一种双楔腔绝对辐射计制造技术

技术编号:34851460 阅读:57 留言:0更新日期:2022-09-08 07:51
一种双楔腔绝对辐射计,包括第一矩形平面传感单元、第二矩形平面传感单元、第三矩形平面传感单元、第四矩形平面传感单元、反射支撑体和光阑。反射支撑体固定连接于第一至第四矩形平面传感单元的侧边,与第一及第二矩形平面传感单元构成用于光辐射探测的第一楔腔空间,同时与第三及第四矩形平面传感单元构成用于补偿背景漂移的第二楔腔空间。本发明专利技术采用楔形腔作为光辐射接收结构,光辐射照射面为平面,相对于传统圆锥腔,在保证宽光谱高吸收率的同时,改善了器件面响应均匀性,并使加热层与传感层核心器件更易于标准化批量加工、制造及装配,大幅提高了器件的生产效率、量产一致性及其计量特性。其计量特性。其计量特性。

【技术实现步骤摘要】
一种双楔腔绝对辐射计


[0001]本专利技术涉及光辐射计量
,尤其涉及一种双楔腔绝对辐射计,用于光功率、辐照度的测量,以及用于基准、标准级的高精度光功率计与辐照度计的制造。

技术介绍

[0002]绝对辐射计是一种光辐射度测量装置,用于绝对测量光功率或辐照度量值。绝对辐射计通常作为准确度更高一级的计量器具,为市场上常见的各类型功率计、辐照计、辐射表、热流计等相对测量仪器进行量传,是光辐照度(W/m2)和光功率(W)等光辐射度物理量量值的源头。
[0003]绝对辐射计具有电替代校准功能,可实现辐照度的绝对测量。另外,绝对辐射计在特性上也具有诸多优点:准确度高,受环境温湿度影响小;光谱响应平坦,对极宽波段光辐射可等效的测量,一个探测器即可解决全波段溯源问题;面响应均匀性优于部分特殊类型光电类探测器,且不存在光电探测器的多次镜面反射干扰问题;对辐照入射角限制小;红外波段对比锗、铟镓砷等光电探测器,具备更大测量口径,可满足更多实际应用场合等。
[0004]绝对辐射计的光辐射吸收体主要分为平面型和腔型。平面型结构相对简单,均匀性好,但本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双楔腔绝对辐射计,其特征在于,包括第一矩形平面传感单元(1)、第二矩形平面传感单元(2)、第三矩形平面传感单元(3)、第四矩形平面传感单元(4)、反射支撑体(5)和光阑(6),其中:第二矩形平面传感单元(2)平行于光辐射入射法线方向,第一矩形平面传感单元(1)作为光辐射接收面倾斜地位于第二矩形平面传感单元(2)上方,使光辐射入射的中心处为平面,且第一矩形平面传感单元(1)与第二矩形平面传感单元(2)所构成的夹角≤45
°
,使入射光在第一矩形平面传感单元(1)与第二矩形平面传感单元(2)之间多次反射;第三矩形平面传感单元(3)位于第二矩形平面传感单元(2)之下且平行于光辐射入射法线方向,第四矩形平面传感单元(4)作为光辐射接收面倾斜地位于第三矩形平面传感单元(3)下方,且第三矩形平面传感单元(3)与第四矩形平面传感单元(4)的夹角≤45
°
;反射支撑体(5),固定连接于第一至第四矩形平面传感单元的侧边,与第一及第二矩形平面传感单元构成用于光辐射探测的第一楔腔空间,同时与第三及第四矩形平面传感单元构成用于补偿背景漂移的第二楔腔空间;光阑(6),设置于第一及第二楔腔空间开口处的反射支撑体(5)上,用于提供标准面积,并限制光辐射的入射角度,使入射光辐射全部照射至第一至第四矩形平面传感单元上。2.根据权利要求1所述的双楔腔绝对辐射计,其特征在于,所述第一楔腔空间与所述第二楔腔空间在空间上形成镜像对称。3.根据权利要求2所述的双楔腔绝对辐射计,其特征在于,在所述第一楔腔空间中,所述第一矩形平面传感单元(1)与所述第二矩形平面传感单元(2)之间互不接触的留有一狭缝,避免第一及第二矩形平面传感单元在测量时互相影响;所述光阑(6)的通光口沿入射法线的投影,完整落入所述第一矩形平面传感单元(1)内,同时所述第二矩形平面传感单元(2)延长出狭缝一定距离,使通过所述光阑(6)截面任一点的倾斜入射光皆落入所述第一矩形平面传感单元(1)与所述第二矩形平面传感单元(2)上,形成对入光口的闭合。4.根据权利要求1所述的双楔腔绝对辐射计,其特征在于,所述第三矩形平面传感单元(3)贴合于所述第二矩形平面传感单元(2)之下。5.根据权利要求1所述的双楔腔绝对辐射计,其特征在于,所述第一矩形平面传感单元(1)和所述第三矩形平面传感单元(3)均包括自上...

【专利技术属性】
技术研发人员:李超辰邓玉强马冲张云鹏
申请(专利权)人:中国计量科学研究院
类型:发明
国别省市:

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