光标测量方法、系统、终端设备及介质技术方案

本发明专利技术公开了一种光标测量方法、系统、终端设备以及计算机可读存储介质，该光标测量方法的步骤包括：确定各个标记对应的角度，获取示波器水平方向上的各个所述标记相对于所述显示屏中参考线的水平参量；获取所述显示屏中的光标和所述参考线之间的水平参量；基于各个所述标记相对于所述显示屏中参考线的水平参量、多个所述标记对应的角度以及所述光标和所述参考线之间的水平参量得到所述光标在预设目标位置处的参数测量值。本发明专利技术能够对示波器上光标所在位置处的参数进行精准测量。上光标所在位置处的参数进行精准测量。上光标所在位置处的参数进行精准测量。

【技术实现步骤摘要】
光标测量方法、系统、终端设备及介质


[0001]本专利技术涉及示波器
，尤其是涉及一种光标测量方法、系统、终端设备以及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]示波器可显示电压或者电流等参数随时间的变化曲线，其中，水平方向是时间，垂直方向是电压或者电流。
[0003]在示波器上有光标测量，光标分为垂直光标和水平光标，水平光标测量垂直方向上的电压、电流等数值；垂直光标测量水平方向上的时间。对于某些波形可能会有一些特殊的含义，比如，在一个周期代表圆的一周360度。在现有技术中无法对一个周期内的具体位置处的角度和周期等物理参数进行精确测量。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于提供一种光标测量方法、系统、终端设备以及计算机可读存储介质，旨在对示波器上光标所在位置处的参数进行精准测量。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供一种光标测量方法，所述光标测量包括：
[0006]确定各个标记对应的角度，获取示波器水平方向上的各个所述标记相对于所述显示屏中参考线的水平参量；
[0007]获取所述显示屏中的光标和所述参考线之间的水平参量；
[0008]基于各个所述标记相对于所述显示屏中参考线的水平参量、多个所述标记对应的角度以及所述光标和所述参考线之间的水平参量得到所述光标在预设目标位置处的参数测量值。
[0009]可选地，各个所述标记包括：第一标记和第二标记；
[0010]所述确定各个标记对应的角度，获取示波器水平方向上的各个所述标记相对于所述显示屏中参考线的水平参量的步骤，包括：
[0011]确定所述第一标记对应的第一角度和所述第二标记对应第二角度，并确定所述第一标记和所述第二标记分别相对于所述参考线的第一水平参量和第二水平参量。
[0012]可选地，所述参考线包括：基于所述第一标记的竖直线、基于所述第二标记的竖直线、所述显示屏的屏幕边沿、所述显示屏的竖直中心线和所述显示屏上任意位置处的竖直线，水平参量包括：像素、距离、时间和比例。
[0013]可选地，所述获取示波器水平方向上的各个所述标记相对于所述显示屏中参考线的水平参量的步骤，包括：
[0014]当所述标记未在所述显示屏中时，将所述标记移动至所述显示屏中，并确定平移后的标记相对于所述参考线的水平参量，以根据所述水平参量、所述角度、所述光标和所述参考线之间的水平参量得到所述光标在预设目标位置处的参数测量值。
[0015]可选地，所述获取示波器水平方向上的各个所述标记相对于所述显示屏中参考线
的水平参量的步骤，包括：
[0016]在对所述显示屏中的波形进行缩放，基于所述示波器在缩放前后的波形的比例关系确定缩放后的标记相对于所述参考线的水平参量，以根据所述水平参量、所述角度、所述光标和所述参考线之间的水平参量得到所述光标在预设目标位置处参数测量值，其中，所述比例关系根据所述示波器在缩放前的第一时基档位和缩放后的第二时基档位确定。
[0017]可选地，在对所述显示屏中的波形进行放大后，若此时所述第一标记未在所述显示屏中，则通过移动所述波形将所述第一标记平移至所述显示屏中，并确定第一平移参量；
[0018]基于所述第一平移参量、所述第一水平参量、所述第二水平参量、所述第一时基档位和所述第二时基档位，确定所述屏幕中的第一标记和所述第二标记分别相对于所述参考线的第三水平参量和第四水平参量；
[0019]所述基于各个所述标记相对于所述显示屏中参考线的水平参量、多个所述标记对应的角度以及所述光标和所述参考线之间的水平参量得到所述光标在预设目标位置处的参数测量值的步骤，包括：
[0020]基于所述第三水平参量和所述第四水平参量获取所述平移后的第一标记和所述第二标记之间的第一相对参量，并根据所述第一相对参量、所述光标和所述参考线之间的水平参量、所述第三水平参量、所述角度得到所述光标在所述预设目标位置处的参数测量值。
[0021]可选地，在所述确定屏幕中的第一标记和所述第二标记分别相对于所述参考线的第三水平参量和第四水平参量的步骤之后，还包括：
[0022]获取第一调节参数，并根据所述第一调节参数对所述屏幕中第一标记进行精细调节得到第五水平参量；
[0023]所述基于各个所述标记相对于所述显示屏中参考线的水平参量、多个所述标记对应的角度以及所述光标和所述参考线之间的水平参量得到所述光标在预设目标位置处的参数测量值的步骤，还包括：
[0024]基于所述第五水平参量和所述第四水平参量获取精细调节后的第一标记和所述第二标记之间的第二相对参量，并根据第二相对参量、所述光标和所述参考线之间的水平参量、所述第五水平参量、所述角度得到所述光标在所述预设目标位置处的参数测量值。
[0025]可选地，所述光标测量方法，还包括：
