晶体棒测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种晶体棒测试装置，包括：基座：其上设置有安装槽；所述基座可被安装至分光光度计；垫片：安装在基座的安装槽内；晶体棒支座：安装在基座的安装槽内，位于垫片的上方；晶体棒支座的上端面开有晶体棒安装槽；光阑：安装在晶体棒支座的侧面，其上设置有光阑孔，所述光阑的安装位置被配置为，当光阑安装在晶体棒支座、晶体设置在晶体棒安装槽后，光阑孔的中心与晶体棒的中心相对。所有部件之间均可拆卸，部件尺寸可选。根据被测晶体棒截面尺寸的大小，光阑小孔的尺寸不同，配合相应厚度的垫片，保证小孔的中心与晶体棒的中心同轴。轴。轴。

【技术实现步骤摘要】
晶体棒测试装置


[0001]本技术涉及光学测试加工
，具体涉及一种晶体棒测试装置。

技术介绍

[0002]分光光度计常规用于截面较大样品测试或将溶液样品放入比色皿中测试,目前无固定棒状装置。常规晶体棒具有截面小长度大的特点，分光光度计光斑尺寸大，超出晶体棒截面，直接放置测试会漏光影响测试结果，且分光光度计样品室空间有限，大尺寸的机械夹持装置无法放置，卡爪类夹持装置接触面积小不稳定，小型的台虎钳夹持损伤晶体棒。将晶体棒置于V型槽中不损伤晶体棒且较稳定，但位置不固定测试时调试费时漏光且不能保证正入射，影响测试结果。通过晶体棒的光谱曲线可以计算掺杂离子浓度，了解产品性能，稳定准确的测试结果非常重要，因此需要一种分光光度计用晶体棒类测试装置。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于解决前述技术问题之一，提供一种分光光度计用晶体棒类测试装置，具有尺寸小、稳定、不损伤晶体棒、简单、不漏光的特点。
[0004]为实现上述目的，本技术采用如下技术方案：
[0005]一种晶体棒测试装置，包括：
[0006]基座：其上设置有安装槽；所述基座可被安装至分光光度计；
[0007]垫片：安装在基座的安装槽内；
[0008]晶体棒支座：安装在基座的安装槽内，位于垫片的上方；晶体棒支座的上端面开有晶体棒安装槽；
[0009]光阑：安装在晶体棒支座的侧面，其上设置有光阑孔，所述光阑的安装位置被配置为，当光阑安装在晶体棒支座、晶体设置在晶体棒安装槽后，光阑孔的中心与晶体棒的中心相对。
[0010]本技术一些实施例中，所述垫片包括垫片板，沿垫片板上端面设置有凸出部，晶体棒支座与垫片配合一侧的端面上设置有凹槽，所述凸出部插入所述凹槽。
[0011]本技术一些实施例中，基座安装槽处设置有固定栓，垫片上设置有固定栓安装孔，晶体棒支座上设置有固定栓安装槽，所述固定栓可顺次穿过固定栓安装孔、固定栓安装槽。
[0012]本技术一些实施例中，所述固定栓包括至少两个，分别设置在凸出部的两侧。
[0013]本技术一些实施例中，光阑安装一侧的晶体棒支座的侧面上，沿晶体棒支座的高度方向设置有台阶结构，所述光阑安装在台阶结构形成的台阶面上。
[0014]本技术一些实施例中，光阑安装一侧的晶体棒支座的侧面上设置有光阑安装孔，光阑上设置有固定件孔，所述固定件孔的位置与光阑安装孔的位置匹配，以将光阑通过固定件安装在晶体棒支座上。
[0015]本技术一些实施例中，光阑孔的孔径小于晶体棒的外径。
[0016]本技术一些实施例中，所述晶体棒安装槽为V型槽。
[0017]本技术一些实施例中，所述V型槽为90
°
槽。
[0018]本技术一些实施例中，所述基座上设置有固定孔，用于分光光度计的配合安装。
[0019]较现有技术相比，本技术的技术优势在于：
[0020]1.所有部件配合固定在基座上，结构稳定，尺寸小，可辅助分光光度计用晶体棒类测试。
[0021]2.所有部件之间均可拆卸，部件尺寸可选。根据被测晶体棒截面尺寸的大小，光阑小孔的尺寸不同，配合相应厚度的垫片，保证小孔的中心与晶体棒的中心同轴，光束尺寸小于晶体棒截面尺寸，且所有部件组成的测试装置端面与分光光度计底部垂直使光束正入射进入晶体棒，光路不偏折，经过晶体棒不漏光。
