用于射线检查的成像系统和方法技术方案

本发明专利技术涉及用于射线检查的成像系统和方法。一种用于射线检查的成像系统包括：检查区域，包括成像区域；第一射线源组件，其所有第一靶点布置在第一射线源平面内；第一探测器组件，其多个第一探测器单元布置在探测器平面内，探测器平面与第一射线源平面沿被检查对象的行进方向间隔开预定距离；和射线源控制装置，其构造成当被检查对象的感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时，使得第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线，在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中，每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖成像区域，并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。测器晶体互相不重合。测器晶体互相不重合。

【技术实现步骤摘要】
用于射线检查的成像系统和方法


[0001]本专利技术涉及透视成像
，特别是涉及一种用于射线检查的成像系统。

技术介绍

[0002]CT(计算机断层成像)扫描系统广泛应用于医疗、安检和工业等领域。CT扫描生成三维扫描图像并且具有高识别能力。根据在扫描过程中射线源相对于被检查对象的运动，现有的CT扫描系统可以包括动态螺旋CT扫描系统和静态CT扫描系统。
[0003]在现有的CT扫描系统中，不管是动态螺旋CT扫描系统和静态CT扫描系统，通常射线源的X射线发射范围需要覆盖整个被检查对象，即对被检查对象整体进行扫描和成像，并且这些CT扫描系统在同一时刻只有单个靶点发射X射线。例如，现有的静态CT扫描系统可以是采用单个分布式射线源和一套探测器系统，或者可以采用多个分布式射线源和共用的一套探测器系统。但是，同一套探测器系统在同一时刻只能接收来自一个靶点的X射线。因此，这些CT扫描系统的扫描速度受限于动态螺旋扫描中采用的滑环的旋转速度和射线源的射线发射频率。在静态CT扫描系统中，扫描速度同样受限于射线源的射线发射频率。但是在一些应用场景中，需要关注的只有被检查对象的感兴趣区域(Region of Interest，ROI)，而且对于扫描速度要求较高，例如对活体进行ROI成像。为了提高CT扫描系统的采样频率，通常只能增加额外的探测器系统，但是这样就会大大增加CT扫描系统的尺寸和成本。
[0004]为此，需要一种改进的成像系统和方法。

