【技术实现步骤摘要】
一种化纤面料上色质量检测及评估方法
[0001]本专利技术涉及数据识别处理
,具体涉及一种化纤面料上色质量检测及评估方法。
技术介绍
[0002]衣食住行为现代人类生存的基本,随着社会的发展,化纤面料在制衣工艺中应用广泛,其成本低、产能足、收益高。在化纤面料的制衣生产中染色工艺是重要的一环,化纤面料的上色质量直接影响了衣服成品的质量。且对于化纤面料而言,材料本身属性会造成不易上色的缺陷,因此在化纤面料的染色工艺中需要实时且准确的对化纤面料中的上色质量进行检测,避免因为质量较差的面料影响最终产品质量。
[0003]在现有技术中,可利用计算机视觉方法提取染色工艺处理后的化纤面料的图像信息,根据图像中像素值的分布可判断上色均匀性。但是这种方法获得的均匀性没有考虑到不均匀区域内具体的颜色信息,如果利用现有技术对图像进行不同颜色空间的转换,则会增加算法复杂度,导致检测速度和检测成本受到影响。
技术实现思路
[0004]为了解决上述技术问题,本专利技术的目的在于提供一种化纤面料上色质量检测及评估方法,所采用 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种化纤面料上色质量检测及评估方法,其特征在于,所述方法包括:利用带有可见光光源的相机采集待检测化纤面料的表面图像;利用预设尺寸的滑窗根据预设滑动步长在所述表面图像上滑动处理,每次滑动过程获得所述滑窗内的平均像素值和像素值方差;将处于预设异常像素值区间内的所述平均像素值对应的所述滑窗的区域和大于预设方差阈值的所述像素值方差对应的所述滑窗的区域作为异常上色区域;以正常上色区域中不同颜色通道的通道值作为对应所述颜色通道的标准通道值;获得所述异常上色区域中每个像素点在每个所述颜色通道中与所述标准通道值的通道值差异距离;以所述通道值差异距离的方差作为所述异常上色区域的颜色不均匀程度;利用分光测色仪获得所述正常上色区域的正常分光度曲线和所述异常上色区域的异常分光度曲线;分光度曲线的横轴代表波长,纵轴代表反射率;获得所述正常分光度曲线和所述异常分光度曲线之间的波峰对应波长的差异;获得所述分光度曲线上的曲线点到横轴的平均距离,获得所述正常分光度曲线和所述异常分光度曲线之间的平均距离差异;获得所述正常分光度曲线和所述异常分光度曲线之间的平均切线斜率差异;以所述波峰对应波长的差异、平均纵坐标值差异和所述平均切线斜率差异获得所述正常分光度曲线和所述异常分光度曲线之间曲线形态差异;以所述颜色不均匀程度和所述曲线形态差异的乘积作为所述待检测化纤面料的上色不均匀程度。2.根据权利要求1所述的一种化纤面料上色质量检测及评估方法,其特征在于,所述以正常上色区域中不同颜色通道的通道值作为对应所述颜色通道的标准通道值包括:以当前检测过程中所述正常上色区域中不用所述颜色通道的通道值作为所述颜色通道的初始标准通道值;结合历史数据,获得上一次检测过程中的所述初始标准通道值,以两次检测过程的平均初始标准通道值作为当前检测过程...
【专利技术属性】
技术研发人员:田燕瑜,
申请(专利权)人:启东奈克斯特新材料科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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