[0022]3.所有部件配合保证选取分光光度计光斑中心区域，光束质量稳定。更换不同的垫片和光阑,可以调节光阑小孔的中心高度，就可测试不同截面尺寸的晶体棒，操作方法简单，通用性强。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0024]图1为晶体棒测试装置结构示意图；
[0025]图2为晶体棒测试装置分解状态结构示意图；
[0026]图3为晶体棒测试装置左视结构示意图；
[0027]以上各图中：
[0028]1‑
基座，101
‑
固定孔，102
‑
固定孔，103
‑
固定栓，104
‑
固定栓，105
‑
安装槽；
[0029]2‑
垫片，201
‑
固定栓安装孔，202
‑
固定栓安装孔，203
‑
凸出部；
[0030]3‑
晶体棒支座，301
‑
固定栓安装槽，302
‑
固定栓安装槽，303
‑
光阑安装孔，304
‑
光阑安装孔，305
‑
凹槽；
[0031]4‑
光阑，401
‑
固定件孔，402
‑
固定件孔，403
‑
光阑孔；
[0032]5‑
晶体棒。
具体实施方式
[0033]为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0034]需要说明的是，当元件被称为“设置在”，“连接”，另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。
[0035]需要理解的是，术语“上”、“下”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的
方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0036]本技术提供一种晶体棒测试装置，结构参考图1至图3，包括：基座1
[0037]基座1：其上设置有安装槽105；基座1整体呈板状，安装槽105沿基座1宽度方向设置；基座1可被安装至分光光度计；为解决基座1与分光计安装的问题，本技术一些实施例中，基座1上设置有两个固定孔101、102，对称设置在基座1两侧的边缘，用于分光光度计的配合安装。
[0038]垫片2：安装在基座1的安装槽105内；垫片2和基座1之间为可拆卸的结构，可根据测试需要选择合适厚度的垫片2。
[0039]晶体棒支座3：安装在基座的安装槽105内，位于垫片2的上方；晶体棒支座3的上端面开有晶体棒安装槽；本实施例中，晶体棒安装槽为V型槽。V型槽优选为90
°
槽，槽开口朝向上方。当进行晶体棒5测试时，将晶体棒置放在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶体棒测试装置，其特征在于，包括：基座：其上设置有安装槽；所述基座可被安装至分光光度计；垫片：安装在基座的安装槽内；晶体棒支座：安装在基座的安装槽内，位于垫片的上方；晶体棒支座的上端面开有晶体棒安装槽；光阑：安装在晶体棒支座的侧面，其上设置有光阑孔，所述光阑的安装位置被配置为，当光阑安装在晶体棒支座、晶体设置在晶体棒安装槽后，光阑孔的中心与晶体棒的中心相对。2.如权利要求1所述的晶体棒测试装置，其特征在于，所述垫片包括垫片板，沿垫片板上端面设置有凸出部，晶体棒支座与垫片配合一侧的端面上设置有凹槽，所述凸出部插入所述凹槽。3.如权利要求1或2所述的晶体棒测试装置，其特征在于，基座安装槽处设置有固定栓，垫片上设置有固定栓安装孔，晶体棒支座上设置有固定栓安装槽，所述固定栓可顺次穿过固定栓安装孔、固定栓安装槽。4.如权利要求3所述的晶体棒测试装置，其特征在于，所述固定...

【专利技术属性】
技术研发人员：高佳，赵海泉，张芳，王世武，李建宏，
申请(专利权)人：青岛海泰光电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：