光反应评价装置和光子数计算方法制造方法及图纸

强度分布获取部获取在标准光源向不存在试样的试样位置照射光的状态下由检测部检测出的第一检测强度分布，在第一测定动作时获取在照射光源向不存在试样的试样位置照射光的状态下由检测部检测出的第二检测强度分布。辐射强度计算部基于第一检测强度分布、第二检测强度分布以及标准光源的辐射特性，来计算照射光源的照射光的各波长下的辐射强度。照射光子数计算部基于各波长下的辐射强度，来计算照射光源的照射光的各波长下的照射光子数。光源的照射光的各波长下的照射光子数。光源的照射光的各波长下的照射光子数。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光反应评价装置和光子数计算方法


[0001]本专利技术涉及一种光反应评价装置和光子数计算方法。

技术介绍

[0002]当由激励光源将光照射到试样时，生成其它物质或荧光等。这种现象被称为光化学反应。作为光化学反应的评价指标，使用量子产率。量子产率用(通过光的照射而在试样内生成的物质的分子数)/(被试样吸收的光子数)来表示。在本说明书中，将激励光源称为照射光源。
[0003]为了计算量子产率，需要测定被试样吸收的光子数。在该情况下，由照射光源向试样照射的光的光子数(以下称为照射光子数。)根据照射光源而不同，因此需要对照射光子数进行校准。
[0004]因此，提出了一种使用在特定波长下每种化学反应均具有已知的吸收光子数的化学光量计来对照射光子数进行校准的方法。另外，提出了一种使用对光的能量进行测定的光功率计来对照射光子数进行校准的方法。例如，在专利文献1的
技术介绍
一栏中，记载了一种使用化学光量计或光功率计来对照射光子数进行校准的方法。
[0005]专利文献1：日本特开2015
‑
34717号公报。

