用于电缆表面缺陷精准定位的方法技术

本发明专利技术公开了一种用于电缆表面缺陷精准定位的方法，涉及图像处理领域。包括：获得待进行表面缺陷定位的电缆的表面灰度图像；判断表面灰度图像中每一行分别为强光照行或弱光照行；分别判断表面灰度图像中每一行是否为疑似缺陷行；将表面灰度图像中被判定为弱光照行且被判定为疑似缺陷行的行作为第一类行，分别确定对每一第一类行中每一像素点更新后的灰度值，并利用大津法分别确定表面灰度图像中每一疑似缺陷行对应的缺陷分割阈值，以分别获得每一疑似缺陷行中缺陷像素点，并将所有缺陷像素点组成所定位出的缺陷区域。本发明专利技术实施例能够避免电缆的表面光照不均的不良影响，从而获得更为精确的对于电缆的表面缺陷的定位结果。更为精确的对于电缆的表面缺陷的定位结果。更为精确的对于电缆的表面缺陷的定位结果。

【技术实现步骤摘要】
用于电缆表面缺陷精准定位的方法


[0001]本专利技术涉及图像处理领域，具体涉及一种用于电缆表面缺陷精准定位的方法。

技术介绍

[0002]电缆作为进行传输电能，实现电磁能转化的重要的工业线材产品，在基础设施建设中占据重要地位，同时电缆在生产过程中，由于生产原料、模套承线、机身温度等原因，可能会在表面存在麻花纹、凹陷小孔、划痕破损等表面缺陷，这些缺陷不仅影响着电缆的美观，而且还会给电缆的使用过程带来安全隐患，因此，需要对电缆的表面缺陷进行检测。
[0003]目前对于电缆中所存在的表面缺陷的检测，主要通过电缆的表面灰度图像的灰度直方图进行分析，从而确定出用于进行缺陷分割的灰度阈值，并利用灰度阈值分割出其中的表面缺陷所在的区域。
[0004]然而，专利技术人在实现本专利技术实施例的过程中发现，电缆呈现为圆柱状且其表面光滑，在电缆的表面会产生高反光现象，造成电缆的表面不同位置的光照并不均匀，使得通过灰度直方图确定整体分割的阈值并进行阈值分割的做法，所得到的对于电缆的表面缺陷的检测结果并不准确。