技术实现思路

[0005]本专利技术的一个目的是提供一种能够仅扫描感兴趣区域的成像系统和方法。本专利技术的一个目的是提供一种能够提高出束频率的成像系统和方法。本专利技术的一个目的是提供一种能够减小设备尺寸和成本的成像系统和方法。本专利技术的一个目的是提供一种能够更好地解决CT内问题的成像系统和方法。本专利技术的一个目的是提供一种能够降低散射信号影响的成像系统和方法。
[0006]本专利技术的一方面提供一种用于射线检查的成像系统，包括：检查区域，其中被检查对象能够进入检查区域，检查区域包括成像区域，被检查对象的感兴趣区域能够进入成像区域，感兴趣区域是被检查对象的局部区域；第一射线源组件，用于发射X射线，其中，第一射线源组件包括多个分布式射线源，每个分布式射线源包括多个第一靶点，第一射线源组件的所有第一靶点布置在第一射线源平面内；第一探测器组件，用于接收从第一射线源组件发射并透射经过成像系统的成像区域的X射线，其中，第一探测器组件包括多个第一探测器单元，每个第一探测器单元包括多个第一探测器晶体，多个第一探测器单元布置在探测器平面内，探测器平面与第一射线源平面沿被检查对象的行进方向间隔开预定距离；和射线源控制装置，其构造成当感兴趣区域至少部分地位于成像区域中时，使得第一射线源组件的多个分布式射线源在同一时刻从至少两个第一靶点同时向成像区域发射X射线，其中，在第一射线源组件的同时向成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中，每个第一靶点的
射线发射范围都能够覆盖成像区域，并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
[0007]根据本专利技术的某些实施例，成像系统还包括承载装置，用于承载被检查对象，其中，成像系统构造成使得第一射线源组件和第一探测器组件能够相对于承载装置沿行进方向移动，从而被检查对象的感兴趣区域能够进入成像区域。
[0008]根据本专利技术的某些实施例，承载装置构造成能够沿行进方向传送被检查对象。
[0009]根据本专利技术的某些实施例，承载装置还构造成能够调整被检查对象的感兴趣区域相对于成像区域的位置，使得被检查对象的感兴趣区域位于成像区域内。
[0010]根据本专利技术的某些实施例，成像区域位于第一射线源平面与第一探测器组件的远离第一射线源组件的外侧边缘之间，其中成像区域被限定为足以容纳感兴趣区域。
[0011]根据本专利技术的某些实施例，成像区域被限定为具有中心轴线的圆柱形区域。
[0012]根据本专利技术的某些实施例，行进方向与中心轴线基本上平行。
[0013]根据本专利技术的某些实施例，探测器平面与第一射线源平面彼此平行。
[0014]根据本专利技术的某些实施例，沿行进方向观察，第一射线源组件的多个分布式射线源构造成围绕成像区域具有大于180度的组合延伸角度。
[0015]根据本专利技术的某些实施例，第一射线源组件的多个分布式射线源构造成完整地围绕成像区域延伸以组成第一射线源环。
[0016]根据本专利技术的某些实施例，第一射线源组件的每个第一靶点的射线发射范围选择为不足以覆盖检查区域。
[0017]根据本专利技术的某些实施例，第一射线源组件的每个第一靶点都设置成沿行进方向朝着第一探测器组件的第一探测器单元偏转第一偏转角度。
[0018]根据本专利技术的某些实施例，第一偏转角度在1度到5度之间。
[0019]根据本专利技术的某些实施例，沿行进方向观察，第一射线源组件构造成能够相对于承载装置在预定范围内转动，以调整被检查对象的感兴趣区域相对于成像区域的位置，使得被检查对象的感兴趣区域位于成像区域内。
[0020]根据本专利技术的某些实施例，第一射线源组件还包括至少一个第二靶点，第二靶点的射线发射范围经选择能够覆盖检查区域，其中，射线源控制装置还构造成：当第一射线源组件的第一靶点发射X射线时使得第二靶点不发射X射线，并且当第一射线源组件的第二靶点发射X射线时使得第一靶点不发射X射线。
[0021]根据本专利技术的某些实施例，第一射线源组件包括多个第二靶点，其中，射线源控制装置构造成使得第一射线源组件在同一时刻从至少两个第二靶点同时向检查区域发射X射线，其中，在第一射线源组件的同时向检查区域发射X射线的至少两个第二靶点中，任两个第二靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。
[0022]根据本专利技术的某些实施例，沿行进方向观察，第一探测器组件设置成位于第一射线源组件的径向内侧。
[0023]根据本专利技术的某些实施例，第一探测器组件构造成完整地围绕成像区域延伸以组成探测器环。
[0024]根据本专利技术的某些实施例，第一探测器组件的第一探测器单元包括单排第一探测器晶体或多排第一探测器晶体。
[0025]根据本专利技术的某些实施例，成像系统还包括第二探测器组件，用于接收从被检查对象散射的X射线，其中，第二探测器组件包括多个第二探测器单元，每个第二探测器单元包括多个第二探测器晶体。
[0026]根据本专利技术的某些实施例，第二探测器组件的多个第二探测器单元与第一探测器组件的多个第一探测器单元对应设置。
[0027]根据本专利技术的某些实施例，成像系统还包括遮挡件，遮挡件布置成使得第二探测器单元不接收从第一射线源组件发射的直射X射线。
[0028]根据本专利技术的某些实施例，沿行进方向，每个第二探测器单元的第二探测器晶体与对应的第一探测器单元的第一探测器晶体布置成间隔开，以使得第二探测器单元不接收从第一射线源组件发射的直射X射线。