技术实现思路

[0006]专利技术要解决的问题
[0007]然而，照射光子数根据光的波长而变化。因而，需要使用与照射光源的光的波长相应的化学光量计来对照射光子数进行校准。在该情况下，化学光量计的吸收峰略宽，因此难以准确地测定各波长下的照射光子数。在光功率计中，通常无法测定光的能量的波长分布，因此难以对照射光子数的准确的波长分布进行校准。因此，在光化学反应中使用产生宽的波长范围的光的照射光源的情况下，难以准确地对宽的波长范围内的照射光子数的分布进行校准。
[0008]本专利技术提供一种不仅在使用产生具有特定波长的光的照射光源的情况下、在使用产生具有宽的波长范围的光的照射光源的情况下也能够准确地计算取决于波长的照射光子数的分布的光反应评价装置和光子数计算方法。
[0009]用于解决问题的方案
[0010]按照本专利技术的一个方面的光反应评价装置对配置于试样位置的试样的光反应进行评价，光反应评价装置具备：照射光源，其配置为能够将光作为照射光来向试样位置照射，并且设置为能够更换成产生白色光的标准光源；分光光度计，其包括配置为能够向试样位置照射光的测定光源以及配置为检测来自试样位置的光的强度分布的检测部；强度分布获取部，其获取在标准光源向不存在试样的试样位置照射光且测定光源未向试样位置照射光的状态下由检测部检测出的光的强度分布来作为第一检测强度分布，在第一测定动作时，获取在照射光源将光作为照射光向不存在试样的试样位置照射且测定光源未向试样位
置照射光的状态下由检测部检测出的光的强度分布来作为第二检测强度分布；辐射强度计算部，其基于由强度分布获取部获取到的第一检测强度分布、由强度分布获取部获取到的第二检测强度分布、以及标准光源的辐射特性，来计算照射光源的照射光的各波长下的辐射强度；以及照射光子数计算部，其基于由辐射强度计算部计算出的各波长下的辐射强度，计算照射光源的照射光的各波长下的光子数来作为照射光子数。
[0011]按照本专利技术的其它方面的光子数计算方法是对配置于试样位置的试样的光反应进行评价的光反应评价装置中的光子数计算方法，光子数计算方法包括以下步骤：获取在产生白色光的标准光源向不存在试样的试样位置照射光且分光光度计的测定光源未向试样位置照射光的状态下由分光光度计的检测部检测出的光的强度分布，来作为第一检测强度分布；在第一测定动作时，获取在照射光源将光作为照射光向不存在试样的试样位置照射且测定光源未向试样位置照射光的状态下由检测部检测出的光的强度分布，来作为第二检测强度分布；基于获取到的第一检测强度分布、获取到的第二检测强度分布、以及标准光源的辐射特性，来计算照射光源的照射光的各波长下的辐射强度；以及基于计算出的各波长下的辐射强度，计算照射光源的照射光的各波长下的光子数来作为照射光子数。
[0012]专利技术的效果
[0013]根据本专利技术，不仅在使用产生具有特定波长的光的照射光源的情况下，在使用产生具有宽的波长范围的光的照射光源的情况下，也能够准确地计算取决于波长的照射光子数的分布。
附图说明
[0014]图1是示出一个实施方式所涉及的光反应评价装置的结构的框图。
[0015]图2是示出图1的数据处理部的功能性的结构的框图。
[0016]图3是示出图2的数据处理部的光反应评价动作的流程图。
[0017]图4是示出图2的数据处理部的光反应评价动作的流程图。
[0018]图5是用于说明标准数据获取动作的图。
[0019]图6是示出通过标准数据获取动作获取到的第一检测强度分布的例子的图。
[0020]图7是用于说明第一测定动作的图。
[0021]图8是示出通过第一测定动作获取到的第二检测强度分布的例子的图。
[0022]图9是用于说明照射光源的各波长下的辐射强度的计算方法的图。
具体实施方式
[0023]下面，参照附图来详细地说明本专利技术的实施方式所涉及的光反应评价装置和光子数计算方法。
[0024](1)光反应评价装置的结构
[0025]图1是示出一个实施方式所涉及的光反应评价装置的结构的框图。图1的光反应评价装置100具备测定部10和数据处理部30。测定部10包括照射光源1、分光光度计2以及试样池(試料
セル
)3。在试样池3中能够设置试样S。在本实施方式中，试样池3的位置相当于试样位置。另外，在本实施方式中，关于试样S的光反应的评价包括试样S的光化学反应中的吸收光子数的评价。
[0026]照射光源1将光作为激励光向试样池3照射。作为照射光源1，能够使用产生特定的波长的光、特定的波长范围的光、多波长的光或白色光的光源。照射光源1例如也可以是LED(发光二极管)、疝气灯、汞灯或氘灯等各种光源。分光光度计2包括测定光源21、分光器(未图示)以及检测部22。在本实施方式中，例如，能够使用采用了多色仪的多通道分光光度计2。
[0027]数据处理部30包括CPU(中央运算处理装置)31、RAM(随机存取存储器)32、ROM(只读存储器)33、输入输出I/F(接口)34以及存储装置35。CPU 31、RAM 32、ROM 33、输入输出I/F 34以及存储装置35与总线36连接。在数据处理部30的总线36上连接有操作部40和显示部50。操作部40包括键盘或鼠标等，由用户进行操作以向数据处理部30输入各种指令和数据。显示部50包括液晶显示器或有机EL(电致发光)显示器等，用于显示各种数据等。
[0028]存储装置35包括半导体存储器或存储卡等存储介质，存储光反应评价程序。RAM 32用作CPU 31的作业区域。在ROM 33中存储有系统程序。CPU 31通过在RAM 32上执行存储装置35中存储的光反应评价程序，来通过输入输出I/F 34对照射光源1和分光光度计2进行控制，并且通过输入输出I/F 34来接收分光光度计2的输出信号。由此，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种光反应评价装置，对配置于试样位置的试样的光反应进行评价，所述光反应评价装置具备：照射光源，其配置为能够将光作为照射光来向所述试样位置照射，并且设置为能够更换成产生白色光的标准光源；分光光度计，其包括配置为能够向所述试样位置照射光的测定光源以及配置为检测来自所述试样位置的光的强度分布的检测部；强度分布获取部，其获取在所述标准光源向不存在试样的所述试样位置照射光且所述测定光源未向所述试样位置照射光的状态下由所述检测部检测出的光的强度分布来作为第一检测强度分布，在第一测定动作时，获取在所述照射光源将光作为照射光向不存在试样的所述试样位置照射且所述测定光源未向所述试样位置照射光的状态下由所述检测部检测出的光的强度分布来作为第二检测强度分布；辐射强度计算部，其基于由所述强度分布获取部获取到的第一检测强度分布、由所述强度分布获取部获取到的第二检测强度分布、以及所述标准光源的辐射特性，来计算所述照射光源的照射光的各波长下的辐射强度；以及照射光子数计算部，其基于由所述辐射强度计算部计算出的各波长下的辐射强度，计算所述照射光源的照射光的各波长下的光子数来作为照射光子数。2.根据权利要求1所述的光反应评价装置，其中，还具备：吸光度光谱获取部，其在第二测定动作时，获取在所述测定光源向所述试样位置的试样照射光且所述照射光源向所述试样位置的试样照射光的状态下由所述检测部检测出的光的强度分布来作为吸光度光谱；以及吸收光子数计算部，其在所述第二测定动作时，基于由所述照射光子数计算部计算出的照射光子数以及由所述吸光度光谱获取部获取到的吸光度光谱，计算由试样在各波长下吸收的光子的数量来作为吸收光子数。3.根据权利要求1或2所述的光反应评价装置，其中...

【专利技术属性】
技术研发人员：渡边康之，玉木隆宏，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：