一种微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置制造方法及图纸

技术编号:34919749 阅读:14 留言:0更新日期:2022-09-15 07:11
本实用新型专利技术公开了一种微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置,包括台板,所述台板上设有三轴移动组件、检测组件及支撑组件,所述支撑组件包括支架及放置在所述支架上的托盘,所述托盘的顶面为水平面,所述三轴移动组件包括移动板且所述检测组件设置在所述移动板上,所述检测组件包括激光发射器,所述激光发射器位于所述支架的上方且所述激光发射器的出射端朝向所述支架。本实用性提供的微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置能够自动对微波射频铁氧体器件底面平整度进行检测,检测结果可靠,并有效降低检测员的劳动强度,利于微波射频铁氧体器件产品的大批量生产。频铁氧体器件产品的大批量生产。频铁氧体器件产品的大批量生产。

【技术实现步骤摘要】
一种微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置


[0001]本技术涉及自动化设备
,尤其涉及一种微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置。

技术介绍

[0002]表贴式微波射频铁氧体器件产品在使用时需焊接在PCB板的焊点上,因此微波射频铁氧体器件腔体的底面及PIN针的端部需要位于同一平面上,以使微波射频铁氧体器件与PCB板接触稳定,进而确保微波射频铁氧体器件与PCB板焊接的可靠性。因此表贴式微波射频铁氧体器件组装完成后在入库前必须检测其底面的平面度,目前一般采用目测的方式进行检测,可靠性较差,且检测员劳动强度高、易疲劳,不利于微波射频铁氧体器件的批量生产。

