一种自参考太赫兹双光梳系统技术方案

技术编号:34914333 阅读:82 留言:0更新日期:2022-09-15 07:04
本发明专利技术涉及一种自参考太赫兹双光梳系统,包括:第一光频梳、第二光频梳、T型偏置器和分波器;第一光频梳发出的光信号经过自由空间耦合进入第二光频梳的谐振腔中,并与第二光频梳拍频产生双光梳信号;T型偏置器用于获取由第二光频梳的自探测机制得到的双光梳信号;分波器用于将双光梳信号分成两路双光梳信号,第一路双光梳信号通过梳齿提取装置提取出一根梳齿后进入混频器的LO端口,第二路双光梳信号直接进入混频器的RF端口;混频器用于将双光梳信号与提取出的一根梳齿进行混频,并向频谱分析仪输出混频后的自参考双光梳信号;频谱分析仪用于实时检测得到的自参考双光梳信号。本发明专利技术能够获得高稳定的双光梳光谱。能够获得高稳定的双光梳光谱。能够获得高稳定的双光梳光谱。

【技术实现步骤摘要】
一种自参考太赫兹双光梳系统


[0001]本专利技术涉及半导体光电器件应用
,特别是涉及一种自参考太赫兹双光梳系统。

技术介绍

[0002]光学频率梳由一系列等间距分布的相干频率线组成,在时域上表现为固定相位关系的超短脉冲,具有高频率稳定性和低相位噪声特点。光频梳被用于精密光谱测量、时间测量、通信、测距等领域。基于其频率稳定的特性,还可用于绝对频率标定及高分辨率的光谱测量,光频梳通常由锁模激光器或非线性光学介质的四波混频效应产生。
[0003]双光梳是光频梳在高精度光谱中的直接应用,两个重复频率相近的光频梳通过相邻模式对拍频形成多外差光谱,称为双光梳。基于两个光频梳的外差采样,双光梳可以实现宽谱的高分辨率光谱测试,相较于傅立叶红外光谱仪(FTIR)和太赫兹时域光谱仪(THz

TDS)等传统的光谱设备,无需机械扫描结构,也不需要大体积飞秒激光器,因此双光梳光谱技术具有体积小、光谱数据获取快等特点。
[0004]太赫兹(THz)双光梳光谱系统,即利用两个太赫兹量子级联激光器(QCL)产生的光频梳形成多外差双光本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自参考太赫兹双光梳系统,其特征在于,包括:第一光频梳、第二光频梳、T型偏置器和分波器;所述第一光频梳发出的光信号经过自由空间耦合进入所述第二光频梳的谐振腔中,并与所述第二光频梳拍频产生双光梳信号;所述T型偏置器用于获取由所述第二光频梳的自探测机制得到的所述双光梳信号;所述分波器用于将所述双光梳信号分成两路双光梳信号,第一路双光梳信号通过梳齿提取装置提取出一根梳齿后进入混频器的LO端口,第二路双光梳信号直接进入所述混频器的RF端口;所述混频器用于将所述双光梳信号与所述提取出的一根梳齿进行混频,并向频谱分析仪输出混频后的自参考双光梳信号;所述频谱分析仪用于实时检测得到的自参考双光梳信号。2.根据权利要求1所述的自参考太赫兹双光梳系统,其特征在于,所述T型偏置器的混合端口与所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员:黎华马旭红李子平曹俊诚
申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
类型:发明
国别省市:

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