/（N
1 +N
2 +N3+N4+N5‑
5N0‑
9）；若Va＞1/2，则认为硬件异常，提示故障；若Va＜1/2，则将本次的6个异常点数据丢弃，等到下一次异常点数据达到达到6个时重新计算Va；Va＜1/2的情况下，进行步骤S3；S3：对温度数据进行均值处理，将第i次测得的温度值T
di
前2两次温度值T
d（i
‑
2）
和T
d（i
‑
1）
进行均值处理，获得均值温度T
i
=（T
di
+ T
d（i
‑
2）
+ T
d（i
‑
1）
）/3；S4:对均值温度进行补偿修正后温度值Tci；补偿修正过程如下：温度T
i
‑
3 、T
i
‑
2 T
i
‑
1、
是分别为第i
‑
3、i
‑
2、i
‑
1次记录的数字温度，
△
V
i
‑2、
ꢀ△
V
i
‑1分别是这两次温度的变化率；
△
V
i
‑2= （T
i
‑2－T
i
‑3）/T；
△
V
i
‑1= （T
i
‑1－T
i
‑2）/T；变化速度a0=（
△
V
i
‑2－
△
V
i
‑1）/T；当前温度变化率为
△
V
i
，当前温度理论值为T
i
’
；
△
V
i
= （T
i
’
－ T
i
‑1）/T；当前的变化速度为a，a= a0+ a
t
，其中a
t
温度变化补偿值，其大小为：大于等于10℃小于20℃为0.1
‑
0.25，大于等于20℃小于30℃为0.2
‑
0.35，大于等于30℃小于40℃为0.3本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁刺激设备治疗头异常的检测方法，采用温度检测电路检测治疗头的温度，其特征在于：所述的温度检测电路包括LM35温度传感器，LM35温度传感器的输出端经过电阻R40连接至MCU进行模数转换， LM35的输出端连接电阻R15，电阻R15串联电阻R13后接地，LA2284驱动电路板的8脚输入端连接在电阻R15与电阻R13之间，LA2284驱动电路板的5个输出端PD10、PD11、PD12、PD13、PD14连接至MCU，LA2284驱动电路板的5个输出端PD10、PD11、PD12、PD13、PD14均通过一个10K的电阻连接+5V电源，LM35温度传感器的输出端通过电阻R39连接+3.3V电源，LA2284驱动电路板的9脚连接+5V电源，LA2284驱动电路板的9脚连接相互并联的电容C32、电阻R16后接地；LM35的输出端与接地之间接有一级滤波电容C23；LA2284驱动电路板的输入端有接地之间接有二级滤波电容C31；采用以下方法判断治疗头是否异常：S1: 每次治疗开始时，读取LM35的数字温度T
d0
和模拟温度T
a0
，比较数字温度T
d0
是否在模拟温度的范围内；若数字温度T
d0
和模拟温度T
a0
之差的绝对值小于等于10，认为数字温度T
d0
是在模拟温度的范围内，认为硬件连接正常，进行步骤S2；如若数字温度T
d0
和模拟温度T
a0
之差的绝对值大于10，则认为数字温度T
d
不在模拟温度的范围内，认为硬件发生故障； S2：治疗头工作过程中，每个固定周期T采集一次模拟温度和数字温度，其中T=0.5s，i次获取的温度模拟温度和数字温度值分别是T
ai 和T
di
，i>2，判断数据是否符合下式（1）、式（2）关系：∣Tdi－Tai∣≤10
ꢀꢀꢀꢀꢀ
式（1）∣Tdi－Td(i
‑
1)∣≤3
ꢀꢀ
式（2） 若全部符合式（1）、式（2）的关系，则继续进行温度采集；如不符合式（1）、式（2）中任一个关系，则将该次采集数据作为异常点丢弃，记录丢弃的异常点的数据的个数N和序号N
i ，当丢弃的异常点数据个数N=6时，计算丢弃速率：Va=6/（N
1 +N
2 +N3+N4+N5‑
5N0‑
9）；若Va＞1/2，则认为硬件异常，提示故障；若Va＜1/2，则将本次的6个异常点数据丢弃，等到下一次异常点数据达到达到6个时重新计算Va；Va＜1/2的情况下，进行步骤S3；S3：对温度数据进行均值处理，将第i次测得的温度值T
di
前2两次温度值T
d（i
‑
2）
和T
d（i
‑
1）
进行均值处理，获得均值温度T
i
=（T<...

【专利技术属性】
技术研发人员：何永正，王晓磊，李媛媛，
申请(专利权)人：河南翔宇医疗设备股份有限公司，
类型：发明
国别省市：