技术实现思路

[0003]本技术所要解决的技术问题是:提供一种能够提高微波射频铁氧体器件平面度的检测效率的微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置。
[0004]为了解决上述技术问题,本技术采用的技术方案为:一种微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置,包括台板,所述台板上设有三轴移动组件、检测组件及支撑组件,所述支撑组件包括支架及放置在所述支架上的托盘,所述托盘的顶面为水平面,所述三轴移动组件包括移动板且所述检测组件设置在所述移动板上,所述检测组件包括激光发射器,所述激光发射器位于所述支架的上方且所述激光发射器的出射端朝向所述支架。
[0005]进一步的,所述支架具有容置腔,所述托盘放置于所述容置腔内并与所述容置腔的内壁贴合。
[0006]进一步的,所述支架的其中一个侧面设有供所述托盘穿过的通槽,所述通槽与所述容置腔连通。
[0007]进一步的,所述支架上还设有避位缺口,所述避位缺口与所述容置腔连通。
[0008]进一步的,所述激光发射器发出的激光与水平面所成的夹角为锐角。
[0009]进一步的,所述台板上还设有收纳盒,所述收纳盒靠近所述支架设置,所述移动板上还设有吸嘴且所述吸嘴可在所述托盘与所述收纳盒之间往复移动。
[0010]进一步的,所述支撑组件还包括吸塑盒,所述吸塑盒的形状及尺寸与所述托盘一致。
[0011]本技术的有益效果在于:本技术提供的微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置包括设置在台板上的三轴移动组件、检测组件及支撑组件,其中支撑组件包括用于承载待检测微波射频铁氧体器件的托盘及对托盘进行定位的支架,待检测的微波射频铁氧体器件倒扣放置于托盘上使待检测的微波射频铁氧体器件底面朝上,然后由三轴移动组件带动检测组件中的激光发射器移动至托盘上方并由激光发射器发出激光依次照射托盘上的微波射频铁氧体器件即可测出激光发射器的发射端与微波射频铁氧体器件的底面之
间的距离,并计算出微波射频铁氧体器件底面相对托盘表面的高度,通过激光发射器的移动进行扫描以检测微波射频铁氧体器件的底面相对于托盘表面之间的距离是否产生变化,进而判断微波射频铁氧体器件的底面是否平整,以实现对微波射频铁氧体器件底面平整度的自动检测,检测结果可靠,并有效降低检测员的劳动强度,利于微波射频铁氧体器件产品的大批量生产。
附图说明
[0012]图1为本技术实施例一的微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置的结构示意图;
[0013]图2为本技术实施例一的微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置的部分结构示意图;
[0014]图3为本技术实施例一的微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置中部分结构的俯视图;
[0015]图4为本技术实施例一的微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置中部分三轴移动组件及检测组件的结构示意图;
[0016]图5为本技术实施例一的微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置中部分结构的主视图;
[0017]图6为本技术实施例一的微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置中支撑组件的结构示意图。
[0018]标号说明:
[0019]1、台板;2、三轴移动组件;21、移动板;3、检测组件;31、激光发射器;4、支撑组件;41、支架;42、托盘;43、容置腔;44、通槽;45、避位缺口;46、吸塑盒;5、收纳盒;6、吸嘴;7、机架。
具体实施方式
[0020]为详细说明本技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图予以说明。
[0021]请参照图1至图6,一种微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置,包括台板1,所述台板1上设有三轴移动组件2、检测组件3及支撑组件4,所述支撑组件4包括支架41及放置在所述支架41上的托盘42,所述托盘42的顶面为水平面,所述三轴移动组件2包括移动板21且所述检测组件3设置在所述移动板21上,所述检测组件3包括激光发射器31,所述激光发射器31位于所述支架41的上方且所述激光发射器31的出射端朝向所述支架41。
[0022]从上述描述可知,本技术的有益效果在于:本实用性提供的微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置能够自动对微波射频铁氧体器件底面平整度进行检测,检测结果可靠,并有效降低检测员的劳动强度,利于微波射频铁氧体器件产品的大批量生产。
[0023]进一步的,所述支架41具有容置腔43,所述托盘42放置于所述容置腔43内并与所述容置腔43的内壁贴合。
[0024]由上述描述可知,在支架41上设置容纳托盘42的容置腔43,且托盘42放入容置腔43后与容置腔43的内壁贴合以对托盘42进行定位。
[0025]进一步的,所述支架41的其中一个侧面设有供所述托盘42穿过的通槽44,所述通槽44与所述容置腔43连通。
[0026]由上述描述可知,在支架41的侧面设置通槽44供托盘42进出容置腔43,方便检测员取放。
[0027]进一步的,所述支架41上还设有避位缺口45,所述避位缺口45与所述容置腔43连通。
[0028]由上述描述可知,通过在支架41上设置避位缺口45可方便检测员拿取支架41上的托盘42并防止取出托盘42时托盘42倾斜导致放置在托盘42上的微波射频铁氧体器件滑落。
[0029]进一步的,所述激光发射器31发出的激光与水平面所成的夹角为锐角。
[0030]由上述描述可知,激光发射器31的发出的激光可设置为相对于水平面倾斜,以使激光发射器31发出的激光能够与多个待检测微波射频铁氧体器件同时接触,提升检测效率。
[0031]进一步的,所述台板1上还设有收纳盒5,所述收纳盒5靠近所述支架41设置,所述移动板21上还设有吸嘴6且所述吸嘴6可在所述托盘42与所述收纳盒5之间往复移动。
[0032]由上述描述可知,由检测组件3检测出不合格的微波射频铁氧体器件可由吸嘴6从托盘42上移动至收纳盒5中,以便于将不合格产品集中处理,防止不合格的产品混入合格的产品中。
[0033]进一步的,所述支撑组件4还包括吸塑盒46,所述吸塑盒46的形状及尺寸与所述托盘42一致。
[0034]由上述描述可知,从支架41上取放托盘42时可通过托盘42与吸塑盒46夹持微波射频铁氧体器件,防止微波射频铁氧体器本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置,包括台板,其特征在于:所述台板上设有三轴移动组件、检测组件及支撑组件,所述支撑组件包括支架及放置在所述支架上的托盘,所述托盘的顶面为水平面,所述三轴移动组件包括移动板且所述检测组件设置在所述移动板上,所述检测组件包括激光发射器,所述激光发射器位于所述支架的上方且所述激光发射器的出射端朝向所述支架。2.根据权利要求1所述的微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置,其特征在于:所述支架具有容置腔,所述托盘放置于所述容置腔内并与所述容置腔的内壁贴合。3.根据权利要求2所述的微波射频铁氧体器件平面度自动检验装置,其特征在于:所述支架的其中一个侧面设有供所述托盘穿过的通槽,所述通槽...

【专利技术属性】
技术研发人员:熊飞张伟
申请(专利权)人:深圳市华扬通信技术有限公司
类型:新型
国别省市:

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