本公开关于一种设备测试方法和装置。设备测试方法包括：基于每个测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在第一测试周期内的在线设备历史数量，确定每个测试项在第二测试周期的设备采样率；基于每个测试项的设备采样率，从当前在线设备中为每个测试项选取目标测试设备，其中，目标测试设备用于在第二测试周期内进行设备测试时收集设备特征数据；响应于第二测试周期的开始，向每个目标测试设备下发配置信息；其中，配置信息用于引发目标测试设备在测试完成时上报设备特征数据。本公开解决了同时用于测试的设备数量大，且对运行目标应用的设备的应用性能影响大的问题。应用的设备的应用性能影响大的问题。应用的设备的应用性能影响大的问题。
【技术实现步骤摘要】
设备测试方法和装置
[0001]本公开涉及计算机
，特别涉及一种设备测试方法和装置。
技术介绍
[0002]随着电子设备的发展，电子设备的类型也越来越丰富，目标应用运行的设备性能差异也越来越大，为了获取设备的特征数据，需要对运行目标应用的设备进行在线测试。在线进行设备测试时，通常设置一个静态的采样率来选择设备进行测试。
[0003]然而，由于静态采样率基于所有测试项的目标收集次数确定，当测试项数目比较大，且每个测试项的目标收集次数不同时，会选择采样率最大的测试项的采样率作为各个测试项的静态采样率，使得同时用于测试的设备数量大，且对运行目标应用的设备的应用性能影响大。
技术实现思路
[0004]本公开提供一种设备测试方法和装置，以至少解决相关技术中同时用于测试的设备数量大，且对运行目标应用的设备的应用性能影响大的问题。
[0005]根据本公开实施例的一方面，提供一种设备测试方法，所述设备测试方法用于收集至少一个测试项的设备特征数据，所述设备测试方法包括：
[0006]基于每个所述测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在所述第一测试周期内的在线设备历史数量，确定每个所述测试项在第二测试周期的设备采样率；其中，每个所述测试项的所述剩余收集次数用于表征所述测试项的目标收集次数与所述测试项从测试开始到所述第一测试周期结束时的历史累积收集次数的差值；所述第二测试周期为所述第一测试周期之后的测试周期；
[0007]基于每个所述测试项的所述设备采样率，从当前在线设备中为每个所述测试项选取目标测试设备，其中，所述目标测试设备用于在所述第二测试周期内进行设备测试时收集所述设备特征数据；
[0008]响应于所述第二测试周期的开始，向每个所述目标测试设备下发配置信息；其中，所述配置信息用于引发所述目标测试设备在测试完成时上报所述设备特征数据。
[0009]在一种可能实施方式中，所述在线设备历史数量包括至少一种设备机型的机型在线数量；
[0010]所述基于每个所述测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在所述第一测试周期内的在线设备历史数量，确定每个所述测试项在所述第二测试周期的设备采样率，包括：基于每个所述测试项的每种所述设备机型的所述剩余收集次数、以及每种所述设备机型的所述机型在线数量，确定每个所述测试项在所述第二测试周期针对每种所述设备机型的机型采样率；
[0011]所述基于每个所述测试项的所述设备采样率，从当前在线设备中为每个所述测试项选取目标测试设备，包括：基于每个所述测试项的每种所述设备机型的所述机型采样率，
从所述当前在线机型设备中，分别为每个所述测试项选取每种所述设备机型对应的所述目标测试设备。
[0012]在一种可能实施方式中，所述至少一个测试项包括至少两个测试项时，所述基于每个所述测试项的所述设备采样率，从当前在线设备中为每个所述测试项选取目标测试设备，包括：
[0013]基于每个所述测试项的所述设备采样率、以及每个所述测试项的预估测试时长，将至少两个所述测试项均分至所述当前在线设备，其中，每个所述测试项的所述预估测试时长用于表征所述目标测试设备完成所述测试项的耗时的参考时长。
[0014]在一种可能实施方式中，所述设备测试方法进一步包括：
[0015]获取在所述第一测试周期内测试设备针对所述测试项上报的设备测试时长；
[0016]基于所述第一测试周期内为每个所述测试项获取的设备测试时长，确定每个所述测试项的所述预估测试时长，其中，所述设备测试时长用于表征单台设备完成所述测试项的实际耗时时长。
[0017]在一种可能实施方式中，所述设备测试方法进一步包括：
[0018]获取在所述第一测试周期内测试设备针对所述测试项上报的所述设备特征数据；
[0019]基于在所述第一测试周期内针对每个所述测试项上报所述设备特征数据的所述测试设备的设备总数，确定在所述第一测试周期内针对每个所述测试项的周期累积收集次数；
[0020]根据在所述第一测试周期内针对每个所述测试项的所述周期累积收集次数确定每个所述测试项从开始到所述第一测试周期结束时的所述历史累积收集次数。
[0021]在一种可能实施方式中，所述基于每个所述测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在所述第一测试周期内的在线设备历史数量，确定每个所述测试项在所述第二测试周期的设备采样率，包括：
[0022]确定每个所述测试项的所述剩余收集次数与所述在线设备历史数量的比值；
[0023]基于所述比值，确定每个所述测试项在所述第二测试周期的所述设备采样率。
