一种集成电路板AOI检测系统技术方案

本发明专利技术涉及自动光学检测技术领域，具体涉及一种集成电路板AOI检测系统，包括上料系统、搬运系统、检测系统、下料系统。所述上料系统包括上料料仓A、上料料仓B、上料轨道A以及上料轨道B；所述搬运系统包括上料取放装置、双动子直线电机以及下料取放装置；所述检测系统包括光学系统、产品载台A、产品载台B以及XY运动平台；所述下料系统包括下料轨道A、下料轨道B、OK品料仓以及NG品料仓。通过双料仓快速上料，XY运动平台带动双产品载台配合光学系统精确检测，同时可根据检测结果进行物料的准确分类，从而实现自动化检测，双产品载台设计，互不干涉，利用上料下料时间同时进行检测，提高检测效率。提高检测效率。提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路板AOI检测系统


[0001]本专利技术涉及自动光学检测
，涉及一种集成电路板AOI检测系统。

技术介绍

[0002]集成电路已成为各行各业实现信息化、智能化的基础，是支撑经济发展的先导性产业。同时，集成电路使用的材料种类层出不穷，如何保证材料的质量成为关键一环。而以人工检测为主的检测方式，生产效率低，检测准确率受人为因素波动较大，整个过程费时费力，制约企业产能的进一步提升。
[0003]因此，为解决上述问题，需要提供一种集成电路板AOI检测系统。

