本发明专利技术提供一种能够检测出光学特性的不均的缺陷检查方法。所述缺陷检查方法具有：配置工序，依次地并且满足下述的条件a1及条件a2地配置第1滤光片、光学膜、第2滤光片：(a1)所述第1滤光片的第1偏振片的吸收轴与所述被检偏振片的吸收轴所成的角度θ1为90
【技术实现步骤摘要】
缺陷检查方法及缺陷检查装置
[0001]本专利技术涉及光学膜的缺陷检查方法及缺陷检查装置。
技术介绍
[0002]液晶显示装置、有机EL显示装置等显示装置中使用的偏振板一般通过将偏振片以2片保护膜夹持而形成。偏振板为了贴合于显示装置，有时在一方的保护膜层叠有粘合剂层，在另一方的保护膜层叠有用于防止流通时在该保护膜的表面等产生伤痕等的防护膜。在粘合剂层通常层叠有剥离膜。作为偏振片的具体例，可以举出在经过单轴拉伸的聚乙烯醇系(PVA系)树脂膜吸附有碘、二色性染料等二色性色素并使该二色性色素取向了的PVA系偏振膜、由包含聚合性液晶化合物的聚合物和二色性色素的液晶固化层形成的偏振片(以下也称作“液晶偏振片”)等。液晶偏振片通常通过将包含聚合性液晶化合物的组合物涂布于基材膜上并使之固化而形成，有能够制造薄的偏振片的优点。此种PVA系偏振膜、液晶偏振片如后所述，具有使特定的振动面的直线偏振光穿过的作用，被称作“直线偏振片”。另外，在该直线偏振片的一面或两面具有保护膜的偏振板一般被称作“直线偏振板”。
[0003]在偏振板、偏振片中有时在其制造阶段产生缺陷。例如，有时产生在偏振片与保护膜之间混入异物、或残留气泡的缺陷。另外，液晶偏振片有时因制造时的涂布不均而在偏振板的光学特性方面产生不均。
[0004]因而，在将偏振板装入显示装置前的阶段，进行用于检测偏振板的缺陷的检查。该缺陷的检查如日本特开平9
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229817号公报(专利文献1)中所示，在作为被检物的偏振板与光源之间设置偏振滤光片后，使该偏振板或偏振滤光片沿平面方向旋转，将它们的各自的偏振轴方向设为特定的关系。在偏振轴方向之间相互正交的情况下(即形成正交尼科尔棱镜的配置的情况下)，穿过偏振滤光片的直线偏振光不透过偏振板。然而，若在偏振板中存在缺陷，则在该部位直线偏振光就会透过，因此该光被检测到，从而判明缺陷的存在。
[0005]另一方面，在偏振板与偏振滤光片的偏振轴方向之间平行的情况下，穿过偏振滤光片的直线偏振光透过偏振板。然而，若在偏振板中存在缺陷，则在该部位直线偏振光被阻挡，因此无法检测到该光，从而判明缺陷的存在。检查者通过目视检测透过偏振板的光、或者利用组合了CCD照相机和图像处理装置的图像分析处理值自动地检测透过偏振板的光，由此可以进行偏振板的缺陷的有无的检查。
技术实现思路
[0006]专利技术所要解决的课题
[0007]根据专利文献1中记载的方法，虽然能够检测到像异物、气泡的混入那样在光学特性方面与周围的差异大的局部的缺陷，然而难以检测到光学特性的不均。
[0008]本专利技术的目的在于，提供能够检测到光学特性的不均的缺陷检查方法及缺陷检查装置。
[0009]本专利技术提供以下所示的缺陷检查方法及缺陷检查装置。
[0010]〔1〕一种缺陷检查方法，是具有被检偏振片的光学膜的缺陷检查方法，
[0011]所述缺陷检查方法使用具有第1偏振片的第1滤光片、具有第2偏振片的第2滤光片以及光源，且具有：
[0012]配置工序，依次地并且满足下述的条件a1及条件a2地配置所述第1滤光片、所述光学膜以及所述第2滤光片，
[0013](a1)所述第1偏振片的吸收轴与所述被检偏振片的吸收轴所成的角度θ1为90
°±5°
的范围内，
[0014](a2)所述被检偏振片的吸收轴与所述第2偏振片的吸收轴所成的角度θ2为90
°±
35
°
的范围内；
[0015]检测工序，其为下述的工序b1或工序b2，
[0016](b1)检测从所述光源照射、依次地透过所述第1滤光片、所述光学膜以及所述第2滤光片的光的工序，或
[0017](b2)检测从所述光源照射、依次地透过所述第2滤光片、所述光学膜以及所述第1滤光片的光的工序；以及
[0018]判断工序，基于所述检测工序中的检测结果，判断所述光学膜的缺陷。
[0019]〔2〕根据〔1〕中记载的缺陷检查方法，其中，
[0020]所述光学膜还具有包含聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂的防护膜，
[0021]所述防护膜的取向轴与所述被检偏振片的吸收轴所成的角度为0
°±
30
°
的范围内，
[0022]在所述配置工序中，
