【技术实现步骤摘要】
一般地说，本专利技术涉及计算断层分析(CT)成象，而更具体地说，涉及在多片CT系统中的检测器结构和图象再现。在至少一个已知的CT系统结构中，X射线源发射一扇形束，对准在笛卡儿坐标系统的X-Y平面(一般称为“成象平面”)中的位置。该X-射线束通过被成象的物体，比如病人。经过物体衰减后，该射线束射在辐射检测器的阵列上。在检测阵列上接收的衰减后的射线束的强度依赖于物体对X射线束的衰减。阵列的每一检测器单元产生一分离的电信号，这是在该检测器位置上射线束衰减的量度。分别获得自所有检测器的衰减量以产生传输剖面图。在已知的第三代CT系统中，用成象平面中的台架在被成象物体的周转旋转X射线源和检测器阵列，所以X射线束横切物体的角度不断地变化。将自一个台架角度的检测器阵列的一组X射线衰减测量，即，投影数据，叫做一个“视图”。物体的“扫描”包括在X射线源和检测器旋期间在不同的台架角上所做的一组视图。在轴扫描中，处理投影数据以建立一图象，它对应于通过物体取出的两维片。从一组投影数据再现图象的一种方法在现有技术中叫做反向滤波投影技术。这种方法将自扫描得来的衰减测量转换为叫作“CT数”或“H单...
【技术保护点】
一种用于获得在断层扫描中产生物体的断层图象的数据测量信号的系统，包括检测器阵列，该检测器阵列包括：至少一个连接检测器单元通路；和至少一个非连接检测器单元通路；所述的连接检测器单元通路包括至少一个检测器单元，提供一个数据测量信号， 所述的非连接检测器单元通路包括至少两个检测器单元，提供至少两个数据测量信号。
【技术特征摘要】
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