电子设备、转动部件的转动状态判定方法及程序技术

本发明专利技术提供一种能够以高精度进行转动部件的转动状态的判定的电子设备、转动部件的转动状态判定方法及程序。摄像装置(10)的第二磁场检测元件(H2)的第二检测面(S2)与如下状态的假想面(S)平行，即，使与第一磁场检测元件(H1)的第一检测面(S1)平行的假想面(S)绕沿X方向延伸的Xa轴和绕沿Y方向延伸的Ya轴旋转后的状态。Y方向是第一转动轴(J1)所延伸的方向。X方向是第二转动轴(J2)所延伸的方向。X方向是第二转动轴(J2)所延伸的方向。X方向是第二转动轴(J2)所延伸的方向。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】电子设备、转动部件的转动状态判定方法及程序


[0001]本专利技术涉及一种电子设备、转动部件的转动状态判定方法及程序。

技术介绍

[0002]专利文献1中公开有一种电子设备，所述电子设备能够利用磁传感器进行显示部的状态检测，小型且容易组装。电子设备具有：显示部，能够相对于主体部向以第1轴为中心的第1方向及以第2轴为中心的第2方向转动；磁铁，产生磁场；第1传感器，根据磁场检测与第1方向相关的显示部的第1状态；第2传感器，根据磁场检测与第2方向相关的显示部的第2状态；第3传感器，根据磁场检测显示部的第3状态；及控制部，根据第1状态、第2状态及第3状态控制显示部的显示状态。专利文献2中公开有如下内容，即，在具备可动式显示部的电子设备中，能够在避免大型化的情况下对显示部的开闭进行磁性检测及使开闭检测角度的设计容易。电子设备具备显示部能够通过铰链部相对于设备主体部向开闭方向转动的可动部。磁铁配置于铰链部的附近，开闭传感器通过检测磁铁的磁场来检测可动部的开闭。磁铁的磁化方向是与可动部的开闭轴垂直的方向，开闭传感器检测与开闭轴垂直的方向的磁场，控制部获取开闭本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种电子设备，其具备：主体；转动部件，能够相对于所述主体向以第一转动轴为中心的第一转动方向及以第二转动轴为中心的第二转动方向转动；磁场产生体；第一磁场检测元件，用于检测来自所述磁场产生体的磁场；第二磁场检测元件，用于检测来自所述磁场产生体的磁场；及处理器，根据基于所述第一磁场检测元件及所述第二磁场检测元件的磁场的检测状态，判定所述转动部件的转动状态是第一状态、第二状态及第三状态中的哪一个，所述第二磁场检测元件的检测面与如下状态的平行于所述第一磁场检测元件的检测面的假想面平行，即，使所述假想面绕沿第一方向延伸的第一轴和绕沿与所述第一方向相交的第二方向延伸的第二轴旋转后的状态，所述第一方向和所述第二方向均为沿着所述假想面的方向，所述第一方向是所述第一转动轴所延伸的方向，所述第二方向是所述第二转动轴所延伸的方向。2.根据权利要求1所述的电子设备，其中，所述第一转动轴与所述第二转动轴正交。3.根据权利要求2所述的电子设备，其中，所述第一磁场检测元件的检测面的垂线与所述第一转动轴及所述第二转动轴正交。4.根据权利要求1至3中任一项所述的电子设备，其中，所述磁场产生体设置于所述转动部件，所述第一磁场检测元件及所述第二磁场检测元件设置于所述主体。5.根据权利要求1至4中任一项所述的电子设备，其中，所述第一转动方向是所述转动部件相对于所述主体的开闭方向，所述第二转动方向是所述转动部件相对于所述主体的旋转方向，所述第一状态是所述转动部件相对于所述主体关闭的状态，所述第二状态是所述转动部件相对于所述主体打开的状态，所述第三状态是所述转动部件相对于所述主体打开且已旋转的状态。6.根据权利要求1至5中任一项所述的电子设备，其中，所述转动部件是显示部。7.根据权利要求6所述的电子设备，其还具备摄像元件。8.一种转动状态判定方法，其为电子设备中的转动部件的转动状态判定方法，所述电子设备具有：主体；所述转动部件，能够相对于所述主体向以第一转动轴为中心的第一转动方向及以第二转动轴为中心的第二转动方向转动；磁场产生体；第一磁场检测元件，用于检测来自所述磁场产生体的磁场；及第二磁场检测元件，用于检测来自所述磁场产生体的磁场，所述转动状态判定方法中，所述第二磁场检测元件的检测面与如下状态的平行于所述第一磁场检测元件的检测面的假想面平行，即，使所述假想面绕沿第一方向延伸的第一轴和绕沿与所述第一方向相
交的第二方向延伸的...

【专利技术属性】
技术研发人员：今村贤司，
申请(专利权)人：富士胶片株式会社，
类型：发明
国别省市：