【技术实现步骤摘要】
用于分析测量介质的测量设备和用于确定分析值的方法
[0001]分案说明
[0002]本申请是中国申请号为201811220108.6的中国专利技术专利申请“用于分析测量介质的测量设备和用于确定分析值的方法”的分案申请。
[0003]本专利技术涉及一种用于分析测量介质的测量设备和一种和用于确定分析值的方法。
技术介绍
[0004]为了监视、控制和调节过程工业的生产过程以及为了通过在线(in
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line)测量或在实验室中的样品上控制过程的产品和中间产品的质量,使用多个传感器。传统上,各种分析传感器用于过程测量技术和实验室中以确定测量介质例如气体、气体混合物、液体、液体混合物、乳液、悬浮液或固体和固体混合物的组成。设计用于生成取决于分析被测变量的测量信号的物理和化学传感器,例如测量介质中至少一种分析物的浓度,被考虑作为分析传感器。分析物是指包含在例如溶解在测量介质中的物质,该物质将被识别和/或其在测量介质中的浓度由分析传感器确定或监视。分析传感器的示例是物理传感器,例如电导率传感器,或化学传感器,例如pH传感器、溶解氧传感器、气体传感器、TOC传感器(缩写TOC代表英语技术术语“总有机碳”)或离子选择性电极。
[0005]光学传感器,特别是光谱传感器,或甚至成像传感器,例如相机或高光谱相机,其在不接触介质的情况下起作用,近来在过程分析中变得越来越重要。特别地,它们允许定性和/或定量确定广谱分析物,这允许使用同一个光谱确定传感器或成像传感器来确定多个不同的被测变量。此处和下文中的定性 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于分析测量介质的测量设备(1),所述测量设备(1)包括:
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探头壳体(2),所述探头壳体(2)具有测量区域;
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连接装置,所述连接装置用于将所述探头壳体(2)连接到包含所述测量介质的过程容器;
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单独的附加壳体(5);
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辐射源(7)、接收装置(12)和电子测量单元(9)被布置在所述单独的附加壳体(5)中;
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耦合和去耦光学器件(3),所述耦合和去耦光学器件(3)具有布置在所述探头壳体(2)中的至少一个测量窗口(4),并且被配置成将所述辐射源(7)的辐射耦合到测量区域中,所述测量区域布置在所述探头壳体(2)外部并且所述测量介质位于所述测量区域中,并且被配置成将所述测量辐射从所述测量区域去耦;其中,所述耦合和去耦光学器件(3)包括用于将所述探头壳体(2)连接到布置在所述壳体(5)中的所述辐射源(7)并且连接到所述接收装置(12)的光导(6),
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所述接收装置(12)被配置成通过所述耦合和去耦光学器件(3)检测从所述测量区域去耦的测量辐射并且从所检测到的测量辐射生成输出数据;
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至少一个附加物理或化学传感器(11),所述至少一个附加物理或化学传感器集成在所述探头壳体(2)中并且被设计成检测所述测量介质的被测变量并且将所述被测变量的值输出作为测量信号;和
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所述电子测量单元(9)连接到所述接收装置(12)并且被配置成收集和处理所述接收装置(12)的所述输出数据,并且其中所述电子测量单元(9)连接到所述附加物理或化学传感器(11),并且被配置成收集和处理所述附加物理或化学传感器(11)的所述测量信号。2.根据权利要求1所述的测量设备,其中所述电子测量单元被配置成使用所述接收装置的所述输出数据和所述附加物理或化学传感器的所述测量信号来确定和输出至少一个分析值。3.根据权利要求1或2的测量设备,其中所述接收装置包括光谱仪,所述光谱仪被配置成将所检测到的测量辐射分成光谱并且借助于检测器记录所生成的光谱,其中所述检测器被配置成生成表示所记录的光谱的输出数据到所述电子测量单元。4.根据权利要求3所述的测量设备,其中所述电子测量单元被配置成从所记录的光谱中识别至少一种分析物或确定其浓度。5.根据权利要求1或2的测量设备,其中所述接收装置包括图像传感器,其中所述耦合和去耦光学器件被设计成在所述图像传感器上生成所述测量区域的光学图像,并且其中所述接收装置被配置成生成表示借助于所述图像传感器所检测到的图像的输出数据到所述电子测量单元。6.根据权利要求5所述的测量设备,其中所述图像传感器是CCD传感器或CMOS传感器。7.根据权利要求1或2所述的测量设备,
其中所述至少一个附加物理或化学传感器是温度传感器。8.根据权利要求1或2所述的测量设备,其中所述至少一个附加物理或化学传感器是分析传感器。9.根据权利要求1或2所述的测量设备,其中所述至少一个附加物理或化学传感器是电导率传感器、pH传感器、离子选择性电极或溶解氧传感器。10.根据权利要求1或2所述的测量设备,其中所述测量设备包括温度传感器和至少一个分析传感器作为附加传感器,其中所述电子测量单元连接到所述温度传感器和所述至少一个分析传感器,并且被配置成接收和处理所述温度传感器和所述分析传感器的测量信号,并且使用所述接收装置的所述输出数据和所述温度传感器的所述测量信号以及所述至少一个分析传感器的所述测量信号来确定和输出所述分析值。11.根据权利要求1或2所述的测量设备,其中所述电子测量单元的至少一部分集成在所述测量设备的所述探头壳体中。12.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员:乔基姆,
申请(专利权)人:恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司,
类型:发明
国别省市:
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