技术实现思路

[0005]针对上述技术问题，本专利技术提供了一种用于电缆表面缺陷精准定位的方法，通过对待进行表面缺陷定位的电缆的表面灰度图像进行处理，分别判断表面灰度图像中每一行为强光照行或弱光照行，同时分别判断表面灰度图像中每一行是否为疑似缺陷行，同时将表面图像中像素点的亮度纳入考虑，实现对被判定为疑似缺陷且被判定为弱光照行中像素点的灰度值的更新，并分别确定每一缺陷疑似行的分割阈值，避免了电缆的表面光照不均对缺陷检测结果的不良影响，相对于全局阈值分割获得缺陷区域，能够获得更为精确的表面缺陷的定位结果。
[0006]本专利技术实施例提出了一种用于电缆表面缺陷精准定位的方法，包括：获得待进行表面缺陷定位的电缆的表面灰度图像。
[0007]根据表面灰度图像中每一行的像素点的灰度均值与每一行的标准灰度均值的大小关系，判断表面灰度图像中每一行分别为强光照行或弱光照行。
[0008]根据表面灰度图像中每一行的像素点的灰度值的方差与每一行的灰度值的方差的标准值的大小关系，分别判断表面灰度图像中每一行是否为疑似缺陷行。
[0009]将表面灰度图像中被判定为弱光照行且被判定为疑似缺陷行的行作为第一类行，根据第一类行中像素点的邻域内像素点所在行的像素点的灰度均值，以及第一类行中像素点的邻域内像素点的灰度值，确定对第一类行中像素点更新后的灰度值。
[0010]对第一类行中像素点的灰度值进行更新后，利用大津法分别确定表面灰度图像中每一疑似缺陷行对应的缺陷分割阈值，以分别获得每一疑似缺陷行中缺陷像素点，并将所有缺陷像素点组成所定位出的缺陷区域。
[0011]进一步的，用于电缆表面缺陷精准定位的方法中，根据第一类行中像素点的邻域内像素点所在行的像素点的灰度均值，以及第一类行中像素点的邻域内像素点的灰度值，确定对第一类行中像素点更新后的灰度值，包括：根据第一类行中像素点的邻域内像素点所在行的像素点的灰度均值，以及第一类行中像素点的邻域内像素点的灰度值，分别确定第一类行中像素点相对于邻域内每一像素点的灰度特征差值。
[0012]将第一类行中像素点相对于邻域内各像素点的所有灰度特征差值的绝对值之和，作为对第一类行中像素点更新后的灰度值。
[0013]进一步的，用于电缆表面缺陷精准定位的方法中，利用大津法分别确定表面灰度图像中每一疑似缺陷行对应的缺陷分割阈值，包括：分别确定每一分割阈值对表面灰度图像中每一疑似缺陷行进行分割后的初始的类间方差，所述分割阈值从每一疑似缺陷行中所有灰度级中进行选择。
[0014]根据分割阈值对应的灰度级在每一疑似缺陷行中像素点的频数占比，确定每一分割阈值对表面灰度图像中每一疑似缺陷行进行分割后的新的类间方差，且所述频数占比越大，新的类间方差越小。
[0015]将类间方差最大的分割阈值作为表面灰度图像中每一疑似缺陷行对应的缺陷分割阈值。
[0016]进一步的，用于电缆表面缺陷精准定位的方法中，获得待进行表面缺陷定位的电缆的表面灰度图像，包括：获得待测电缆的表面的第一灰度图像。
[0017]根据第一灰度图像中像素点的灰度值的方差是否大于预设方差阈值，判断待测电缆中是否存在表面缺陷。
[0018]将被判定为存在缺陷的待测电缆的第一灰度图像作为待进行表面缺陷定位的电缆的表面灰度图像。
[0019]进一步的，用于电缆表面缺陷精准定位的方法中，获得待测电缆的表面的第一灰度图像后，所述方法还包括：对第一灰度图像中的电缆区域进行提取，并将所提取出的电缆区域作为新的第一灰度图像。
[0020]进一步的，用于电缆表面缺陷精准定位的方法中，每一行的标准灰度均值，是根据无缺陷的电缆的表面灰度图像中同一行的像素点的灰度均值获得的。
[0021]进一步的，用于电缆表面缺陷精准定位的方法中，每一行的灰度值的方差的标准值，是根据无缺陷的电缆的表面灰度图像中同一行的像素点的灰度值得方差获得的。
[0022]本专利技术提供了一种用于电缆表面缺陷精准定位的方法，相比于现有技术，本专利技术实施例的有益效果在于：通过对待进行表面缺陷定位的电缆的表面灰度图像进行处理，分别判断表面灰度图像中每一行为强光照行或弱光照行，同时分别判断表面灰度图像中每一行是否为疑似缺陷行，同时将表面图像中像素点的亮度纳入考虑，实现对被判定为疑似缺陷且被判定为弱光照行中像素点的灰度值的更新，并分别确定每一缺陷疑似行的分割阈值，避免了电缆的表面光照不均对缺陷检测结果的不良影响，相对于全局阈值分割获得缺陷区域，能够获得更为精确的表面缺陷的定位结果。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0024]图1是本专利技术实施例提供的一种用于电缆表面缺陷精准定位的方法的流程示意图；图2是本专利技术实施例中图像采集过程的示意图；图3是本专利技术实施例中边缘存在缺陷的电缆的示意图；图4是本专利技术实施例中电缆表面产生反光现象的示意图。
具体实施方式
[0025]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0026]以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.用于电缆表面缺陷精准定位的方法，其特征在于，包括：获得待进行表面缺陷定位的电缆的表面灰度图像；根据表面灰度图像中每一行的像素点的灰度均值与每一行的标准灰度均值的大小关系，判断表面灰度图像中每一行分别为强光照行或弱光照行；根据表面灰度图像中每一行的像素点的灰度值的方差与每一行的灰度值的方差的标准值的大小关系，分别判断表面灰度图像中每一行是否为疑似缺陷行；将表面灰度图像中被判定为弱光照行且被判定为疑似缺陷行的行作为第一类行，根据第一类行中像素点的邻域内像素点所在行的像素点的灰度均值，以及第一类行中像素点的邻域内像素点的灰度值，确定对第一类行中像素点更新后的灰度值；对第一类行中像素点的灰度值进行更新后，利用大津法分别确定表面灰度图像中每一疑似缺陷行对应的缺陷分割阈值，以分别获得每一疑似缺陷行中缺陷像素点，并将所有缺陷像素点组成所定位出的缺陷区域。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据第一类行中像素点的邻域内像素点所在行的像素点的灰度均值，以及第一类行中像素点的邻域内像素点的灰度值，确定对第一类行中像素点更新后的灰度值，包括：根据第一类行中像素点的邻域内像素点所在行的像素点的灰度均值，以及第一类行中像素点的邻域内像素点的灰度值，分别确定第一类行中像素点相对于邻域内每一像素点的灰度特征差值；将第一类行中像素点相对于邻域内各像素点的所有灰度特征差值的绝对值之和，作为对第一类行中像素点更新后的灰度值。3.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：田伟凯，刘海荔，荣祥来，
申请(专利权)人：聊城市正晟电缆有限公司，
类型：发明
国别省市：