集成电路与用于集成电路的温度传感器的操作方法技术

本公开提供一种集成电路，包含存储器及具有温度传感器的周边电路，温度传感器用于自动地调整操作电压。温度传感器包含用于产生取决于集成电路的操作温度的温度相依电压(TDV)的第一电路，及用于基于或大于程序码而产生多个温度参考电压的第二电路。一或多个比较器电路将多个参考电压中的个别参考电压与TDV进行比较，以产生指示集成电路的操作温度的一或多个比较信号。比较信号。比较信号。

【技术实现步骤摘要】
集成电路与用于集成电路的温度传感器的操作方法


[0001]本公开是关于可用于集成电路内的温度传感器。

技术介绍

[0002]在包括存储器装置的许多集成电路中，各种电路组件(诸如电路中的存储器阵列单元)以受芯片温度影响的方式表现。期望提供适合于在集成电路上实施以提供温度信息的电路，且使用此信息来调整集成电路上的电路的操作参数(诸如存储器阵列的操作电压)。

技术实现思路

[0003]为减少存储器操作上的温度效应的缺点，温度感测组件设置于集成电路存储器系统上。温度感测组件电适合于其他用途。
[0004]描述一种集成电路，其包含用于产生响应于集成电路的操作温度的变化而改变的温度相依电压(TDV)的第一电路。集成电路的存储器储存一或多个程序码。集成电路还包含用于基于一或多个程序码而产生多个温度参考电压的第二电路。在一实例中，温度参考电压响应于集成电路的操作温度的变化而改变。响应于操作温度的变化的TDV的变化不同于响应于操作温度的变化的多个温度参考电压的变化。在一实例中，TDV具有IC的操作温度范围内的正温度系数，且多个温度参考电压为独立于IC的操作温度范围内的温度。集成电路还包含一或多个比较器电路，所述一或多个比较器电路用于将多个温度参考电压的个别温度参考电压与TDV进行比较，且产生指示集成电路的操作温度的一或多个输出信号。
[0005]描述一种用于集成电路的温度传感器的操作方法，其中方法包含产生响应于集成电路的操作温度的变化而改变的TDV。集成电路的存储器储存一或多个程序码。多个温度参考电压基于一或多个程序码而产生。在一实例中，响应于操作温度的变化的TDV的变化不同于响应于操作温度的变化的多个温度参考电压的变化。多个温度参考电压的个别温度参考电压与TDV进行比较，以产生指示集成电路的操作温度的一或多个输出信号。
[0006]还描述一种集成电路，其包含用于产生随着温度改变的第一电压的第一电压产生器。集成电路的参考电压产生器电路基于一或多个程序码而产生多个温度参考电压，所述多个温度参考电压为独立于集成电路的操作温度范围内的温度。集成电路的比较器电路将多个温度参考电压与第一电压进行比较。集成电路还包含响应于比较器电路而产生指示温度的数字信号的逻辑。
[0007]在审阅接下来的附图、详细描述以及申请专利范围之后可见本公开的其他态样及优势。
附图说明
[0008]图1为包含如本文中所描述的温度传感器的集成电路的简化方块图。
[0009]图2为适合用于图1的电路中的NAND快闪存储器阵列的简图。
[0010]图3示出可改变存储器阵列(诸如图2的存储器)中的温度的操作电压。
[0011]图4为根据本公开技术的实施例的温度传感器的简图。
[0012]图5示出图4的温度传感器内产生的温度相依电压(Temperature Dependent Voltage；TDV)与温度之间的实例相关性的曲线图。
[0013]图6示出两个不同IC的TDV随着温度的实例变化的曲线图。
[0014]图7为产生多个温度参考电压的温度参考电压产生器的电路图。
[0015]图8A示出图4的TDV随着温度的实例非线性变化的曲线图。
[0016]图8B示出图8A的曲线图，其中所述曲线图的区段进一步细分为更精细区段。
[0017]图9为产生多个温度参考电压的温度参考电压产生器的电路图，其中针对图9的电路假定TDV为线性。
[0018]图10A为产生多个温度参考电压的温度参考电压产生器的另一电路图，且图10B为说明TDV与图10A的温度参考电压产生器的温度之间的线性关系的曲线图。
[0019]图11A示出图4的温度传感器的比较器电路的实例实施方案，其中并联执行各种比较操作。
[0020]图11B示出图4的温度传感器的比较器电路的实例实施方案，其中以串联方式执行各种比较操作。
[0021]图12示出产生用于温度传感器的多个调整电压的调整电压产生器的实例实施方案。
[0022]图13A示出用于制造IC及校准IC内的温度传感器的实例方法。
[0023]图13B示出用于操作IC内的温度传感器的实例方法。
[0024]图14为产生TDV及能隙电压VBG的电路的电路图。
[0025]附图标记说明
[0026]1、401、401a、401b、470a、470b：集成电路
[0027]10：存储器阵列
[0028]11：非工艺变化相依温度传感器
[0029]20：存储器单元
[0030]21：位线BL N
‑1[0031]22：SSL线
[0032]23：GSL线
[0033]24：字线WL N
‑1[0034]25：CSL线
[0035]30：字线电压读取电平
[0036]400：温度传感器
[0037]404：温度相依电压产生器
[0038]408、408a：温度参考电压产生器
[0039]412、412a、412b：TDV
[0040]416、416a、416b、416c、416f、416g、416ha、416hb、416M、416p、416(a，1)、416(a，2)、416(a，3)、416(a，5)、416(a，7)、416(a，Pa)、416(b，1)、416(b，2)、416(b，3)、416(b，Pb)、416(c，1)、416(c，2)、416(c，3)、416(d，1)、416(N
