旋转式回转体器件全表面检测光学系统技术方案

本实用新型专利技术公开了旋转式回转体器件全表面检测光学系统，包括机架、以及设于机架上的第一检测机构、第二检测机构、第三检测机构、第四检测机构、第五检测机构和第六检测机构，机架在电子元件移动方向上设有第一检测工位、第二检测工位、第三检测工位和第四检测工位，第一检测机构设于第一检测工位旁，第二检测机构设于第二检测工位旁，第三检测机构为若干个，各第三检测机构在第三检测工位的周侧上间隔设置，第四检测机构设于第三检测工位下方，所述第五检测机构设于第四检测工位的周侧旁，第六检测机构设于第四检测工位上方。其通过设于各检测工位旁的若干检测机构，实现电子元件移动过程中的多角度检测，检测精度高。检测精度高。检测精度高。

【技术实现步骤摘要】
旋转式回转体器件全表面检测光学系统


[0001]本技术涉及检测设备，尤其涉及旋转式回转体器件全表面检测光学系统。

技术介绍

[0002]电子元件是电路的基本元素，为了确保电路的可靠性，需对电子元件进行检测。现有的检测设备应用的光学系统的检测角度单一，难以对电子元件进行全方位检测、检测精度低。

技术实现思路

[0003]为了解决现有的检测设备应用的光学系统的检测角度单一，难以对电子元件进行全方位检测、检测精度低的技术问题，本技术的目的在于提供旋转式回转体器件全表面检测光学系统。
[0004]本技术是通过以下技术方案实现的：
[0005]旋转式回转体器件全表面检测光学系统，用于检测电子元件的外表面，包括机架、以及设于所述机架上的第一检测机构、第二检测机构、第三检测机构、第四检测机构、第五检测机构和第六检测机构，所述机架在电子元件的移动方向上依次设有第一检测工位、第二检测工位、第三检测工位和第四检测工位，
[0006]所述第一检测机构，其设于第一检测工位的周侧旁，可在水平方向上获取移经第一检测工位的电子元件的图像；
[0007]所述第二检测机构，其设于第二检测工位的周侧旁，可在与竖直面呈夹角的方向上获取移经第二检测工位的电子元件的图像；
[0008]所述第三检测机构为若干个，各所述第三检测机构在第三检测工位的周侧上间隔设置，各所述第三检测机构可在水平方向上获取移经第三检测工位的电子元件的图像；
[0009]所述第四检测机构，其设于第三检测工位下方，可在竖直面上自下而上获取移经第三检测工位的电子元件的图像；
[0010]所述第五检测机构，其设于第四检测工位的周侧旁，可在水平方向上获取移经第四检测工位的电子元件的图像；
[0011]所述第六检测机构，其设于第四检测工位上方，可在竖直面上自上而下获取移经第四检测工位的电子元件的图像。
[0012]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统，所述第一检测机构包括自所述机架竖直向上延伸的第一支撑柱、可沿所述第一支撑柱上下滑动的第一滑座以及设于所述第一滑座上的第一摄像头；
[0013]所述第二检测机构包括设置在所述机架上的第二支撑柱、可沿所述第二支撑柱上下移动的第二滑座以及转动连接在所述第二滑座上的第二摄像头；
[0014]所述第三检测机构包括自所述机架竖直向上延伸的第三支撑柱、可沿所述第三支撑柱上下滑动的第三滑座以及设于所述第三滑座上的第三摄像头；
[0015]所述第四检测机构包括设置在所述机架下侧的第四支撑柱、以及设置在所述第四支撑柱上的第四摄像头，所述机架于所述第四摄像头的上方开设有至少部分与所述第四摄像头相对的透光通孔；
[0016]所述第五检测机构包括自所述机架竖直向上延伸的第五支撑柱、可沿所述第五支撑柱上下滑动的第五滑座以及设于所述第五滑座上的第五摄像头；
[0017]所述第六检测机构包括自所述机架竖直向上延伸的第六支撑柱、可沿所述第六支撑柱上下滑动的第六滑座、可沿所述第六滑座左右滑动的第七支撑柱以及设于所述第七支撑柱上的第七摄像头。
[0018]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统，所述第一支撑柱上设有上下延伸的第一量尺；
[0019]和/或所述第二支撑柱上设有上下延伸的第二量尺；
[0020]和/或所述第三支撑柱上设有上下延伸的第三量尺；
[0021]和/或所述第五支撑柱上设有上下延伸的第五量尺；
[0022]和/或所述第六支撑柱上设于上下延伸的第六量尺；
[0023]和/或所述第七支撑柱上设于左右延伸的第七量尺。
[0024]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统，所述第二摄像头上设有调节杆，所述第二滑座上开设有供所述调节杆伸入的第一调节通孔、以及自所述第一调节通孔内壁延伸至所述第二滑座外周侧的第一调节槽，所述第二滑座于所述第一调节槽上设有将所述调节杆锁紧在所述第一调节通孔内的第一锁紧杆。
[0025]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统，所述第六滑座上开设有供所述第六支撑柱伸入的第二调节通孔、供所述第七支撑柱伸入的第三调节通孔、自所述第二调节通孔内壁延伸至所述第六滑座外周侧的第二调节槽、以及自所述第三调节通孔内壁延伸至所述第六滑座外周侧的第三调节槽，所述第六滑座于所述第二调节槽上设有将所述第六支撑柱锁紧在所述第二调节通孔内的第二锁紧杆，所述第六滑座于所述第三调节槽上设有将所述第七支撑柱锁紧在所述第三调节通孔内的第三锁紧杆。
[0026]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统，所述第二检测机构为2个，两所述第二检测机构分设在第二检测工位的相对两侧。
