显示面板的检测方法、检测装置及显示面板制造方法及图纸

本申请提供一种显示面板的检测方法、检测装置及显示面板，涉及显示技术领域。该方法通过在驱动边缘识别像素发光时，获取显示面板上显示的第一图像，采用边缘检测算法对第一图像进行识别，以确定显示面板的像素边界区域，在驱动显示像素发光时，获取显示面板上显示的第二图像，根据像素边界区域和第二图像，确定显示面板是否存在显示缺陷。通过对显示面板中增设的边缘识别像素进行驱动发光，以有效识别显示面板的像素边界区域，并将像素边界区域与显示像素发光时的第二图像进行比较，可有效检测出显示面板是否存在显示缺陷，降低了人力资源，且提高了检测效率和检测准确性。且提高了检测效率和检测准确性。且提高了检测效率和检测准确性。

【技术实现步骤摘要】
显示面板的检测方法、检测装置及显示面板


[0001]本申请涉及显示
，尤其涉及一种显示面板的检测方法、检测装置及显示面板。

技术介绍

[0002]专利技术人经过长期研究发现，在有机发光二极管(organic light
‑
emitting diode，OLED)显示面板的生产过程中，显示像素可能会出现暗线不良等显示缺陷，从而影响产品的良率，因此，在显示面板的制造过程中，需要对显示面板是否存在显示缺陷进行检测。
[0003]目前，可通过自动光学检测(automated optical inspection，AOI)设备采集显示面板中的显示像素发光时的图像，通过肉眼观察该图像中是否存在未被点亮的显示像素，从而确定显示面板是否存在显示缺陷。
[0004]但是，这种人工检测显示缺陷的方式，需要花费大量的人力资源，且检测效率和检测准确性较低。

技术实现思路

[0005]鉴于上述问题，本申请实施例提供一种显示面板的检测方法、显示面板的检测装置及显示面板，通过边缘识别像素有效检测像素边界区域，从而可检测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，所述显示面板包括显示像素和边缘识别像素，所述方法包括；在驱动所述边缘识别像素发光时，获取所述显示面板上显示的第一图像；采用边缘检测算法对所述第一图像进行识别，以确定所述显示面板的像素边界区域；在驱动所述显示像素发光时，获取所述显示面板上显示的第二图像；根据所述像素边界区域和所述第二图像，确定所述显示面板是否存在显示缺陷。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述像素边界区域和所述第二图像，确定所述显示面板是否存在显示缺陷，包括：检测所述第二图像对应的所述像素边界区域内的各个显示像素，是否存在未被点亮的暗点像素；当存在未被点亮的暗点像素时，根据所述暗点像素的分布信息确定所述显示面板是否存在显示缺陷。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述暗点像素的分布信息确定所述显示面板是否存在显示缺陷，包括：当多个所述暗点像素连续分布，且连续分布的多个所述暗点像素的数量大于或等于第一预设数量时，确定所述显示面板存在暗线不良。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述暗点像素的分布信息确定所述显示面板是否存在显示缺陷，包括：当多个所述暗点像素分散分布，且多个所述暗点像素的数量大于或等于第二预设数量时，确定所述显示面板存在暗点不良。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述检测所述第二图像对应的所述像素边界区域内的各个显示像素，是否存在未被点亮的暗点像素，包括：获取所述第二图像对应的所述像素边界区域内的各个显示像素的灰阶值；当所述显示像素的灰阶值小于或等于预设灰阶阈值时，确定所述显示像素为未被点亮的暗点像素；当所述显示像素的灰阶值大于所述预设灰阶阈值时，确定所述显示像素为被点亮的正常像素。6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，所述采用边缘检测算法对所述第一图像进行识别，以确定所述显示面板的像素边界区域，包括：采用凸包算法识别所述第一图像中的凸包点集合；将所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王晓伟，
申请(专利权)人：云谷固安科技有限公司，
类型：发明
国别省市：