‑
1，1)、416(N
‑
1，2)、416(N
‑
1，3)、416(N
‑
1，P
(N
‑
1))、416(N，1)：温度参考电压Vref
[0041]416(a，x)：输出参考电压Vref
[0042]420、420a、420b：比较器电路
[0043]424、424a、424b、424c、424M：比较结果COMP
[0044]428：温度测定电路
[0045]432：温度信号T
[0046]440：存储器
[0047]444、444a、444b、444c、444d、444i、444N：调整程序码
[0048]500、600、800、1080：曲线图
[0049]704：能隙电压产生器
[0050]706：能隙电压VBG
[0051]708、708a、708b、708c、708d、708i、708N：调整电压产生器
[0052]710、710a、710b、710i、710N：调整电压Vtrim
[0053]712a、712b、712N、1204：缓冲器
[0054]712y、712(y+1)、720、720a、720b、720c、720(N
‑
1)、720N：节点
[0055]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路，其特征在于，包括：第一电路，用于产生响应于所述集成电路的操作温度的变化而改变的温度相依电压TDV；存储器，用于储存一或多个程序码；第二电路，用于基于所述一或多个程序码而产生多个温度参考电压，其中所述温度参考电压响应于所述集成电路的所述操作温度的所述变化而改变，响应于所述操作温度的所述变化的所述TDV的变化不同于响应于所述操作温度的所述变化的所述多个温度参考电压的变化；以及一或多个比较器电路，用于将所述多个温度参考电压中的个别温度参考电压与所述TDV进行比较，以产生指示所述集成电路的所述操作温度的一或多个输出信号。2.根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述第二电路包括：电压产生器电路，用于接收能隙电压及所述一或多个程序码的第一程序码，且产生调整电压；以及分压器，用于接收所述调整电压且产生所述多个温度参考电压。3.根据权利要求2所述的集成电路，其特征在于，所述电压产生器电路为第一电压产生器电路，所述调整电压为第一调整电压，且其中所述第二电路还包括：第二电压产生器电路，用于接收所述能隙电压及所述一或多个程序码的第二程序码，且产生第二调整电压，其中所述分压器用于接收所述第一调整电压及所述第二调整电压，且基于所述第一调整电压及所述第二调整电压而产生所述多个温度参考电压。4.根据权利要求3所述的集成电路，其特征在于，所述分压器包括：第一节点，用于接收所述第一调整电压；第二节点，用于接收所述第二调整电压；以及至少第一电阻器及第二电阻器，耦接在所述第一节点与所述第二节点之间，其中第三节点在所述第一电阻器与所述第二电阻器之间，其中所述多个温度参考电压的第一温度参考电压产生于所述第一节点处，所述多个温度参考电压的第二温度参考电压产生于所述第二节点处，且所述多个温度参考电压的第三温度参考电压产生于所述第三节点处。5.根据权利要求4所述的集成电路，其特征在于，所述TDV随着在由第一温度及第二温度限定的温度范围内的温度的变化近似为线性的。6.根据权利要求4所述的集成电路，其特征在于：所述第一温度参考电压与所述TDV进行比较，以侦测所述集成电路的第一操作温度；所述第二温度参考电压与所述TDV进行比较，以侦测所述集成电路的第二操作温度；且所述第三温度参考电压与所述TDV进行比较，以侦测所述集成电路的第三操作温度，第三温度在所述第一温度与所述第二温度之间。7.根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述第二电路包括：第一电压产生器电路，用于接收能隙电压及所述一或多个程序码的第一程序码，且产生第一调整电压；第二电压产生器电路，用于接收所述能隙电压及所述一或多个程序码的第二程序码，
且产生第二调整电压；第三电压产生器电路，用于接收所述能隙电压及所述一或多个程序码的第三程序码，且产生第三调整电压；以及第一分压器及第二分压器，其中所述第一分压器的第一端节点用于接收所述第一调整电压，其中所述第一分压器的第二端节点及所述第二分压器的第一端节点用于接收所述第二调整电压，其中所述第二分压器的第二端节点用于接收所述第三调整电压，其中所述第一分压器用于输出作为所述多个温度参考电压的第一温度参考电压的所述第一调整电压、作为所述多个温度参考电压的第二温度参考电压的所述第二调整电压以及所述多个温度参考电压的第三温度参考电压，所述第三温度参考电压在由所述第一调整电压及所述第二调整电压限定的电压范围内，且其中所述第二分压器用于输出作为所述多个温度参考电压的第四温度参考电压的所述第三调整电压以及所述多个温度参考电压的第五温度参考电压，所述第五温度参考电压在由所述第二调整电压及所述第三调整电压限定的电压范围内。8.根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述一或多个比较器...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨宜山，
申请(专利权)人：旺宏电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：