用于电气部件测试的插座制造技术

本公开实施例提供一种用于电气部件测试的插座，包括：插座主体，包括框架和位于所述框架内的接触收纳部，所述接触收纳部用于容纳所述电气部件并与所述电气部件电性连接；及插座盖，与所述框架的后部通过至少一组铰轴组件铰接，且具有锁定部，其中一组所述铰轴组件包括能够与所述锁定部锁定的锁定件；所述锁定件和所述锁定部在锁定状态，所述插座盖相对所述插座主体打开设定角度；所述锁定件和所述锁定部在解锁状态，所述插座盖能够相对所述插座主体转动。转动。转动。

【技术实现步骤摘要】
用于电气部件测试的插座


[0001]本公开涉及电气部件测试
，特别涉及一种用于电气部件测试的插座。

技术介绍

[0002]在例如IC(Integrated Circuit，集成电路)封装体等电气部件的生产过程中，需要使用相关测试设备对其进行性能测试。该测试设备一般包括布线基板，以及配置于布线基板上并与布线基板电性连接的插座。
[0003]相关技术中的一种插座，包括插座主体、插座盖和操作杆。其中，插座主体包括用于容纳电气部件并将电气部件与布线基板电性连接的接触收纳部。插座盖与插座主体铰接，通过旋转插座盖能够开闭接触收纳部。操作杆与插座盖铰接，并且操作杆在其铰接侧设有凸轮结构，在插座盖闭合状态，通过沿预设方向(如顺时针方向或逆时针方向)旋转操作杆至施压位置，可以使凸轮结构按压接触收纳部内的电气部件，进而使电气部件通过接触收纳部与布线基板电性连接，在此状态下，可开展对电气部件的性能测试；反之，通过沿预设方向的反方向旋转操作杆至脱离施压位置，可以解除对电气部件的按压。
[0004]本公开的专利技术人发现，上述相关技术中的插座，其插本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述插座包括：插座主体，包括框架和位于所述框架内的接触收纳部，所述接触收纳部用于容纳所述电气部件并与所述电气部件电性连接；及插座盖，与所述框架的后部通过至少一组铰轴组件铰接，且具有锁定部，其中一组所述铰轴组件包括能够与所述锁定部锁定的锁定件；所述锁定件和所述锁定部在锁定状态，所述插座盖相对所述插座主体打开设定角度；所述锁定件和所述锁定部在解锁状态，所述插座盖能够相对所述插座主体转动。2.根据权利要求1所述的插座，其特征在于，所述锁定部为锁定凹部或锁定凸部，所述其中一组所述铰轴组件包括：中空轴；滑动装配于所述中空轴内且被限制转动且两端伸出所述中空轴的锁杆；与所述锁杆的一端连接的按钮；位于所述按钮与所述中空轴之间的弹簧；及，与所述锁杆的另一端连接的所述锁定件，其中：所述锁定件具有能够与所述锁定部凸凹适配的锁定端，所述锁定件和所述锁定部在锁定状态，所述锁杆处于第一轴向位置，所述锁定端与所述锁定部凸凹配合，所述插座盖相对所述插座主体打开设定角度；所述锁定件和所述锁定部在解锁状态，所述锁杆处于第二轴向位置，所述锁定端与所述锁定部分离，所述插座盖能够相对所述插座主体转动。3.根据权利要求2所述的插座，其特征在于，所述框架的后部具有两对第一铰接孔，所述插座盖具有与两对所述第一铰接孔同轴线设置的两个第二铰接孔，每个所述第二铰接孔位于一对所述第一铰接孔之间；所述至少一组铰轴组件包括两组铰轴组件，每组所...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢印洲，
申请(专利权)人：恩普乐斯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：