[0024]根据本公开实施例的另一方面，提供一种设备测试装置，所述设备测试装置用于收集至少一个测试项的设备特征数据，所述设备测试装置包括：
[0025]确定模块，被配置为执行基于每个测试项在第一测试周期结束时的剩余收集设备数，以及在所述第一测试周期内对第一在线设备的设备统计数量，确定每个所述测试项在第二测试周期的设备采样率；其中，所述剩余收集设备数用于表征针对每个所述测试项收集设备特征数据的目标收集设备数与累积收集设备数的差值；所述第二测试周期为所述第一测试周期之后的测试周期；
[0026]选择模块，被配置为执行基于每个所述测试项的所述设备采样率，从当前在线设备中为每个所述测试项选取目标测试设备，其中，所述目标测试设备用于在所述第二测试周期内进行设备测试时收集所述设备特征数据；
[0027]下发模块，被配置为执行响应于所述第二测试周期的开始，向每个所述目标测试设备下发配置信息；其中，所述配置信息用于引发所述目标测试设备在测试完成时上报所述设备特征数据。
[0028]根据本公开实施例的另一方面，提供一种电子设备，包括：
[0029]处理器；
[0030]用于存储所述处理器的可执行指令的存储器；
[0031]其中，所述处理器被配置为执行所述可执行指令，以实现上述任一实施方式所述的设备测试方法。
[0032]根据本公开实施例的另一方面，提供一种计算机可读存储介质，当所述计算机可读存储介质中的至少一条指令被电子设备的处理器执行时，使得所述电子设备能够实现上述任一实施方式所述的设备测试方法。
[0033]根据本公开实施例的另一方面，提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一实施方式所述的设备测试方法。
[0034]本公开的实施例提供的技术方案至少带来以下有益效果：
[0035]通过为每个测试项独立维护收集设备特征数据的剩余收集次数，并在不同测试周期将每个测试项的设备采样率与上一测试周期的剩余收集次数关联，由于剩余收集设备数能够动态体现每个测试项的设备特征数据的累积收集量向目标收集量的收敛情况，因此，不同测试项可以分别具有各自的收敛情况动态适配的设备采样率，而不必为了兼顾收集次数最大的某个测试项而将所有测试项的设备采样率都设定为最大静态值，从本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种设备测试方法，其特征在于，所述设备测试方法用于收集至少一个测试项的设备特征数据，所述设备测试方法包括：基于每个所述测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在所述第一测试周期内的在线设备历史数量，确定每个所述测试项在第二测试周期的设备采样率；其中，每个所述测试项的所述剩余收集次数用于表征所述测试项的目标收集次数与所述测试项从测试开始到所述第一测试周期结束时的历史累积收集次数的差值；所述第二测试周期为所述第一测试周期之后的测试周期；基于每个所述测试项的所述设备采样率，从当前在线设备中为每个所述测试项选取目标测试设备，其中，所述目标测试设备用于在所述第二测试周期内进行设备测试时收集所述设备特征数据；响应于所述第二测试周期的开始，向每个所述目标测试设备下发配置信息；其中，所述配置信息用于引发所述目标测试设备在测试完成时上报所述设备特征数据。2.根据权利要求1所述的设备测试方法，其特征在于，所述在线设备历史数量包括至少一种设备机型的机型在线数量；所述基于每个所述测试项在第一测试周期结束时的剩余收集次数、以及在所述第一测试周期内的在线设备历史数量，确定每个所述测试项在所述第二测试周期的设备采样率，包括：基于每个所述测试项的每种所述设备机型的所述剩余收集次数、以及每种所述设备机型的所述机型在线数量，确定每个所述测试项在所述第二测试周期针对每种所述设备机型的机型采样率；所述基于每个所述测试项的所述设备采样率，从当前在线设备中为每个所述测试项选取目标测试设备，包括：基于每个所述测试项的每种所述设备机型的所述机型采样率，从所述当前在线机型设备中，分别为每个所述测试项选取每种所述设备机型对应的所述目标测试设备。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个测试项包括至少两个测试项时，所述基于每个所述测试项的所述设备采样率，从当前在线设备中为每个所述测试项选取目标测试设备，包括：基于每个所述测试项的所述设备采样率、以及每个所述测试项的预估测试时长，将至少两个所述测试项均分至所述当前在线设备，其中，每个所述测试项的所述预估测试时长用于表征所述目标测试设备完成所述测试项的耗时的参考时长。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述设备测试方法进一步包括：获取在所述第一测试周期内测试设备针对所述测试项上报的设备测试时长；基于所述第一测试周期内为每个所述测试项获取的设备测试时长，确定每个所述测试项的所述预估测试时长，其中，所述设备测试时长用于表征单台设备完成所述测试项的实际耗时时...
【专利技术属性】
技术研发人员：昝晓飞，张元昊，
申请(专利权)人：北京达佳互联信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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