一种基于正态分布的图像坏点去除方法、装置及校正系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种基于正态分布的图像坏点去除方法、装置及校正系统，包括：对待处理图像进行RGB通道分离，得到R、G、B通道图像；针对每一通道图像，进行坏点去除处理；坏点去除处理包括：利用去除背景像素点后的通道图像中各像素点的像素值，计算出通道图像的像素平均值μ以及像素标准差σ；根据μ以及σ，筛选出疑似为坏点的像素点作为待检测候选点；根据待检测候选点的像素值、待检测候选点预设邻域范围内像素点的像素值，判断待检测候选点是否为坏点；若待检测候选点为坏点，对待检测候选点及待检测候选点预设邻域内像素点的像素值进行校正。本发明专利技术提供的方法、装置及校正系统，能够有效提高坏点去除效率以及坏点识别准确度。有效提高坏点去除效率以及坏点识别准确度。有效提高坏点去除效率以及坏点识别准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种基于正态分布的图像坏点去除方法、装置及校正系统


[0001]本专利技术涉及LED显示屏校正领域，尤其涉及一种基于正态分布的图像坏点去除方法、装置及校正系统。

技术介绍

[0002]LED显示屏校正过程中需要由上位机通过相机去拍摄获取灯点图像作为校正图像，以通过校正图像计算出校正系数。
[0003]但是由于使用损耗等原因，相机成像模块中个别感光器件会出现问题，导致采集的灯点图像中存在异常颜色的像素(也即因相机中感光器件损坏而造成相机所采集到的灯点图像中存在坏点)，坏点有时会出现在灯点图像中心，例如图1中所示的灯点图像即为存在坏点的灯点图像(其中P、Q指示位置即为坏点位置)，而若采集的灯点图像存在异常，后续再利用灯点图像计算校正系数则会造成计算出的校正系数不准确，严重影响LED显示屏的校正效果。
[0004]现有技术中的一些去除坏点的方法，存在较多问题，不能很好的去除校正图像中的坏点，例如去除坏点时所需计算量过高，造成坏点去除效率较低；另外坏点识别准确度不高，造成影响LED显示屏的校正效果、影响LED显示屏的显示效果。

