本发明专利技术涉及一种电阻测量用设备，尤其是一种用于测量极小电阻的测量装置。一种用于测量极小电阻的测量装置，包括转接头和测量笔，转接头和测量笔之间有线缆一进行连接，转接头与测量设备进行对接，测量笔包括笔壳，笔壳的端部为顶针安放头，顶针安放头内插入两根活动的顶针，顶针的端部内侧与顶针安放头之间安装有弹簧，两根顶针之间具有间隙。这种用于测量极小电阻的测量装置，通过对测量用的测量笔的进行设计，使其端部的结构尺寸能够满足对贴片电阻或者其他小型器件进行定位测量，并且通过四路的测量线路进行测量数据的确定，使其测量的精度得到保证。精度得到保证。精度得到保证。
【技术实现步骤摘要】
一种用于测量极小电阻的测量装置
[0001]本专利技术涉及一种电阻测量用设备，尤其是一种用于测量极小电阻的测量装置。
技术介绍
[0002]电子设备中的常用电气元件需要对其进行电阻的测量，一些贴片电阻其本身体积较小，阻值也极小，常规的万能表在测量的时候精度不能得到保证，并且万能表的笔头较大，对于贴片电阻的测量不能准确定位，也是导致测量精度低的一个情况。
[0003]有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种用于测量极小电阻的测量装置，使其更具有产业上的利用价值。
技术实现思路
[0004]为解决上述技术问题，本专利技术的目的是提供一种用于测量极小电阻的测量装置。
[0005]本专利技术的一种用于测量极小电阻的测量装置，包括转接头和测量笔，转接头和测量笔之间有线缆一进行连接，转接头与测量设备进行对接，测量笔包括笔壳，笔壳的端部为顶针安放头，顶针安放头内插入两根活动的顶针，顶针的端部内侧与顶针安放头之间安装有弹簧，两根顶针之间具有间隙。
[0006]通过细小的顶针结构与待测电阻的两端进行接触，两只测量笔上分别有两根顶针，形成四针的测量回路，通过测量笔的端部与电阻进行接触，实现了精准测量的需求。
[0007]进一步的，顶针安放头中间为带有两个平行孔的顶针滑动座，顶针滑动座内插入有顶针，顶针的端部为接触头，接触头的端部呈现为三角状，接触头之间的间隙为0.2mm。
[0008]顶针安放头上内有用顶针进滑动的支座，在接触头与待测器件进行接触的时候，用过按压的方式，使顶针在支座上进行滑动，再由弹簧提供反向的弹力，确保接触的电子器件之间的接触效果良好，确保测量的精度。
[0009]进一步的，接触头上套有触头套，触头套的中部为两个通槽，在触头套的外侧通过锁紧螺钉和螺孔的方式将触头套固定在接触头上。
[0010]通过触头套将两个接触头进行分开，触头套为绝缘材料，在起到限位的作用的同时确保两者之间的间隙，用以满足测量的需求。
[0011]进一步的，笔壳的内侧安装有顶针套，顶针的尾端伸入到顶针套内，顶针套的尾端为线缆二，线缆二与安装在笔壳尾端的堵头连接，线缆二与线缆一连接。
[0012]笔壳内有用于顶针滑动的顶针套，这样的顶针的端部在顶针套内滑动，有一个便于顶针收缩的位置，配合弹簧使用，确保顶针端部的接触头与电阻稳定接触。
[0013]进一步的，转接头的尾端有四个接头，每一个接头通过线缆三穿过转接口与线缆一连接，每一根线缆一分别连接两根线缆三。
[0014]每一个测量笔中都有两根顶针，每一根顶针通过线缆二与连接转接头的线缆一进行连通，这样两个测量笔上就能引出四条与线缆三连接在一起的线缆，并且四条线缆上最终与接头进行连接，四个接头分别为：
[0015]Hcur电流驱动高端；
[0016]Lcur电流驱动低端；
[0017]Hpot电压采样高端；
[0018]Lpot电压采样低端；
[0019]四个接头有测量设备的接口进行对接，通过电流电压换算最终测量出电阻的阻值，测量精度高。
[0020]进一步的，在转接头内部安装有两个接地接头，每一个接地接头通过线缆四与对应的测量笔进行连接。
[0021]为了测量的精度得到保证，在转接头上也安装了接地接头，配合上线缆四与对应的测量笔进行连接。
[0022]借由上述方案，本专利技术至少具有以下优点：这种用于测量极小电阻的测量装置，通过对测量用的测量笔的进行设计，使其端部的结构尺寸能够满足对贴片电阻或者其他小型器件进行定位测量，并且通过四路的测量线路进行测量数据的确定，使其测量的精度得到保证。
[0023]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某个实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0025]图1是本专利技术的结构示意图；
