一种背光开短路检测电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种背光开短路检测电路，包括LCD显示屏/总成背光测试电路和所述LCD显示屏的背光接口，所述LCD显示屏/总成背光测试电路上包括背光开短路检测电路，所述背光开短路检测电路包括MCU控制单元、LED灯组和LED Drive IC，所述背光接口包括阳极A1、A2和阴极K1、K2，所述背光接口与所述LED Drive IC之间设置有继电器T1、T2，所述继电器T1、T2与所述MCU控制单元连接；本实用新型专利技术可有效的测出背光开短路，从而提高产品良率，把不良品控制在产线中，不流到市场，减少隐患。减少隐患。减少隐患。

【技术实现步骤摘要】
一种背光开短路检测电路


[0001]本技术涉及显示屏显示测试领域，尤其涉及一种背光开短路检测电路。

技术介绍

[0002]在液晶显示行业中，LCM或总成测试都是通过BL LED Drive电路直接对LCD显示屏背光电路进行点亮测试，通过看背光的点亮程度来判断背光电路是否正常工作，通常传统的测试方法只能测到背光电路的开路与特定的电极短路，大部份的背光电路短路是无法测到的，传统的LCM/总成背光测试电路只能测出部分背光电路的不良，对于阳极与阳极之间、阴极与阴极之间，阴极对地之间的短路是没法准确测到的。对于这些漏测的不良品的应用存在长时间用会烧坏整机主板，重者引起火灾；电流过大，降低整机续航时间；整机亮度调节不正常，烧坏显示屏背光电路灯等隐患。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于解决现有技术中存在的技术问题，提供一种背光开短路检测电路。
[0004]为实现上述目的，本技术提供的技术方案是：一种背光开短路检测电路，包括LCD显示屏/总成背光测试电路和所述LCD显示屏的背光接口，所述LCD显示屏/总成背光测试电路上包括背光开短路检测电路，所述背光开短路检测电路包括MCU控制单元、LED灯组和LED Drive IC，所述背光接口包括阳极A1、A2和阴极K1、K2，所述背光接口与所述LED Drive IC之间设置有继电器T1、T2，所述继电器T1、T2与所述MCU控制单元连接。
[0005]优选的，所述MCU控制单元上设置有I/O检测口MCU_A1、MCU_A2、MCU_K1和MCU_K2，所述LED DRIVER IC上设置有接口D_A1、D_A2、D_K1和D_K2。
[0006]优选的，所述背光开短路检测电路还包括LED报警灯，所述LED报警灯与所述MCU控制单元连接。
[0007]优选的，所述继电器T1、T2内设置有MOS管及其控制电路,所述MOS管为N沟通MOS管。
[0008]优选的，所述LED Drive IC是恒流源，所述LED Drive IC内部带有电流采样电阻对GND。
[0009]本技术有益效果：
[0010]1.本技术采用在LCD显示屏或总成测试中增加开短路测试电路的手段，可有效的测出背光开短路，从而提高产品良率，把不良品控制在产线中，不流到市场，减少隐患。
[0011]2.本技术当背光有短路时，MCU控制单元不切到传统测试模式，不会给背光电路通电，保护产品不会烧坏，减少烧坏主板，引起火灾的情况，节约成本的同时安全性更高。
附图说明
[0012]此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本技术的一部
分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。
[0013]图1是本技术优选整体缩略图。
具体实施方式
[0014]本部分将详细描述本技术的具体实施例，本技术之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本技术的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本技术保护范围的限制。
[0015]在本技术的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0016]本技术的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本技术中的具体含义。
[0017]参照图1，本技术的优选实施例，一种背光开短路检测电路，包括LCD显示屏/总成背光测试电路和所述LCD显示屏的背光接口，所述LCD显示屏/总成背光测试电路上包括背光开短路检测电路，所述背光开短路检测电路包括MCU控制单元、LED灯组和LED Drive IC，所述背光接口包括阳极A1、A2和阴极K1、K2，所述背光接口与所述LED Drive IC之间设置有继电器T1、T2，所述继电器T1、T2与所述MCU控制单元连接。
[0018]本技术在LCD显示屏/总成测试电路中，加上开路与短路切换测试电路，实现精准的测出所有LCD显示屏背光点路的开路与短路，解决因传统测试法不能准确测出不良品带来的隐患。
[0019]作为本技术的优选实施例，其还可具有以下附加技术特征：
[0020]本实施例中，所述MCU控制单元上设置有I/O检测口MCU_A1、MCU_A2、MCU_K1和MCU_K2，所述LED Drive IC上设置有接口D_A1、D_A2、D_K1和D_K2，所述MCU控制单元，通过控制PIN P/C输出高低电平来控继电器T1、T2的闭合与断开，来实现背光电路的A1、A2、K1、K2接通MCU_A1、MCU_A2、MCU_K1、MCU_K2或接通D_A1、D_A2、D_K1、D_K2。
[0021]本实施例中，所述背光开短路检测电路还包括LED报警灯，所述LED报警灯与所述MCU控制单元连接。
[0022]本实施例中，所述继电器T1、T2内设置有MOS管及其控制电路,所述MOS管为N沟道MOS管。
[0023]本实施例中，所述LED Drive IC是恒流源，所述LED Drive IC输出20mA的电流从阳极经过所述LED灯组后由阴极回到LED Drive IC内部电流采样电阻对GND。
[0024]参照图1在LCD显示屏/总成测试中路中
[0025]加入继电器T1、T2与MCU控制单元,所述MCU控制单元通过控制PIN P/C输出高低电平来控继电器T1、T2的闭合与断开，来实现背光电路的A1、A2、K1、K2接通MCU_A1、MCU_A2、MCU_K1、MCU_K2或接通D_A1、D_A2、D_K1、D_K2。当A1、A2、K1、K2接通D_A1、D_A2、D_K1、D_K2时
同传统的测试电路；当A1、A2、K1、K2接通MCU_A1、MCU_A2、MCU_K1、MCU_K2作为MCU检测短路信号，通过扫描MCU_A1、MCU_A2、MCU_K1、MCU_K2的信号可判断背光电路A1、A2、K1、K2是否有相互短路与对GND短路，当有短路时LED报警灯点亮。
[0026]下面以本电路为例分析一下工作原理：
[0027]1：当MCU P/C输出高电平时：
[0028]MOS管导通，继电器T1、T2吸合，LCD显示屏的A1、A2、K1、K2分别接通MCU控制单元的检测I/O口MCU_A1、MCU_A2、MCU_K1、MCU_K2；此时LCD显示屏的背光无法点亮，只作为LCD显示屏的背光电路是否有短路进行测试；当MCU控制单元检测到有短路时，点亮报警灯，测试停止，可防止因背电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种背光开短路检测电路，其特征在于：包括LCD显示屏/总成背光测试电路和所述LCD显示屏的背光接口，所述LCD显示屏/总成背光测试电路上包括背光开短路检测电路，所述背光开短路检测电路包括MCU控制单元、LED灯组和LED Drive IC，所述背光接口包括阳极A1、A2和阴极K1、K2，所述背光接口与所述LED Drive IC之间设置有继电器T1、T2，所述继电器T1、T2与所述MCU控制单元连接。2.根据权利要求1所述的一种背光开短路检测电路，其特征在于：所述MCU控制单元上设置有I/O检测口MCU_A1、MCU_A2、MCU_K1和...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱汉楚，
申请(专利权)人：江西科莱电子有限公司，
类型：新型
国别省市：