【技术实现步骤摘要】
用于电气部件测试的插座
[0001]本公开涉及电气部件测试
，特别涉及一种用于电气部件测试的插座。
技术介绍
[0002]在例如IC(Integrated Circuit，集成电路)封装体等电气部件的生产过程中，需要使用相关测试设备对其进行性能测试。该测试设备一般包括布线基板，以及配置于布线基板上并与布线基板电性连接的插座。
[0003]相关技术中的一种插座，包括插座主体、插座盖和操作杆。其中，插座主体包括用于容纳电气部件并将电气部件与布线基板电性连接的接触收纳部。插座盖与插座主体铰接，通过旋转插座盖能够开闭接触收纳部。为防止插座盖被意外打开，插座盖在自由侧对称设置了两组锁闩，插座主体在前部对应每组锁闩分别设置了闩孔、锁合限位槽和解锁限位槽。操作杆与插座盖铰接，并且操作杆在铰接侧设有凸轮结构，在插座盖闭合状态，通过沿预设方向(如顺时针方向或逆时针方向)旋转操作杆至施压位置，可以使凸轮结构按压接触收纳部内的电气部件，进而使电气部件通过接触收纳部与布线基板电性连接，在此状态下，可开展对电气部件的性能测试；反之，通过...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述插座包括：插座主体，包括框架和位于所述框架内的接触收纳部，所述接触收纳部用于容纳所述电气部件并与所述电气部件电性连接；插座盖，与所述框架的后部铰接；及锁闩结构，所述锁闩结构设置在所述框架和所述插座盖中的其中一个上，所述锁闩结构包括两个闩杆和用于同时驱动两个所述闩杆相向或相背运动的开闭板，在所述框架和所述插座盖中的另一个上设置有与两个所述闩杆一一对应地相适配的两个第一闩孔，所述锁闩结构具有可通过开闭板相互切换的锁合状态和解锁状态；所述锁闩结构处于所述锁合状态时，两个所述闩杆处于伸出状态且分别延伸至对应的所述第一闩孔中，以将所述插座盖与所述插座主体锁合；所述锁闩结构处于所述解锁状态时，两个所述闩杆处于缩回状态且分别与对应的所述第一闩孔分离，以将所述插座盖与所述插座主体解锁。2.根据权利要求1所述的插座，其特征在于，所述框架的前部具有横导孔，以及位于所述横导孔的前侧并与所述横导孔连通的呈一字型排列的两个横导槽；所述插座盖的自由侧具有相对开设的两个所述第一闩孔，两个所述第一闩孔能够随所述插座盖旋转至一一对应的与所述横导孔的两端相对；所述锁闩结构还包括弹簧及一一对应的连接两个所述闩杆的两个拨杆，所述开闭板可上下滑动的设置于所述框架的前端，具有呈中文八字形轴对称设置的两个斜导槽，两个所述闩杆滑动装配于所述横导孔且相远离侧能够一一对应的插入两个所述第一闩孔，两个所述拨杆一一对应的滑动装配于两个所述横导槽且一一对应的滑动装配于两个所述斜导槽；当下压所述开闭板时，两个所述斜导槽驱动两个所述闩杆相向运动至能够脱离两个所述第一闩孔，以将所述插座盖与所述插座主体解锁；当撤销下压所述开闭板时，所述开闭板在所述弹簧作用下复位，两个所述斜导槽驱动两个所述闩杆反向运动至能够插入两个所述第一闩孔，以将所述插座盖与所述插座主体锁合...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢印洲，
申请(专利权)人：恩普乐斯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。