技术实现思路

[0005]针对上述问题，本专利技术提供一种基于正态分布的图像坏点去除方法、装置及校正系统。其中方法包括：
[0006]对待处理图像进行RGB通道分离，得到R、G、B通道图像；
[0007]针对每一通道图像，进行坏点去除处理；坏点去除处理包括：
[0008]利用去除背景像素点后的通道图像中各像素点的像素值，计算出通道图像的像素平均值μ以及像素标准差σ；
[0009]根据μ以及σ，筛选出疑似为坏点的像素点作为待检测候选点；
[0010]根据待检测候选点的像素值、待检测候选点预设邻域范围内像素点的像素值，判断待检测候选点是否为坏点；
[0011]若待检测候选点为坏点，对待检测候选点及待检测候选点预设邻域内像素点的像素值进行校正，以去除坏点。
[0012]进一步的，坏点去除处理还包括通过三角法识别通道图像中的背景像素点，其中通过三角法识别通道图像中的背景像素点包括：
[0013]统计通道图像的像素分布情况，得到像素分布情况图，像素分布情况图的横坐标为像素值，纵坐标为像素点数量；
[0014]确定像素分布情况图中的最高点以及最低点，并将最高点与最低点连接形成一条直线；
[0015]将像素分布情况图中与直线垂直距离最远的一点对应的像素值作为像素阈值；
[0016]将像素值小于该像素阈值的像素点确定为背景像素点。
[0017]进一步的，根据μ以及σ，筛选出疑似为坏点的像素点作为待检测候选点包括：
[0018]按照预设像素点选取顺序，从通道图像中依次选取一像素点作为目标像素点，对目标像素点执行筛选操作，直至对通道图像中的全部像素点执行完成筛选操作，以筛选出疑似为坏点的像素点作为待检测候选点；
[0019]其中，筛选操作包括：对于目标像素点，判断目标像素点在通道图像的像素值是否大于μ+σ；
[0020]判断目标像素点在通道图像中是否为预设邻域范围内局部像素值最高点；
[0021]若目标像素点在通道图像的像素值大于μ+σ，且目标像素点在通道图像中为预设邻域范围内局部像素值最高点，则将目标像素点作为待检测候选点。
[0022]进一步的，根据待检测候选点的像素值、待检测候选点预设邻域范围内像素点的像素值，判断待检测候选点是否为坏点包括：
[0023]计算待检测候选点预设邻域范围内像素点在通道图像中的像素平均值μ1以及像素标准差σ1；
[0024]获取待处理图像颜色以及通道图像颜色，根据待处理图像颜色以及通道图像颜色判断通道图像是否为主通道图像，其中R通道图像颜色为红色，G通道图像颜色为绿色，B通道图像颜色为蓝色；
[0025]若通道图像为主通道图像，判断待检测候选点在通道图像中的像素值是否大于μ1+(3*σ1)，若是，判定待检测候选点为坏点。
[0026]进一步的，根据待检测候选点的像素值、待检测候选点预设邻域范围内像素点的像素值，判断待检测候选点是否为坏点还包括：
[0027]若通道图像为辅通道图像，获取待检测候选点在主通道图像中的像素值μ2
[0028]计算待检测候选点预设邻域范围内像素点在主通道图像中的像素标准差σ2；
[0029]判断待检测候选点在通道图像中的像素值，是否大于μ1+(3*σ1)且大于μ2
‑
σ2，若是，判定待检测候选点为坏点。
[0030]进一步的，预设邻域范围为以待检测候选点为中心的8邻域。
[0031]进一步的，对待检测候选点及待检测候选点预设邻域内像素点的像素值进行校正包括：
[0032]获取待检测候选点对应的校正像素点在通道图像中的像素值，校正像素点为待检测候选点预设邻域范围内像素点的外围范围像素点；
[0033]计算校正像素点在通道图像中的像素平均值μ3；
[0034]将待检测候选点在通道图像中的像素值、待检测候选点预设邻域范围内像素点在通道图像中的像素值，调整为μ3。
[0035]本专利技术还提供一种基于正态分布的图像坏点去除装置，装置包括图像分离模块以及坏点处理模块，其中：
[0036]图像分离模块与坏点处理模块连接，用于对待处理图像进行RGB通道分离，得到R、G、B通道图像；
[0037]坏点处理模块，用于针对每一通道图像，进行坏点去除处理，坏点处理模块包括待检测候选点筛选单元、坏点判断单元以及坏点校正单元；待检测候选点筛选单元，与坏点判
断单元连接，用于利用去除背景像素点后的通道图像中各像素点的像素值，计算出通道图像的像素平均值μ以及像素标准差σ；根据μ以及σ，筛选出疑似为坏点的像素点作为待检测候选点；
[0038]坏点判断单元，与坏点校正单元连接，用于根据待检测候选点的像素值、待检测候选点预设邻域范围内像素点的像素值，判断待检测候选点是否为坏点；