技术实现思路

[0004]为解决人工检测，生产效率低，检测准确率受人为因素波动较大，整个过程费时费力的问题，本专利技术提供了一种集成电路板AOI检测系统。
[0005]为实现上述目的，本专利技术实施例提供了如下的技术方案：
[0006]第一方面，在本专利技术提供的一个实施例中，提供了一种集成电路板AOI检测系统，包括上料系统、搬运系统、检测系统、下料系统。
[0007]其中，所述上料系统包括上料料仓A、上料料仓B、上料轨道A以及上料轨道B；所述上料料仓A位于所述上料轨道A一端，所述上料轨道A位于所述上料轨道B一端，所述上料轨道A以及上料轨道B设置于所述搬运系统一侧；
[0008]所述搬运系统包括上料取放装置、双动子直线电机以及下料取放装置；所述上料取放装置和下料取放装置位于所述搬运系统的两端，所述上料取放装置和下料取放装置之间连接有双动子直线电机；
[0009]所述检测系统包括光学系统、产品载台A、产品载台B以及XY运动平台；所述检测系统位于所述搬运系统的上料取放装置和下料取放装置之间，所述产品载台A和产品载台B滑动设置在XY运动平台上，所述XY运动平台设有光学系统；
[0010]所述下料系统包括下料轨道A、下料轨道B、OK品料仓以及NG品料仓；所述下料系统位于所述下料取放装置一侧，所述下料轨道A与OK品料仓相连接，所述下料轨道B与NG品料仓相连接。
[0011]作为本专利技术的进一步方案，所述光学系统由相机、镜头、光源组成；其中，所述光源为同轴光、环光以及低角度光切换的发光光源。
[0012]作为本专利技术的进一步方案，所述上料轨道A与上料轨道B相平行设置且位于所述搬运系统的上料取放装置的取料端，用于通过上料料仓A和上料料仓B进行双料仓快速上料。
[0013]作为本专利技术的进一步方案，所述下料轨道A与下料轨道B相平行设置且位于所述搬运系统的下料取放装置的下料端，用于将品料放料至OK品料仓或NG品料仓。
[0014]作为本专利技术的进一步方案，所述双动子直线电机包括两个动子，所述双动子直线电机的一个动子连接上料取放装置，用于带动上料取放装置沿横向运动至产品载台A或产
品载台B上方，将产品放至产品载台A或产品载台B上；所述双动子直线电机的另一个动子连接下料取放装置，用于带动下料取放装置沿横向运动至产品载台A或产品载台B上方，完成产品拾取。
[0015]作为本专利技术的进一步方案，所述产品载台A与产品载台B的上料及检测操作交替进行，在产品载台A检测时，对产品载台B上料，在产品载台B检测时，对产品载台A上料。
[0016]作为本专利技术的进一步方案，所述检测系统位于所述搬运系统下方，所述检测系统的XY运动平台设置在所述上料取放装置以及下料取放装置之间的下方位置，用于上料取放装置运动至所述产品载台A上方时将产品放置产品载台A上。
[0017]作为本专利技术的进一步方案，所述光学系统位于所述XY运动平台的上方，用于在产品载台A在XY运动平台的带动下运动至光学系统下方时，进行产品的图像采集与检测。
[0018]本专利技术提供的技术方案，具有如下有益效果：
[0019]本专利技术提供的一种集成电路板AOI检测系统，结构简单、合理，应用成本低，适应性好，解决集成电路的光学检测自动化问题，提高产品检测效率，以及检测准确率，同步提升企业产能，具有很高的推广价值。
[0020]而且，采用本专利技术的集成电路板AOI检测系统时，整机布局紧凑结构合理，通过双料仓快速上料，XY运动平台带动双产品载台配合光学系统精确检测，同时可根据检测结果进行物料的准确分类，从而实现自动化检测，提高生产效率，提高产品质量，节约人力成本；平行物料仓的结构设计，能够实现设备不停机上下料，提高生产效率；双产品载台设计，互不干涉，利用上料下料时间同时进行检测，提高检测效率；针对产品缺陷检出设计专有光学系统，提高检出准确性。
[0021]本专利技术的这些方面或其他方面在以下实施例的描述中会更加简明易懂。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本专利技术。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
[0023]在图中：
[0024]图1为本专利技术的一种集成电路板AOI检测系统的布局图；
[0025]图2为一种集成电路板AOI检测系统动作流程图；
[0026]图3为图1光学系统示意图；
[0027]图中：1、上料料仓A；2、上料料仓B；3、上料轨道A；4、上料轨道B；5、上料取放装置；6、双动子直线电机；7、下料取放装置；8、下料轨道A；9、下料轨道B；10、OK品料仓；11、NG品料仓；12、光学系统；13、产品载台A；14、产品载台B；15、XY运动平台；16、相机；17、镜头；18、光源(同轴光+环光+低角度光)。
具体实施方式
[0028]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照
附图，对本专利技术实施例进一步详细说明。
[0029]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0030]附图中所示的流程图仅是示例说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解、组合或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。
[0031]应当理解，在此本专利技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本专利技术。如在本专利技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0032]还应当进理解，在本专利技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0033]具体地，下面结合附图，对本专利技术实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路板AOI检测系统，其特征在于，包括上料系统、搬运系统、检测系统、下料系统；所述上料系统包括上料料仓A(1)、上料料仓B(2)、上料轨道A(3)以及上料轨道B(4)；所述上料料仓A(1)位于所述上料轨道A(3)一端，所述上料轨道A(3)位于所述上料轨道B(4)一端，所述上料轨道A(3)以及上料轨道B(4)设置于所述搬运系统一侧；所述搬运系统包括上料取放装置(5)、双动子直线电机(6)以及下料取放装置(7)；所述上料取放装置(5)和下料取放装置(7)位于所述搬运系统的两端，所述上料取放装置(5)和下料取放装置(7)之间连接有双动子直线电机(6)；所述检测系统包括光学系统(12)、产品载台A(13)、产品载台B(14)以及XY运动平台(15)；所述检测系统位于所述搬运系统的上料取放装置(5)和下料取放装置(7)之间，所述产品载台A(13)和产品载台B(14)滑动设置在XY运动平台(15)上，所述XY运动平台(15)设有光学系统(12)；所述下料系统包括下料轨道A(8)、下料轨道B(9)、OK品料仓(10)以及NG品料仓(11)；所述下料系统位于所述下料取放装置(7)一侧，所述下料轨道A(8)与OK品料仓(10)相连接，所述下料轨道B(9)与NG品料仓(11)相连接。2.如权利要求1所述的集成电路板AOI检测系统，其特征在于，所述上料轨道A(3)与上料轨道B(4)相平行设置且位于所述搬运系统的上料取放装置(5)的取料端，用于通过上料料仓A(1)和上料料仓B(2)进行双料仓快速上料。3.如权利要求2所述的集成电路板AOI检测系统，其特征在于，所述下料轨道A(8)与下料轨道B(9)相平行设置且位于所述搬运系统的下料取放装置(7)的下料端，用于将品料放料至OK品料仓(10)或NG品料仓(11)。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：张孝荣，邓佩佩，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：