一种测试曲线的标记方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:34967527 阅读:81 留言:0更新日期:2022-09-17 12:48
本发明专利技术公开了一种测试曲线的标记方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:若检测到标记触发事件,则确定待标记测试曲线的目标位置;根据所述目标位置和预设分割参数,生成所述待标记测试曲线的至少两条参考线;根据至少两条参考线,确定所述待标记测试曲线的标记位置,以根据标记位置进行标记。本技术方案解决了放大标记方式效率低下、准确性难以保证等问题,可以在提高标记效率的同时,减少标记偏差,进而达到良好的标记效果。而达到良好的标记效果。而达到良好的标记效果。

【技术实现步骤摘要】
一种测试曲线的标记方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及电磁兼容测试
,尤其涉及一种测试曲线的标记方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]电磁兼容性测试是指测试设备或系统在其电磁环境中符合要求运行,并且不对电磁环境中的任何设备产生无法忍受的电磁干扰的能力。电磁兼容性测试通常将接收机放置于控制室内,若控制室的屏蔽效果不理想,外界的干扰信号,例如基站信号、WIFI信号或蓝牙信号等,有可能进入到接收机的射频输入口,进而在接收机的频谱上产生频谱干扰信号。
[0003]目前,在电磁兼容测试过程中,通常依靠测试人员来标记测试曲线上的干扰信号等造成的风险频率点。测试人员需要频繁的对测试曲线进行放大以标记一定范围内的最大幅度值频率点。通过测试人员放大测试曲线进行标记的方式容易造成标记偏差,并且标记效率低下。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种测试曲线的标记方法、装置、设备及存储介质,以解决放大标记方式效率低下、准确性难以保证等问题,可以在提高标记效率的同时,减少标记偏差,进而达到良好的标记效本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试曲线的标记方法,其特征在于,所述方法包括:若检测到标记触发事件,则确定待标记测试曲线的目标位置;根据所述目标位置和预设分割参数,生成所述待标记测试曲线的至少两条参考线;根据至少两条参考线,确定所述待标记测试曲线的标记位置,以根据标记位置进行标记。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标位置和预设分割参数,生成所述待标记测试曲线的至少两条参考线,包括:根据所述预设分割参数、待标记测试曲线涉及的频率范围,计算分割平均值;根据所述目标位置和所述分割平均值,确定第一参考位置和第二参考位置;在所述第一参考位置生成垂直于待标记测试曲线横坐标的第一参考线,和,在所述第二参考位置生成垂直于待标记测试曲线横坐标的第二参考线。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述分割平均值的计算公式为:;其中,表示待标记测试曲线涉及的最大频率,表示待标记测试曲线涉及的最小频率,表示预设分割参数。4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,若所述待标记测试曲线以半对数坐标系显示,则所述第一参考位置的横坐标计算公式为:, 所述第二参考位置的横坐标计算公式为:;若所述待标记测试曲线以线性坐标系显示,则所述第一参考位置的横坐标计算公式为:,所述第二参考位置的横坐标计算公式为:;其中,表示目标位置的横坐标,表示分割平均值。5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据至少两条参考线,确定所述待标记测试曲线的标记位置,以根据标记位置进行标记,包括:根据所述第一参考线确定待标记测试曲线的第一频率,和,根据所述第二参考线确定待标记测试曲线的第二频率;根据所述第一频率和第二频率,确定频率区间,并确定所述频率区间内待标记测试曲线的幅度最大值;根据所述幅度最大值,确定所述待标记测试曲线的...

【专利技术属性】
技术研发人员:邹仁其陆馗枢戴林军张进库郭星星许畅
申请(专利权)人:深圳东昇射频技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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