[0039]坏点校正单元，用于在判定待检测候选点为坏点时，对待检测候选点及待检测候选点预设邻域内像素点的像素值进行校正，以去除坏点。
[0040]进一步的，待检测候选点筛选单元根据μ以及σ，筛选出疑似为坏点的像素点作为待检测候选点，包括：
[0041]按照预设像素点选取顺序，从通道图像中依次选取一像素点作为目标像素点，对目标像素点执行筛选操作，直至对通道图像中的全部像素点执行完成筛选操作，以筛选出疑似为坏点的像素点作为待检测候选点；
[0042]其中，筛选操作包括：
[0043]对于目标像素点，判断目标像素点在通道图像的像素值是否大于μ+σ；
[0044]判断目标像素点在通道图像中是否为预设邻域范围内局部像素值最高点；
[0045]若目标像素点在通道图像的像素值大于μ+σ，且目标像素点在通道图像中为预设邻域范围内局部像素值最高点，则将目标像素点作为待检测候选点。
[0046]一种校正系统本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于正态分布的图像坏点去除方法，其特征在于，所述方法包括：对待处理图像进行RGB通道分离，得到R、G、B通道图像；针对每一通道图像，进行坏点去除处理；所述坏点去除处理包括：利用去除背景像素点后的所述通道图像中各像素点的像素值，计算出所述通道图像的像素平均值μ以及像素标准差σ；根据μ以及σ，筛选出疑似为坏点的像素点作为待检测候选点；根据所述待检测候选点的像素值、所述待检测候选点预设邻域范围内像素点的像素值，判断所述待检测候选点是否为坏点；若所述待检测候选点为坏点，对所述待检测候选点及所述待检测候选点预设邻域内像素点的像素值进行校正，以去除坏点。2.根据权利要求1所述的基于正态分布的图像坏点去除方法，其特征在于，所述坏点去除处理还包括通过三角法识别所述通道图像中的背景像素点；其中所述通过三角法识别所述通道图像中的背景像素点包括：统计所述通道图像的像素分布情况，得到像素分布情况图，所述像素分布情况图的横坐标为像素值，纵坐标为像素点数量；确定所述像素分布情况图中的最高点以及最低点，并将所述最高点与最低点连接形成一条直线；将所述像素分布情况图中与所述直线垂直距离最远的一点对应的像素值作为像素阈值；将像素值小于该像素阈值的像素点确定为背景像素点。3.根据权利要求1所述的基于正态分布的图像坏点去除方法，其特征在于，所述根据μ以及σ，筛选出疑似为坏点的像素点作为待检测候选点包括：按照预设像素点选取顺序，从所述通道图像中依次选取一像素点作为目标像素点，对所述目标像素点执行筛选操作，直至对所述通道图像中的全部像素点执行完成筛选操作，以筛选出疑似为坏点的像素点作为待检测候选点；其中，所述筛选操作包括：对于所述目标像素点，判断所述目标像素点在所述通道图像的像素值是否大于μ+σ；判断所述目标像素点在所述通道图像中是否为预设邻域范围内局部像素值最高点；若所述目标像素点在所述通道图像的像素值大于μ+σ，且所述目标像素点在所述通道图像中为预设邻域范围内局部像素值最高点，则将所述目标像素点作为待检测候选点。4.根据权利要求1所述的基于正态分布的图像坏点去除方法，其特征在于，所述根据所述待检测候选点的像素值、所述待检测候选点预设邻域范围内像素点的像素值，判断所述待检测候选点是否为坏点包括：计算所述待检测候选点预设邻域范围内像素点在所述通道图像中的像素平均值μ1以及像素标准差σ1；获取所述待处理图像颜色以及所述通道图像颜色，根据所述待处理图像颜色以及所述通道图像颜色判断所述通道图像是否为主通道图像，其中R通道图像颜色为红色，G通道图像颜色为绿色，B通道图像颜色为蓝色；若所述通道图像为主通道图像，判断所述待检测候选点在所述通道图像中的像素值是
否大于μ1+(3*σ1)，若是，判定所述待检测候选点为坏点。5.根据权利要求4所述的基于正态分布的图像坏点去除方法，其特征在于，所述根据所述待检测候选点的像素值、所述待检测候选点预设邻域范围内像素点的像素值，判断所述待检测候选点是否为坏点还包括：若所述通道图像为辅通道图像，获取所述待检测候选点在主通道图像中的像素值μ2；计算所述待检测候选点预设邻域范围内像素点在所述主通道图像中的像素标准差σ2；判断所述待检测候选点在所述通道图像中的像素值，是否大于μ1+(3*σ1)且大于μ2
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σ2，...

【专利技术属性】
技术研发人员：何志民，王利文，
申请(专利权)人：卡莱特云科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：