硬件模块测试方法及系统技术方案

技术编号:3491032 阅读:286 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种硬件模块测试方法及系统。其中,该硬件模块测试方法包括以下步骤:S102,分析硬件模块需要经历的测试场合,收集各测试场合的测试特点;S104,对各测试场合的测试特点进行统计,分离出各测试场合的独有测试特点和公有测试特点;S106,根据各测试场合的独有测试特点,建立各测试场合的测试专用执行单元,并根据各测试场合的公有测试特点,建立各测试场合的测试公用执行单元;S108,利用各测试场合的测试专用执行单元和测试公用执行单元,对硬件模块在各测试场合的功能或者性能进行测试。通过本发明专利技术,可以大大节省测试成本投入,提高开发和测试效率。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种硬件模块测试方法,其特征在于,包括以下步骤:分析硬件模块需要经历的测试场合,收集各测试场合的测试特点;对所述各测试场合的测试特点进行统计,分离出所述各测试场合的独有测试特点和公有测试特点;根据所述各测试场合的独有测试特点,建立所述各测试场合的测试专用执行单元,并根据所述各测试场合的公有测试特点,建立所述各测试场合的测试公用执行单元;以及利用所述各测试场合的测试专用执行单元和测试公用执行单元,对所述硬件模块在所述各测试场合的功能或者性能进行测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:崔文会王卓勇石檬
申请(专利权)人:中兴通讯股份有限公司
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1
相关领域技术
  • 暂无相关专利