本实用新型专利技术涉及一种LED灯生产用老化测试装置，包括测试箱和老化测试结构，所述老化测试结构设置在测试箱的内侧，所述测试箱的外侧设置有辅助结构；所述老化测试结构包括固定安装在测试箱内侧的固定板，所述固定板的顶部固定连接有放置板，所述测试箱的内底壁固定连接有冷风机，所述测试箱的内底壁固定连接有风机，所述测试箱的内底壁固定连接有加热箱，所述加热箱的内侧固定连接有第一电加热片，所述测试箱的顶部固定连接有两个固定块，两个所述固定块的顶部之间固定连接有电插板。该LED灯生产用老化测试装置，可以对LED进行老化测试时模拟冬季和夏季的气温环境，达到模拟环境下的测试效果，提高老化测试的准确性。提高老化测试的准确性。提高老化测试的准确性。
【技术实现步骤摘要】
一种LED灯生产用老化测试装置
[0001]本技术涉及LED灯
，具体为一种LED灯生产用老化测试装置。
技术介绍
[0002]LED灯是一块电致发光的半导体材料芯片，用银胶或白胶固化到支架上，然后用银线或金线连接芯片和电路板，四周用环氧树脂密封，起到保护内部芯线的作用，最后安装外壳，所以LED灯的抗震性能好，半导体晶片由两部分组成，一部分是P型半导体，在它里面空穴占主导地位，另一端是N型半导体，在这边主要是电子，但这两种半导体连接起来的时候，它们之间就形成一个P
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N结。
[0003]目前，在LED灯的生产过程中为了对LED灯使用寿命进行检测，通常需要利用LED灯生产用老化测试装置对同批生产的LED灯进行抽样测试，但是现有的LED灯生产用老化测试装置通常在常规条件下进行测试，不能对LED 灯在各类气温环境下进行测试，降低了LED灯老化测试的准确性。
技术实现思路
[0004]针对现有技术的不足，本技术提供了一种LED灯生产用老化测试装置，具备模拟环境老化测试的优点，解决了现有的LED灯生产用老化测试装置通常在常规条件下进行测试，不能对LED灯在各类气温环境下进行测试，降低了LED灯老化测试的准确性的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种LED灯生产用老化测试装置，包括测试箱和老化测试结构，所述老化测试结构设置在测试箱的内侧，所述测试箱的外侧设置有辅助结构；
[0006]所述老化测试结构包括固定安装在测试箱内侧的固定板，所述固定板的顶部固定连接有放置板，所述测试箱的内底壁固定连接有冷风机，所述测试箱的内底壁固定连接有风机，所述测试箱的内底壁固定连接有加热箱，所述加热箱的内侧固定连接有第一电加热片，所述测试箱的顶部固定连接有两个固定块，两个所述固定块的顶部之间固定连接有电插板。
[0007]进一步，所述辅助结构包括固定安装在测试箱左右两侧壁的连接板，两个所述连接板的相对一侧均固定连接有第二电加热片。
[0008]进一步，所述固定板的顶部固定连接有两个温度传感器，所述测试箱的左侧固定连接有控制器，所述测试箱的底部固定连接有底板。
[0009]进一步，所述底板的顶部固定连接有推板，所述底板的底部固定连接有四个万向轮，所述底板的底部固定连接有两个自锁万向轮。
[0010]进一步，所述冷风机的左侧固定连接有第一进风管，第一进风管的左端贯穿测试箱并与外界连通，所述冷风机的顶部固定连接有第二进风管，第二进风管的顶端贯穿固定板并延伸至固定板的顶部。
[0011]进一步，所述放置板的顶部固定连接有等距离分布的隔板，所述测试箱的顶开设
有三个通孔。
[0012]进一步，所述加热箱的右侧固定连接有第一连接管，第一连接管的右端贯穿测试箱并延伸至测试箱的外侧。
[0013]与现有技术相比，本申请的技术方案具备以下有益效果：
[0014]1、该LED灯生产用老化测试装置，通过老化测试结构内部的固定板、放置板、冷风机、风机、加热箱、第一电加热片、固定块和电插板等结构可以对LED进行老化测试时模拟冬季和夏季的气温环境，达到模拟环境下的测试效果，提高老化测试的准确性。
[0015]2、该LED灯生产用老化测试装置，通过辅助结构内部的连接板、第二电加热片、温度传感器和控制器可以可以对LED进行老化测试时模拟高温环境，达到模拟高温环境测试的效果，同时通过万向轮、推把、底板和自锁万向轮可以对该测试箱进行移动，方便工作人的使用。
附图说明
[0016]图1为本技术结构示意图；
[0017]图2为本技术结构正视图；