[0027]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统，所述第五检测机构为2个，两所述第五检测机构分设在第四检测工位的相对两侧。
[0028]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统，各所述第三检测机构在第三检测工位的周侧方向上等距分布，任两相邻的所述第三检测机构朝第三检测工位投射的光束的夹角为60
°
。
[0029]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统，所述第一检测机构下端设有第一底座，所述第一底座上开设有第一长孔，所述第一长孔内设有可沿其滑动并可将其锁紧在所述机架上的第一紧固件，所述第一紧固件沿所述第一长孔滑动时所述第一检测机构移动靠近或远离第一检测工位；
[0030]和/或所述第二检测机构下端设有第二底座，所述第二底座上开设有第二长孔，所述第二长孔内设有可沿其滑动并可将其锁紧在所述机架上的第二紧固件，所述第二紧固件沿所述第二长孔滑动时所述第二检测机构移动靠近或远离第二检测工位；
[0031]和/或所述第三检测机构下端设有第三底座，所述第三底座上开设有第三长孔，所述第三长孔内设有可沿其滑动并可将其锁紧在所述机架上的第三紧固件，所述第三紧固件沿所述第三长孔滑动时所述第三检测机构移动靠近或远离第三检测工位；
[0032]和/或所述第五检测机构下端设有第五底座，所述第五底座上开设有第五长孔，所述第五长孔内设有可沿其滑动并可将其锁紧在所述机架上的第五紧固件，所述第五紧固件沿所述第五长孔滑动时所述第五检测机构移动靠近或远离第四检测工位；
[0033]和/或所述第六检测机构下端设有第六底座，所述第六底座上开设有第六长孔，所述第六长孔内设有可沿其滑动并可将其锁紧在所述机架上的第六紧固件，所述第六紧固件沿所述第六长孔滑动时所述第六检测机构移动靠近或远离第四检测工位。
[0034]与现有技术相比，本技术具有如下优点：
[0035]本技术通过设于各检测工位旁的若干检测机构，实现电子元件移动过程中的多角度检测，检测精度高。
【附图说明】
[0036]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
[0037]图1为本技术实施例旋转式本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.旋转式回转体器件全表面检测光学系统，用于检测电子元件的外表面，其特征在于，包括机架、以及设于所述机架上的第一检测机构、第二检测机构、第三检测机构、第四检测机构、第五检测机构和第六检测机构，所述机架在电子元件的移动方向上依次设有第一检测工位、第二检测工位、第三检测工位和第四检测工位，所述第一检测机构，其设于第一检测工位的周侧旁，可在水平方向上获取移经第一检测工位的电子元件的图像；所述第二检测机构，其设于第二检测工位的周侧旁，可在与竖直面呈夹角的方向上获取移经第二检测工位的电子元件的图像；所述第三检测机构为若干个，各所述第三检测机构在第三检测工位的周侧上间隔设置，各所述第三检测机构可在水平方向上获取移经第三检测工位的电子元件的图像；所述第四检测机构，其设于第三检测工位下方，可在竖直面上自下而上获取移经第三检测工位的电子元件的图像；所述第五检测机构，其设于第四检测工位的周侧旁，可在水平方向上获取移经第四检测工位的电子元件的图像；所述第六检测机构，其设于第四检测工位上方，可在竖直面上自上而下获取移经第四检测工位的电子元件的图像。2.根据权利要求1所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统，其特征在于，所述第一检测机构包括自所述机架竖直向上延伸的第一支撑柱、可沿所述第一支撑柱上下滑动的第一滑座以及设于所述第一滑座上的第一摄像头；所述第二检测机构包括设置在所述机架上的第二支撑柱、可沿所述第二支撑柱上下移动的第二滑座以及转动连接在所述第二滑座上的第二摄像头；所述第三检测机构包括自所述机架竖直向上延伸的第三支撑柱、可沿所述第三支撑柱上下滑动的第三滑座以及设于所述第三滑座上的第三摄像头；所述第四检测机构包括设置在所述机架下侧的第四支撑柱、以及设置在所述第四支撑柱上的第四摄像头，所述机架于所述第四摄像头的上方开设有至少部分与所述第四摄像头相对的透光通孔；所述第五检测机构包括自所述机架竖直向上延伸的第五支撑柱、可沿所述第五支撑柱上下滑动的第五滑座以及设于所述第五滑座上的第五摄像头；所述第六检测机构包括自所述机架竖直向上延伸的第六支撑柱、可沿所述第六支撑柱上下滑动的第六滑座、可沿所述第六滑座左右滑动的第七支撑柱以及设于所述第七支撑柱上的第七摄像头。3.根据权利要求2所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统，其特征在于，所述第一支撑柱上设有上下延伸的第一量尺；和/或所述第二支撑柱上设有上下延伸的第二量尺；和/或所述第三支撑柱上设有上下延伸的第三量尺；和/或所述第五支撑柱上设有上下延伸的第五量尺；和/或所述第六支撑柱上设于上下延伸的第六量尺；和/或所述第七支撑柱上设于左右延伸的第七量尺。4.根据权利要求2所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统，其特征在于，所述第
二摄像头上设有调节杆，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘骏，张啸宇，
申请(专利权)人：深圳宇骏视觉智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：