[0026]图2是本专利技术的本专利技术的测量笔的结构示意图；
[0027]图3是本专利技术的顶针安放头的结构示意图；
[0028]图4是本专利技术的图3的主视图；
[0029]图5是本专利技术的图4的剖视图；
[0030]图6是本专利技术的图3去掉外部壳体的结构示意图；
[0031]图7是本专利技术的触头套的结构示意；
[0032]图8是本专利技术的测量笔去掉外壳后的结构示意图；
[0033]图9是本专利技术的转接头的内部结构示意图；
[0034]图中1、转接头，2、测量笔，3、线缆一，4、笔壳，5、顶针安放头，6、顶针，7、弹簧，8、顶针滑动座，9、接触头，10、触头套，11、线缆二，12、堵头，13、接头，14、线缆三，15、接地接头，16、线缆四，17、顶针套。
具体实施方式
[0035]下面结合附图和实施例，对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本专利技术，但不用来限制本专利技术的范围。
[0036]参见图1
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图3，本测量装置包括了两个一样的测量笔2，测量笔2与转接头 1之间有
线缆一3进行连接，线缆一3内有三股线束，其中两股线束与测量笔2 内的两个一样结构的顶针6进行连接，顶针6在顶正安放头5内进行前后滑动，通过配装的弹簧7为顶针6提供反向的弹力，这样在测量的时候利用弹簧7的弹力将顶针6的端部与测量电阻进行紧密的贴合，并且两根顶针6之间具有一个微小的间隙，使两根顶针6之间不会贴合，在测量的时候通过两路的电流和电压的输入和导出，进而对电阻进行计算测量，确保测量的精度。
[0037]参见图3
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图6，顶针安放头5内有用于顶针6滑动的顶针滑动座8，顶针6 在顶针滑动座8内的槽内进行滑动，在顶正6端部的接触头9与待测电阻接触的时候，通过手部的按压的方式，使接触头9与待测电阻之间进行接触，弹簧7 提供弹力，确保接触头9与待测电阻之间接触良好，接触头9的端部为锥形的，并且两个接触头9之间的长端互相平行，并且两者之间有0.2mm的间隙，使两个接触头9之间不会接触，避免两者之间有导通的情况发生。
[0038]参见图7和8，为了确保接触头9之间始终是处于分隔的状态，因此在接触头9上套有了接触头10，接触套10为长方体的结构，在其中部有隔板，隔板用以分隔两个接触头9，并且有两个尺寸与接触头10匹配的槽，用于限位接触头 10。
[0039]参见图8，顶针套17的端部与顶针6的尾部为匹配的状态，使顶针6能够在顶针套17进行移动，确保顶针6有一定的移动距离，在顶针套17的尾端通过线缆二11与安装在转接头1内侧线缆三14进行连接，实现检测设备与测量笔2之间的连本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于测量极小电阻的测量装置，包括转接头(1)和测量笔(2)，转接头(1)和测量笔(2)之间有线缆一(3)进行连接，转接头(1)与测量设备进行对接，其特征在于：测量笔(2)包括笔壳(4)，笔壳(4)的端部为顶针安放头(5)，顶针安放头(5)内插入两根活动的顶针(6)，顶针(6)的端部内侧与顶针安放头(5)之间安装有弹簧(7)，两根顶针(6)之间具有间隙。2.根据权利要求1所述的一种用于测量极小电阻的测量装置，其特征在于：顶针安放头(5)中间为带有两个平行孔的顶针滑动座(8)，顶针滑动座(8)内插入有顶针(6)，顶针(6)的端部为接触头(9)，接触头(9)的端部呈现为三角状，接触头(9)之间的间隙为0.2mm。3.根据权利要求2所述的一种用于测量极小电阻的测量装置，其特征在于：接触头(9)上套有触头套(10)，触头套(10)的中部为两个通槽，在触头套...
【专利技术属性】
技术研发人员：王同宝，王一众，
申请(专利权)人：常州市致新精密电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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