[0029]根据本专利技术的某些实施例，每个第二探测器单元本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于射线检查的成像系统，包括：检查区域，其中被检查对象能够进入所述检查区域，所述检查区域包括成像区域，所述被检查对象的感兴趣区域能够进入所述成像区域，所述感兴趣区域是所述被检查对象的局部区域；第一射线源组件，用于发射X射线，其中，所述第一射线源组件包括多个分布式射线源，每个分布式射线源包括多个第一靶点，所述第一射线源组件的所有第一靶点布置在第一射线源平面内；第一探测器组件，用于接收从所述第一射线源组件发射并透射经过所述成像系统的所述成像区域的X射线，其中，所述第一探测器组件包括多个第一探测器单元，每个第一探测器单元包括多个第一探测器晶体，所述多个第一探测器单元布置在探测器平面内，所述探测器平面与所述第一射线源平面沿所述被检查对象的行进方向间隔开预定距离；和射线源控制装置，其构造成当所述感兴趣区域至少部分地位于所述成像区域中时，使得所述第一射线源组件在同一时刻从至少两个第一靶点同时向所述成像区域发射X射线，其中，在所述第一射线源组件的同时向所述成像区域发射X射线的至少两个第一靶点中，每个第一靶点的射线发射范围都能够覆盖所述成像区域，并且任两个第一靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。2.根据权利要求1所述的成像系统，还包括承载装置，用于承载所述被检查对象，其中，所述成像系统构造成使得所述第一射线源组件和所述第一探测器组件能够相对于所述承载装置沿所述行进方向移动，从而所述被检查对象的感兴趣区域能够进入所述成像区域。3.根据权利要求2所述的成像系统，其中，所述承载装置构造成能够沿所述行进方向传送所述被检查对象。4.根据权利要求2或3所述的成像系统，其中，所述承载装置还构造成能够调整所述被检查对象的感兴趣区域相对于所述成像区域的位置，使得所述被检查对象的感兴趣区域位于所述成像区域内。5.根据权利要求1或2所述的成像系统，其中，所述成像区域位于所述第一射线源平面与所述第一探测器组件的远离所述第一射线源组件的外侧边缘之间，其中所述成像区域被限定为足以容纳所述感兴趣区域。6.根据权利要求5所述的成像系统，其中，所述成像区域被限定为具有中心轴线的圆柱形区域。7.根据权利要求6所述的成像系统，其中，所述行进方向与所述中心轴线基本上平行。8.根据权利要求1或2所述的成像系统，其中，所述探测器平面与所述第一射线源平面彼此平行。9.根据权利要求1或2所述的成像系统，其中，沿所述行进方向观察，所述第一射线源组件的多个分布式射线源构造成围绕所述成像区域具有大于180度的组合延伸角度。10.根据权利要求9所述的成像系统，其中，所述第一射线源组件的多个分布式射线源构造成完整地围绕所述成像区域延伸以组成第一射线源环。11.根据权利要求1或2所述的成像系统，其中，所述第一射线源组件的每个第一靶点的射线发射范围选择为不足以覆盖所述检查区域。12.根据权利要求1或2所述的成像系统，其中，所述第一射线源组件的每个第一靶点都
设置成沿所述行进方向朝着所述第一探测器组件的第一探测器单元偏转第一偏转角度。13.根据权利要求12所述的成像系统，其中，所述第一偏转角度在1度到5度之间。14.根据权利要求2或3所述的成像系统，其中，沿所述行进方向观察，所述第一射线源组件构造成能够相对于所述承载装置在预定范围内转动，以调整所述被检查对象的感兴趣区域相对于所述成像区域的位置，使得所述被检查对象的感兴趣区域位于所述成像区域内。15.根据权利要求11所述的成像系统，其中，所述第一射线源组件还包括至少一个第二靶点，所述第二靶点的射线发射范围经选择能够覆盖所述检查区域，其中，所述射线源控制装置还构造成：当所述第一射线源组件的所述第一靶点发射X射线时使得所述第二靶点不发射X射线，并且当所述第一射线源组件的所述第二靶点发射X射线时使得所述第一靶点不发射X射线。16.根据权利要求15所述的成像系统，其中，所述第一射线源组件包括多个第二靶点，其中，所述射线源控制装置构造成使得所述第一射线源组件在同一时刻从至少两个第二靶点同时向所述检查区域发射X射线，其中，在所述第一射线源组件的同时向所述检查区域发射X射线的至少两个第二靶点中，任两个第二靶点的射线发射范围对应的第一探测器晶体互相不重合。17.根据权利要求2或3所述的成像系统，其中，沿所述行进方向观察，所述第一探测器组件设置成位于所述第一射线源组件的径向内侧。18.根据权利要求17所述的成像系统，其中，所述第一探测器组件构造成完整地围绕所述成像区域延伸以组成探测器环。19.根据权利要求18所述的成像系统，其中，所述第一探测器组件的第一探测器单元包括单排第一探测器晶体或多排第一探测器晶体。20.根据权利要求17所述的成像系统，还包括第二探测器组件，用于接收从所述被检查对象散射的X射线，其中，所述第二探测器组件包括多个第二探测器单元，每个第二探测器单元包括多个第二探测器晶体。21.根据权利要求20所述的成像系统，其中，所述第二探测器组件的多个第二探测器单元与所述第一探测器组件的多个第一探测器单元对应设置。22.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈志强，张丽，金鑫，杨洪恺，许晓飞，赵振华，张思远，陈昶羽，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：