一种基于光子转移曲线的自动化满阱测试方法技术

本发明专利技术提供一种基于光子转移曲线的自动化满阱测试方法。该方法实现CCD探测器满阱的自动化测量，基于光子转移曲线的相关理论，以及一套测试环境和测试软件。该方法用于在使用没有开发经验的探测器芯片，如CCD探测器进行成像电路的设计时，解决电路设计中需要找到最佳电路参数的问题。本发明专利技术应用于成像电路的设计和调试阶段，能够快速且自动化的得出探测器的满阱值。在测试结果中，满阱值最高的结果所对应的电路参数，即认为是最佳电路参数。即认为是最佳电路参数。即认为是最佳电路参数。

【技术实现步骤摘要】
一种基于光子转移曲线的自动化满阱测试方法


[0001]本专利技术属于光电成像器件性能参数检测
，具体涉及一种基于光子转移曲线的自动化满阱测试方法。

技术介绍

[0002]紫外高光谱大气成分探测仪是一种空间光学载荷，具有探测目标区域痕量污染气体含量的能力，CCD探测器是紫外高光谱大气成分探测仪中的重要组成部分。
[0003]CCD探测器(Charge
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coupled Device，电荷耦合器件，以下简称CCD)，是一种集成电路，由许多排列整齐的电容组成，能感应光线，并将影像转变成数字信号。经由外部电路的控制，每个电容能将其所带的电荷转给它相邻的电容。CCD广泛应用在数字摄影、天文学，尤其是摄影测量学、光学与频谱望远镜、高速摄影中。其关键的参数包括读出速度、满阱、读出噪声等等。在紫外高光谱大气成分探测仪的工程应用中，更加看重CCD的满阱性能。
[0004]通常来说，CCD的满阱由探测器本身的制造工艺决定。但同时，CCD能够发挥出的满阱不但和探测器本身的制造工艺相关，还和CCD成像电路的电路设计水平相关。电路本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于光子转移曲线的自动化满阱测试方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一，搭建实验装置，所述实验装置包括光源、光源控制器、积分球、CCD探测器及其成像电路、热敏电阻、数据采集器和工控机；步骤二，选择CCD探测器的曝光时间T，固定此曝光时间用于后续测量；步骤三，调节光源，使得当前光强下，CCD探测器有微弱响应，记录光源强度A1；再次调节光源，使得当前光强下，光源亮度明显大于CCD探测器饱和亮度，记录光源强度A20；步骤四，将光源强度分为20档，标记为A1到A20；步骤五，开始执行自动测试流程；步骤六，自动测试流程首先关闭光源，每隔T时间采集温度和图像，当温度差小于1％且连续两幅图像的均值差小于1％时，表示温度和图像稳定，此时采集两幅图像，分别记作F1和F2，将两幅图像的均值记作M0；步骤七，图像F1和图像F2对应像素值相减，形成一幅新的图像，即生成图像F3＝F1
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F2，计算F3的方差，记作V0；步骤八，将光源强度调节到A1，重复步骤六和步骤七中操作，待温度和方差图像稳定后，采集两幅图像，两幅图像相减得到第三幅图像，计算均值和方差，得到M1和V1；步骤九，依...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘文清，林方，王煜，常振，邱晓晗，刘国华，
申请(专利权)人：中国科学院合肥物质科学研究院，
类型：发明
国别省市：