一种电路板生产测试工装制造技术

本申请实施例提供一种电路板生产测试工装，能实现批量程序烧录与功能测试，结构简单，设备利用率高。所述工装包括录测组件、承载组件与下压组件；所述录测组件包括调试箱体、设置在所述调试箱体内的JTAG程序烧录调试器、JTAG集线器以及固定设置在所述调试箱体上表面的测试探针接口板；所述JTAG程序烧录调试器通过所述JTAG集线器与所述测试探针接口板上的多个测试探针连接；所述承载组件设置在调试箱体上表面，包括承载定位板与多个弹性立柱；所述承载定位板承载所述待烧录PCBA板，设置有多个导引孔；所述下压组件推动所述承载定位板靠近所述调试箱体，使多个所述测试探针通过相应的多个所述导引孔与所述待烧录PCBA板中的所述测试引脚接触。所述测试引脚接触。所述测试引脚接触。

【技术实现步骤摘要】
一种电路板生产测试工装


[0001]本申请一个或多个实施例涉及电路板加工
，尤其涉及一种电路板生产测试工装。

技术介绍

[0002]在PCBA电路板生产制造过程中，有时为了提高PCB板材的利用率和提高PCB贴片焊接的效率，会对PCB进行拼板制造及拼板贴片焊接。拼板上包含若干功能相同PCBA单元。这就涉及到对这些拼板上包含多个PCBA单元中芯片进行批量程序烧录以及功能测试的问题。一些相关技术方案中，通过USB扩展采用多个程序烧烧写器同时对多个PCBA进行程序烧录，这种方式需要设置多个程序烧录器，设备利用率低；或者采用继电器或多路选择开关构建选通控制电路，轮流对多个PCBA进行程序烧录，这种方式设置专用的信号切换控制电路，大大增加了工装线路复杂性。并且，现有的程序烧录工装功能单一，无法同时实现烧录与测试功能。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本申请一个或多个实施例的目的在于提出一种电路板生产测试工装，能同时满足批量程序烧录与功能测试的需求，结构简单，设备利用率高。
[0004]基于上述目的，本申请一个或多个实施例提供了一种电路板生产测试工装，包括录测组件、承载组件与下压组件；
[0005]所述录测组件包括调试箱体、设置在所述调试箱体内的JTAG程序烧录调试器、JTAG集线器以及固定设置在所述调试箱体上表面的测试探针接口板；
[0006]其中，所述JTAG程序烧录调试器通过所述JTAG集线器与所述测试探针接口板上的多个测试探针连接，所述测试探针用于与待烧录PCBA板的测试引脚接触形成电气连接；
[0007]所述承载组件包括与所述调试箱体上表面平行设置的承载定位板以及设置在所述承载定位板与所述调试箱体之间的多个弹性立柱；
[0008]其中，所述承载定位板承载所述待烧录PCBA板，在所述承载定位板中设置有多个导引孔，多个所述导引孔与所述测试探针接口板上的多个所述测试探针相对应；
[0009]所述下压组件推动所述承载定位板靠近所述调试箱体，使多个所述测试探针通过相应的多个所述导引孔与所述待烧录PCBA板中的所述测试引脚接触。
[0010]可选的，所述JTAG集线器包括多个集线接口与多个扩展接口；
[0011]所述JTAG程序烧录调试器通过所述JTAG集线器与所述测试探针接口板上的多个测试探针连接，包括：
[0012]所述JTAG程序烧录调试器的多个JTAG端口与所述JTAG集线器的多个所述集线接口连接；
[0013]所述JTAG集线器的多个扩展接口与多个所述测试探针连接；
[0014]在所述JTAG集线器中，多个所述集线接口与多个所述扩展接口之间采用菊链的电
气连接形式进行线路扩展。
[0015]可选的，所述JTAG集线器的多个所述集线接口包括TDI集线接口、TDO集线接口、TCK集线接口与TMS集线接口；
[0016]所述JTAG集线器的多个扩展接口分为多个接口组，多个所述接口组分别用于与多个所述待烧录PCBA板连接；
[0017]所述接口组包括TDI扩展接口、TDO扩展接口、TCK扩展接口与TMS扩展接口；
[0018]所述多个所述集线接口与多个所述扩展接口之间采用菊链的电气连接形式进行线路扩展，包括：
[0019]所述TCK集线接口分别与多个所述接口组中的所述TCK扩展接口连接，多个所述TCK扩展接口并联；
[0020]所述TMS集线接口分别与多个所述接口组中的所述TMS扩展接口连接，多个所述TMS扩展接口并联；
[0021]所述TDI集线接口、所述TDO集线接口与多个所述接口组中的所述TDI扩展接口、所述TDO扩展接口采用级联方式连接。
[0022]可选的，所述接口组中的所述TDI扩展接口与所述TDO扩展接口之间设置有常闭开关；
[0023]所述常闭开关在所述TDI扩展接口及所述TDO扩展接口对应的所述测试探针与所述待烧录PCBA板的测试引脚接触后断开。
[0024]可选的，所述承载定位板在远离所述调试箱体的一侧设置有阵列排布的多个定位槽；
[0025]所述定位槽用于放置所述待烧录PCBA板。
