一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置，包括依次同轴设置的测试激光发生器、准直模块、被测锥透镜、聚焦镜模块、聚焦镜模块；还包括与相机模块电连接的显示屏。由测试激光发生器发出带有发散角且为高斯光束的检测光，经过准直模块后形成平行光，再经过被测锥透镜后形成大圆环光斑的贝塞尔光束，再经过聚焦镜模块后形成小圆环光斑的贝塞尔光束并射到相机模块上，最后通过与相机模块电连接的显示屏显示出来，在整个过程中不需要与被测锥透镜直接接触，能有效避免出现锥透镜表面损伤的情况，还能将通过被测锥透镜后的贝塞尔光束在显示屏上显示出来。塞尔光束在显示屏上显示出来。塞尔光束在显示屏上显示出来。

【技术实现步骤摘要】
一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置


[0001]本技术属于透镜面型质量检测
，具体涉及一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置。

技术介绍

[0002]锥透镜是一种重要的光学元器件，它可以将入射光线按照一定的角度进行折射。通过这些折射后的光束之间的干涉和衍射，使得锥透镜的焦线可以变得很长，能沿着光轴产生的一条长的焦距线。当一束高斯光束透过锥透镜时，会变成一束贝塞尔光束，这种光束可以随着距离增加直径而保持光环的宽度，在短距离内几乎没有衍射，在通过障碍物后可以自己复原，用于科研、测量、校准、精密加工、医疗，尤其是显微镜、光镊和眼睛的激光手术，使用也越来越广泛。但是锥透镜的面型质量直接影响形成贝塞尔光束的质量。
[0003]现有技术中，对于锥透镜面型质量的检测，暂无有效方法，通常是通过对锥透镜的锥面进行检测，并且锥面的检测方法在机械制造领域比较成熟，有各种直接和间接的测量方法，例如，锥度环规，锥度塞规，但是这些方法应用到光学锥透镜的测量，具有以下缺点：1、容易刮伤零件的锥表面；2、测量的精度不高，测的表面面型只能达到3μ左右，而光学产品的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种锥透镜面型质量检测的辅助成像装置，其特征在于：包括测试激光发生器(1)，所述测试激光发生器(1)用于发出带有发散角且为高斯光束的检测光；还包括准直模块(2)，所述准直模块(2)用于将检测光校准为平行光后射入到被测锥透镜(3)上；还包括聚焦镜模块(4)，所述聚焦镜模块(4)用于将由被测锥透镜(3)射出的大圆环状光斑的贝塞尔光束聚焦成小圆环光斑的贝塞尔光束；还包括相...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩强，周志凯，阳九林，段奇，
申请(专利权)人：卡门哈斯激光科技苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：