一种芯片测试治具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种芯片测试治具，包括基座、起落臂和触发结构，起落臂下端设有检测部和压块，检测部与开设在测试台上端的样品槽配合，样品槽内设有两个卡头，触发结构包括第一弹性件和第二弹性件，第一弹性件置于测试台上端并与压块对应，第二弹性件置于测试台内并与卡头连接；本实用新型专利技术与传统芯片测试治具有所区别的是，测试台的样品槽内设有两个卡头，两个头与侧视台上的触发结构连接，检测部落下进行测试时，触发结构动作使两个卡头合拢，将待测品固定在样品槽中心处，解除测试时，则两个卡头自动打开，拆卸方便，且待测品两侧会有一定的空间，便于工作人员将待测品拿出，实用性强。性强。性强。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试治具


[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片测试治具。

技术介绍

[0002]电子芯片在加工完毕后，通常需要用到测试治具对芯片上的多个焊盘进行通断测试，以检验产品是否符合要求。
[0003]传统的芯片测试治具，包括有工作台和悬臂，悬臂下下端设有感应压头，感应压头下端设置的顶针会与放置在工作台上的待测品接触，进行通断检测，芯片在检测时，往往是放在一个卡槽内，侧视时通过一个压板盖住对其固定，这种放置方式，在取放芯片时需要来回将压板打开，操作繁琐，且芯片也容易卡在卡槽内不利于取出。因此本技术提出一种芯片测试治具以解决现有技术中存在的问题。

