一种两面顶压机高压超声测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术将超声测量与两面顶压机结合提出了一种两面顶压机高压超声测量装置。该装置包括上压砧、下压砧、高压组装、换能片、超声信号发生器以及示波器。高压组装的缓冲棒位于下压砧凹槽内，缓冲棒顶部为待压样品，样品周围及顶部为高压组装的垫层材料，下压砧背面且与下压砧凹槽对应位置的凸起部上粘贴有换能片，换能片还与超声信号发生器、示波器相连。超声信号发生器发出脉冲电压信号经换能片转换得到超声信号，依次经过压砧、缓冲棒、样品，在界面处产生回波并返回至换能片，经示波器采样，完成高压材料的超声测量。本发明专利技术不仅实现了高压超声实验，还能与中子线站结合，同时获得材料在高压下的横波、纵波声速和中子衍射谱。纵波声速和中子衍射谱。纵波声速和中子衍射谱。

【技术实现步骤摘要】
一种两面顶压机高压超声测量装置


[0001]本专利技术属于静高压
，具体涉及一种两面顶压机高压超声测量装置。

技术介绍

[0002]两面顶压机大腔体压机的一种，与多面顶大腔体压机相比，具有操作简单、实验成本低的优点，被广泛应用于高压合成及X射线/中子/光学等原位表征。声波是一种机械波，传递的是机械振动。声波可以近似的被看作是介质偏离平衡态的小扰动的传播，这种扰动在介质中的传播速度就是声速。声速反映了介质受声扰动时的可压缩特性，即应力或压力引起的密度变化特性。通过高压下的声速测量可以得到各种弹性模量随压力和温度的变化，为物质在不同的温度压力条件下的使用提供了科学参考。因此将高压超声测量应用于两面顶压机，既能获得材料在高压下声速特征，实现样品的压力、密度/晶格体积和横波与纵波声速变化的原位监测，还能实现对封垫及样品流变的有效控制，获得更高的压力值，又能获得大体积的样品，同时与中子衍射结合获得高压下样品的中子衍射谱，进而顺利开展高温高压原位中子衍射实验。
[0003]P.Lheureux等人首先在巴黎
‑r/>爱丁堡两面顶压本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种两面顶压机高压超声测量装置，其特征在于，包括上压砧、下压砧、高压组装、换能片、超声信号发生器以及示波器；所述上压砧、下压砧为凹曲面压砧且压砧端面的凹曲面呈镜像对称布置；所述下压砧的压砧端面中心位置设置有底部为平底的下压砧凹槽，所述下压砧背面中心对应位置设置有凸起部，在所述凸起部上粘贴有双发射模式的换能片，所述换能片与超声信号发生器及示波器相连，所述的超声信号发生器和示波器分别为信号产生和数据读取装置；其中，下压砧材质为碳化钨，所述下压砧凹槽的底面和凸起部上粘贴换能片的粘贴面均经过镜面抛光处理；所述高压组装位于上压砧、下压砧之间，所述高压组装整体外形与上压砧、下压砧端面外形相匹配；所述高压组装包括缓冲棒、垫层材料，所述缓冲棒设置在下压砧凹槽内，所述缓冲棒的顶部中心位置放置待压样品，所述样品周围和顶部由垫层材料包裹，所述垫层材料与缓冲棒在上下压砧顶压时一同为样品提供静水压环境；所述缓冲棒与样品之间的接触面、所述样品与垫层材料之间的接触面、下压砧凹槽底面、凸起部与换能片的粘贴面相互平行。2.根据权利要求1所述两面顶压机高压超声测量装置，其特征在于，所述换能片为LiNbO3晶片，所述LiNbO3晶片与凸起部上的粘贴平面镜面抛光处理要求小于等于1μm。3.根据权利要求1所述两面顶压机高压超声测量装置，其特征在于，所述下压砧凹槽底面与换能片的距离要求不小于15mm。4.根据权利要求1所述两面顶压机高压超声测量装置，其特征在于，所述凸起部外周、下压砧背面还设置有环形垫片，所述环形垫片用于向下压砧施加作用力，所述环形垫片不对凸起部产生作用力。5.根据权利要求1所述两面顶压机高压超声测量装置，其特征在于，所述的缓冲棒与下压砧凹槽底面的接触面、以及缓冲棒与样品的接触面需进行抛光处理，确保不会因为漫反射而导致超声信号的衰减。6.根据权利要求5所述两面顶压机高压超声测量装置，其特征在于，所述缓冲棒与下压砧凹槽底面之间、缓冲棒与样品之间、样品与垫层材料之间...

【专利技术属性】
技术研发人员：房雷鸣，何瑞琦，谢雷，韩铁鑫，陈喜平，牛国梁，孙嘉程，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院核物理与化学研究所，
类型：发明
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