[0023]以使所述防护膜的与所述被检偏振片侧相反的一侧的表面位于所述第2滤光片侧的方向、并且使所述防护膜的取向轴与所述第2偏振片的吸收轴所成的角度为90
°±5°
的范围内的方式，配置所述光学膜，
[0024]所述检测工序利用所述工序b1进行。
[0025]〔3〕根据〔1〕中记载的缺陷检查方法，其中，
[0026]所述光学膜还具有包含聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂的防护膜，
[0027]所述防护膜的取向轴与所述被检偏振片的吸收轴所成的角度为90
°±
30
°
的范围内，
[0028]在所述配置工序中，
[0029]以使所述防护膜的与所述被检偏振片侧相反的一侧的表面位于所述第2滤光片侧的方向、并且使所述防护膜的取向轴与所述第2偏振片的吸收轴所成的角度为0
°±5°
的范围内的方式，配置所述光学膜，
[0030]所述检测工序利用所述工序b1进行。
[0031]〔4〕根据〔1〕～〔3〕中任一项记载的缺陷检查方法，其中，所述被检偏振片包含聚合性液晶化合物的固化物。
[0032]〔5〕根据〔1〕～〔4〕中任一项记载的缺陷检查方法，其中，
[0033]所述光学膜还具有λ/4相位差层，
[0034]在所述检查方法中，所述第1滤光片使用具有λ/4相位差层的滤光片，
[0035]在所述配置工序中，将所述光学膜与所述第1滤光片以使彼此的λ/4相位差层不夹
隔着所述被检偏振片及所述第1偏振片地相面对的方向配置。
[0036]〔6〕一种缺陷检查装置，是具有被检偏振片的光学膜的缺陷检查装置，
[0037]所述缺陷检查装置具备具有第1偏振片的第1滤光片、具有第2偏振片的第2滤光片以及光源，
[0038]所述第1滤光片、所述光学膜以及所述第2滤光片被依次配置为满足下述的条件a1及条件a2：
[0039](a1)所述第1偏振片的吸收轴与所述被检偏振片的吸收轴所成的角度θ1为90
°±5°
的范围内，
[0040](a2)所述被检偏振片的透射轴与所述第2偏振片的吸收轴所成的角度θ2为90
°±
35
°
的范围内，
[0041]所述光源被配置为满足下述的条件b1或条件b2：
[0042](b1)从所述光源照射的光依次透过所述第1滤光片、所述光学膜以及所述第2滤光片，
[0043](b2)从所述光源照射的光依次透过所述第2滤光片、所述光学膜以及所述第1滤光片。
[0044]专利技术本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种缺陷检查方法，是具有被检偏振片的光学膜的缺陷检查方法，所述缺陷检查方法使用具有第1偏振片的第1滤光片、具有第2偏振片的第2滤光片以及光源，且具有：配置工序，依次地并且满足下述的条件a1及条件a2地配置所述第1滤光片、所述光学膜以及所述第2滤光片：(a1)所述第1偏振片的吸收轴与所述被检偏振片的吸收轴所成的角度θ1为90
°±5°
的范围内，(a2)所述被检偏振片的吸收轴与所述第2偏振片的吸收轴所成的角度θ2为90
°±
35
°
的范围内；检测工序，其为下述的工序b1或工序b2：(b1)检测从所述光源照射、并依次地透过所述第1滤光片、所述光学膜以及所述第2滤光片的光的工序，或(b2)检测从所述光源照射、并依次地透过所述第2滤光片、所述光学膜以及所述第1滤光片的光的工序；以及判断工序，基于所述检测工序中的检测结果，判断所述光学膜的缺陷。2.根据权利要求1所述的缺陷检查方法，其中，所述光学膜还具有包含聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂的防护膜，所述防护膜的取向轴与所述被检偏振片的吸收轴所成的角度为0
°±
30
°
的范围内，在所述配置工序中，以使所述防护膜的与所述被检偏振片侧相反的一侧的表面位于所述第2滤光片侧的方向、并且使所述防护膜的取向轴与所述第2偏振片的吸收轴所成的角度为90
°±5°
的范围内的方式配置所述光学膜，所述检测工序利用所述工序b1进行。3.根据权利要求1所述的缺陷检查方法，其中，所述光学膜还具有包含聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂的防护膜，所述防护膜的取向轴与所述被检偏振片的吸收轴所成...
【专利技术属性】
技术研发人员：小林信次，松田俊介，
申请(专利权)人：住友化学株式会社，
类型：发明
国别省市：
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