[0026]可选的于，所述承载定位板中的多个所述导引孔为锥形通孔，其上出口孔径小于下出口孔径。
[0027]可选的，所述下压组件包括气动驱动装置、用于安装所述气动驱动装置的固定背板以及用于支撑所述固定背板的两支撑立柱；
[0028]所述支撑立柱的下端与所述调试箱体的上表面固定连接，上端与所述固定背板固定连接，两所述支撑立柱与所述固定背板构成龙门结构；
[0029]所述气动驱动装置用于驱动顶杆在竖直方向上往复运动，所述顶杆下端与水平设置的压板固定连接。
[0030]可选的，所述下压组件还包括电磁阀，所述电磁阀用于控制所述气动驱动装置。
[0031]可选的，所述压板为柔性压板。
[0032]从上面所述可以看出，本申请一个或多个实施例提供的所述电路板生产测试工装，具有如下有益技术效果：
[0033](1)在所述电路板生产测试工装中，所述JTAG程序烧录调试器作为程序烧录器，通过多个测试探针与待烧录PCBA板的多个测试引脚电气连接，可以将用户程序下载烧录至所述待烧录PCBA板芯片中，满足程序烧录需求，同时所述JTAG程序烧录调试器还可以通过多个所述测试引脚访问到所述待烧录PCBA板芯片内部的信号逻辑状态信息，进而可以根据信号逻辑状态信息实现对待烧录PCBA板功能检测的需求。
[0034](2)采用JTAG集线器作为JTAG程序烧录调试器与多个待烧录PCBA板的中间件，对
JTAG程序烧录调试器进行线路扩展，在实现对多个待烧录PCBA板进行批量程序烧录与功能测试的同时还能够减少线路数量，简化线路结构。
[0035](3)用于承载待烧录PCBA板的所述承载定位板设置在所述测试探针接口板上方，其上设置有与多个测试探针相对应的多个导引孔，当所述承载定位板受下压组件施压靠近所述调试箱体运动时，所述测试探针接口板上的多个所述测试探针可以在相应的多个所述导引孔的引导下，穿过导引孔与所述承载定位板所承载的待烧录PCBA板的测试引脚准确稳定接触。在所述承载定位板中利用导引孔引导测试探针与测试引脚的准确接触，保证工装长时间工作的电气连接稳定性，可以避免长时间工作测试探针磨损及形变可能造成的接触不良的问题。
附图说明
[0036]为了更清楚地说明本申请一个或多个实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请一个或多个实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0037]图1为本申请一个或多个实施例所提供的一种电路板生产测试工装结构示意图；
[0038]图2为本申请一个或多个实施例所提供的一种电路板生产测试工装中所述JTAG集本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路板生产测试工装，其特征在于，包括录测组件、承载组件与下压组件；所述录测组件包括调试箱体、设置在所述调试箱体内的JTAG程序烧录调试器、JTAG集线器以及固定设置在所述调试箱体上表面的测试探针接口板；其中，所述JTAG程序烧录调试器通过所述JTAG集线器与所述测试探针接口板上的多个测试探针连接，所述测试探针用于与待烧录PCBA板的测试引脚接触形成电气连接；所述承载组件包括与所述调试箱体上表面平行设置的承载定位板以及设置在所述承载定位板与所述调试箱体之间的多个弹性立柱；其中，所述承载定位板承载所述待烧录PCBA板，在所述承载定位板中设置有多个导引孔，多个所述导引孔与所述测试探针接口板上的多个所述测试探针相对应；所述下压组件推动所述承载定位板靠近所述调试箱体，使多个所述测试探针通过相应的多个所述导引孔与所述待烧录PCBA板中的所述测试引脚接触。2.根据权利要求1所述的生产测试工装，其特征在于，所述JTAG集线器包括多个集线接口与多个扩展接口；所述JTAG程序烧录调试器通过所述JTAG集线器与所述测试探针接口板上的多个测试探针连接，包括：所述JTAG程序烧录调试器的多个JTAG端口与所述JTAG集线器的多个所述集线接口连接；所述JTAG集线器的多个扩展接口与多个所述测试探针连接；在所述JTAG集线器中，多个所述集线接口与多个所述扩展接口之间采用菊链的电气连接形式进行线路扩展。3.根据权利要求2所述的生产测试工装，其特征在于，所述JTAG集线器的多个所述集线接口包括TDI集线接口、TDO集线接口、TCK集线接口与TMS集线接口；所述JTAG集线器的多个扩展接口分为多个接口组，多个所述接口组分别用于与多个所述待烧录PCBA板连接；所述接口组包括TDI扩展接口、TDO扩展接口、...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯庐，
申请(专利权)人：北京中宸微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：