[0018]图中：1、测试箱；200、老化测试结构；201、固定板；202、放置板； 203、冷风机；204、风机；205、加热箱；206、第一电加热片；207、固定块； 208、电插板；300、辅助结构；301、连接板；302、第二电加热片；303、温度传感器；304、控制器；305、底板；306、推把；307、万向轮；308、自锁万向轮。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]请参阅图1，本实施例中的一种LED灯生产用老化测试装置，包括测试箱 1和老化测试结构200，老化测试结构200设置在测试箱1的内侧，测试箱1 的外侧设置有辅助结构300，老化测试结构200是在模拟环境下对LED灯进行老化测试的结构，辅助结构300是对LED灯进行高温环境模拟的结构，同时也是对该装置进行移动的结构。
[0021]如图1
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2所示，本实施例中的老化测试结构200包括固定安装在测试箱1 内侧的固定板201，固定板201的顶部固定连接有放置板202，测试箱1的内底壁固定连接有冷风机203，测试箱1的内底壁固定连接有风机204，测试箱 1的内底壁固定连接有加热箱205，加热箱205的内侧固定连接有第一电加热片206，测试箱1的顶部固定连接有两个固定块207，两个固定块207的顶部之间固定连接有电插板208。
[0022]本实施例中的冷风机203的左侧固定连接有第一进风管，第一进风管的左端贯穿测试箱1并与外界连通，冷风机203的顶部固定连接有第二进风管，第二进风管的顶端贯穿固定板201并延伸至固定板201的顶部。
[0023]本实施例中的放置板202的顶部固定连接有等距离分布的隔板，测试箱1 的顶开设有三个通孔。
[0024]本实施例中的加热箱205的右侧固定连接有第一连接管，第一连接管的右端贯穿测试箱1并延伸至测试箱1的外侧。
[0025]本实施例中的风机204的右侧固定连接有第二连接管，第二连接管的右端与加热箱205连通，风机204的顶部固定连接有第三连接管，第三连接管的顶端贯穿固定板201并延伸至固定板201的顶部。
[0026]如图1
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2所示，本实施例中的辅助结构300包括固定安装在测试箱1左右两侧壁的连接板301，两个连接板301的相对一侧均固定连接有第二电加热片302，固定板201的顶部固定连接有两个温度传感器303，测试箱1的左侧固定连接有控制器304，测试箱1的底部固定连接有底板305，底板305的顶部固定连接有推板306，底板305的底部固定连接有四个万向轮307，底板305 的底部固定连接有两个自锁万向轮308。
[0027]本实施例中的两个温度传感器303分布位于对应的第二电加热片302的底部，第二电加热片302的输出端与控制器304的输入端电连接，温度传感器303的输出端控制器304的输入端电连接。
[0028]本实施例中的推把306位于控制器304的左本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种LED灯生产用老化测试装置，其特征在于：包括测试箱(1)和老化测试结构(200)，所述老化测试结构(200)设置在测试箱(1)的内侧，所述测试箱(1)的外侧设置有辅助结构(300)；所述老化测试结构(200)包括固定安装在测试箱(1)内侧的固定板(201)，所述固定板(201)的顶部固定连接有放置板(202)，所述测试箱(1)的内底壁固定连接有冷风机(203)，所述测试箱(1)的内底壁固定连接有风机(204)，所述测试箱(1)的内底壁固定连接有加热箱(205)，所述加热箱(205)的内侧固定连接有第一电加热片(206)，所述测试箱(1)的顶部固定连接有两个固定块(207)，两个所述固定块(207)的顶部之间固定连接有电插板(208)。2.根据权利要求1所述的一种LED灯生产用老化测试装置，其特征在于：所述辅助结构(300)包括固定安装在测试箱(1)左右两侧壁的连接板(301)，两个所述连接板(301)的相对一侧均固定连接有第二电加热片(302)。3.根据权利要求2所述的一种LED灯生产用老化测试装置，其特征在于：所述固定板(201)的顶部固定连接有两个温...
【专利技术属性】
技术研发人员：王丽娟，
申请(专利权)人：江苏炎光照明科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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