[0026]在对所述显示屏中的波形进行放大后，若此时所述第二标记也未在所述显示屏中，则通过移动所述波形将所述第二标记平移至所述显示屏，并确定第二平移参量；
[0027]基于所述第五水平参量和所述第二平移参量确定所述精细调节后第一标记相对于所述显示屏的参考线的第六水平参量，并基于所述第四水平参量和所述第二平移参量确定屏幕中的第二标记相对于所述参考线的第七水平参量；
[0028]所述基于各个所述标记相对于所述显示屏中参考线的水平参量、多个所述标记对应的角度以及所述光标和所述参考线之间的水平参量得到所述光标在预设目标位置处的参数测量值的步骤，还包括：
[0029]基于所述第六水平参量和所述第七水平参量获取所述精细调节后的第一标记和所述屏幕中的第二标记的第三相对参量，并根据所述第三相对参量、所述光标和所述参考线之间的水平参量、所述第六水平参量、所述角度得到所述光标在所述预设目标位置处的
参数测量值。
[0030]可选地，在所述基于所述第四水平参量和所述第二平移参量确定屏幕中的第二标记相对于所述参考线的第七水平参量的步骤之后，还包括：
[0031]获取第二调节参数，并根据所述第二调节参数对所述平移后的第二标记进行精细调节得到第八水平参量；
[0032]所述基于各个所述标记相对于所述显示屏中参考线的水平参量、多个所述标记对应的角度以及所述光标和所述参考线之间的水平参量得到所述光标在预设目标位置处的参数测量值的步骤，还包括：
[0033]基于所述第八水平参量和所述第六水平参量获取所述精细调节后的第一标记和所述精细调节后的第二标记之间的第四相对参量，并根据所述第四相对参量、所述光标和所述参考线之间的水平参量、所述第六水平参量、所述角度得到所述光标在所述预设目标位置处的参数测量值。
[0034]可选地，在所述显示屏中同时显示所述光标对应的时间和所述参数测量值。
[0035]为实现上述目的，本专利技术还提供一种光标测量系统，所述光标测量系统，包括：
[0036]第一获取模块，用于确定各个标记对应的角度，获取示波器水平方向上的各个所述标记相对于所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光标测量方法，其特征在于，所述光标测量方法应用于示波器，所述示波器包括显示屏，所述光标测量方法包括以下步骤：确定各个标记对应的角度，获取示波器水平方向上的各个所述标记相对于所述显示屏中参考线的水平参量；获取所述显示屏中的光标和所述参考线之间的水平参量；基于各个所述标记相对于所述显示屏中参考线的水平参量、多个所述标记对应的角度以及所述光标和所述参考线之间的水平参量得到所述光标在预设目标位置处的参数测量值。2.如权利要求1所述的光标测量方法，其特征在于，各个所述标记包括：第一标记和第二标记；所述确定各个标记对应的角度，获取示波器水平方向上的各个所述标记相对于所述显示屏中参考线的水平参量的步骤，包括：确定所述第一标记对应的第一角度和所述第二标记对应的第二角度，并确定所述第一标记和所述第二标记分别相对于所述参考线的第一水平参量和第二水平参量。3.如权利要求1所述的光标测量方法，其特征在于，所述参考线包括：基于所述第一标记的竖直线、基于所述第二标记的竖直线、所述显示屏的屏幕边沿、所述显示屏的竖直中心线和所述显示屏上任意位置处的竖直线，水平参量包括：像素、距离、时间和比例。4.如权利要求1所述的光标测量方法，其特征在于，所述获取示波器水平方向上的各个所述标记相对于所述显示屏中参考线的水平参量的步骤，包括：当所述标记未在所述显示屏中时，将所述标记移动至所述显示屏中，并确定平移后的标记相对于所述参考线的水平参量，以根据所述水平参量、所述角度、所述光标和所述参考线之间的水平参量得到所述光标在预设目标位置处的参数测量值。5.如权利要求1或者2所述的光标测量方法，其特征在于，所述获取示波器水平方向上的各个所述标记相对于所述显示屏中参考线的水平参量的步骤，包括：在对所述显示屏中的波形进行缩放后，基于所述示波器在缩放前后的波形的比例关系确定缩放后的标记相对于所述参考线的水平参量，以根据所述水平参量、所述角度、所述光标和所述参考线之间的水平参量得到所述光标在预设目标位置处参数测量值，其中，所述比例关系根据所述示波器在缩放前的第一时基档位和缩放后的第二时基档位确定。6.如权利要求5所述的光标测量方法，其特征在于，所述光标测量方法，还包括：在对所述显示屏中的波形进行放大后，若此时第一标记未在所述显示屏中，则通过移动所述波形将所述第一标记平移至所述显示屏中，并确定第一平移参量；基于所述第一平移参量、所述第一水平参量、所述第二水平参量、所述第一时基档位和所述第二时基档位，确定屏幕中的第一标记和所述第二标记分别相对于所述参考线的第三水平参量和第四水平参量；所述基于各个所述标记相对于所述显示屏中参考线的水平参量、多个所述标记对应的角度以及所述光标和所述参考线之间的水平参量得到所述光标在预设目标位置处的参数测量值的步骤，包括：基于所述第三水平参量和所述第四水平参量获取所述屏幕中的第一标记和所述第二标记之间的第一相对参量，并根据所述第一相对参量、所述光标和所述参考线之间的水平
参量、所述第三水平参量、所述角度得到所述光标在所述预设目标位置处的参数测量值。7.如权利要求6所述的光标测量方法，其特征在于，在所述确定屏幕中的第一标记和所述第二标记分别相对于所述参考线的第三水平参量和第四水平参量的步骤之后，还包括：获取第一调节参数，并根据所述第一调节参数对所述屏幕中的第一标记进行精细调节得到第五水平参量...

【专利技术属性】
技术研发人员：张兴杰，王冠群，
申请(专利权)人：深圳麦科信科技有限公司，
类型：发明
国别省市：