技术实现思路

[0004]针对上述问题，本技术提出一种芯片测试治具，用以解决传动的芯片测试治具，在将芯片放在工作台的测试槽内时，需要多次拨动压板，操作繁琐，并且芯片在取出时，容易卡在槽内的难题。
[0005]为实现本技术的目的，本技术通过以下技术方案实现：一种芯片测试治具，包括基座和起落臂，还包括触发结构，起落臂置于基座上方并与设在基座上端的两个架台活动连接；
[0006]起落臂下端设有检测部和压块，压块置于检测部两侧并与起落臂连接，检测部与开设在测试台上端的样品槽配合，样品槽内设有两个相对称的卡头；
[0007]触发结构包括第一弹性件和第二弹性件，第一弹性件置于测试台上端并与压块对应，第二弹性件置于测试台内并与卡头连接，用于在第一弹性件动作时推动两个卡头靠拢分离。
[0008]进一步改进在于：两个架台与起落臂相接的一侧设有导轨，起落臂通过导轨与架台相配合，其中一个架台与起落臂相接一侧开设有起落槽，起落槽内设有螺杆，螺杆顶端与设在架台上端的调节电机输出端连接，螺杆上套设有配合块，配合块穿过起落槽与起落臂侧壁固定连接。
[0009]进一步改进在于：所述第一弹性件包括开设在测试台上端的第一配合槽，第一配合槽内设有第一斜楔件，第一斜楔件下端为倾斜面并延伸至第一配合槽内，第一斜楔件上端延伸至第一配合槽外并与压块对应，第一斜楔件与测试台的连接处用于对第一斜楔件进行复位的第一限位件。
[0010]进一步改进在于：所述第二弹性件包括开设在测试台内的第二配合槽，第二配合槽置于样品槽两侧并与第一配合槽导通，第二配合槽内设有第二斜楔件，第二斜楔件一端与卡头连接，第二斜楔件另一端延伸至第一配合槽内并与第一斜楔件配合，第二配合槽与第二斜楔件的连接处设有用于对第二斜楔件进行复位的第二限位件。
[0011]进一步改进在于：两个卡头相贴近一侧开设有凹槽，凹槽内设有柔性垫，两个卡头的另一侧分别与两个第二斜楔件固定连接。
[0012]进一步改进在于：所述第一限位件包括设在第一斜楔件上端的限位块，限位块置于压块下方并与压块对应，限位块下端固定有第一弹簧，第一弹簧套设在第一斜楔件外并与测试台上端面固定连接。
[0013]进一步改进在于：所述第二限位件包括开设在测试台内的环形槽，环形槽置于第一斜楔件与样品槽之间并环绕在第二配合槽外且与第二配合槽连通，环形槽内设有环形块，环形块套接在第二斜楔件外并与环形槽滑动配合，环形块远离第一斜楔件一侧设有第二弹簧，第二弹簧套设在第二配合槽外并与环形槽槽壁固定连接。
[0014]本技术的有益效果为：该一种芯片测试治具，相较于传统芯片测试治具，其测试台的样品槽内设有两个卡头，两个头与侧视台上的触发结构连接，检测部落下进行测试时，触发结构动作使两个卡头合拢，将待测品固定在样品槽中心处，解除测试时，则两个卡头自动打开，拆卸方便，自动化强；
[0015]另外且待测品两侧会有一定的空间，能方便工作人员将待测品拿出，实用性强，同时，卡头与待测品相接的一侧还设有柔性垫，柔性垫能对待测品进行保护。
附图说明
[0016]图1是本技术结构图。
[0017]图2是本技术样品槽的结构图。
[0018]图3是本技术测试台的截面图。
[0019]其中：1、基座；2、架台；3、起落臂；4、检测部；5、压块；6、导轨；7、调节电机；8、起落槽；9、测试台；10、样品槽；11、第一斜楔件；12、第一配合槽；13、限位块；14、卡头；15、凹槽；16、第二配合槽；17、第二斜楔件；18、第一弹簧；19、环形槽；20、环形块；21、第二弹簧。
具体实施方式
[0020]为了加深对本技术的理解，下面将结合实施例对本技术做进一步详述，本实施例仅用于解释本技术，并不构成对本技术保护范围的限定。
[0021]根据图1、2、3所示，本实施例提出了一种芯片测试治具，包括基座1和起落臂3，还包括触发结构，起落臂3置于基座1上方并与设在基座1上端的两个架台2活动连接；
[0022]起落臂3下端设有检测部4和压块5，压块5置于检测部4两侧并与起落臂3连接，检测部4与开设在测试台9上端的样品槽10配合，样品槽10内设有两个相对称的卡头14；待测品放置在样品槽10内，控制起落臂3落下，直至起落臂3下端设置的检测部4伸入样品槽10内并与放置在样品槽10内待测品接触通电测试。
[0023]触发结构包括第一弹性件和第二弹性件，第一弹性件置于测试台9上端并与压块5对应，第二弹性件置于测试台9内并与卡头14连接，用于在第一弹性件动作时推动两个卡头14靠拢分离。起落臂3下落，检测部4要与样品槽10配合时，压块5会先一步挤压第一弹性件，第一弹性件落下，第二弹性件接收到动作信息，从而推动两个卡头14合拢，将待测品固定在样品槽10的中心处；起落臂3上升后，第一弹性件和第二弹性件复位，卡头14也随之复位，相较于卡设固定的方式，卡头14在复位后，待测品两侧会有一定的空间，以便工作人员将其拿
出。
[0024]两个架台2与起落臂3相接的一侧设有导轨6，起落臂3通过导轨6与架台2相配合，其中一个架台2与起落臂3相接一侧开设有起落槽8，起落槽8内设有螺杆，螺杆顶端与设在架台2上端的调节电机7输出端连接，螺杆上套设有配合块，配合块穿过起落槽8与起落臂3侧壁固定连接；起落臂3两端与架台2滑动配合，并通过螺杆传动结构控制其起落，调节电机7启动时，会带动螺杆转动，螺杆在转动中带动配合块沿起落槽8移动，对起落臂3高度进行控制，其中起落槽8起到对起落臂3的导向作用，使起落臂3在升降过程中其位置不会出现偏移。
[0025]第一弹性件包括开设在测试台9上端的第一配合槽12，第一配合槽12内设有第一斜楔件11，第一斜楔件11下端为倾斜面并延伸至第一配合槽12内，第一斜楔件11上端延伸至第一配合槽12外并与压块5对应，第一斜楔件11与测试台9的连接处用于对第一斜楔件11进行复位的第一限位件；
[0026]第二弹性件包括开设在测试台9内的第二配合槽16，第二配合槽16置于样品槽10两侧并与第一配合槽12导通，第二配合槽16内设有第二斜楔件17，第二斜楔件17一端与卡头14连接，第二斜楔件17另一端延伸至第一配合槽12内并与第一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试治具，包括基座(1)和起落臂(3)，其特征在于，还包括触发结构，所述起落臂(3)置于基座(1)上方并与设在基座(1)上端的两个架台(2)活动连接；所述起落臂(3)下端设有检测部(4)和压块(5)，所述压块(5)置于检测部(4)两侧并与起落臂(3)连接，所述检测部(4)与开设在测试台(9)上端的样品槽(10)配合，所述样品槽(10)内设有两个相对称的卡头(14)；所述触发结构包括第一弹性件和第二弹性件，所述第一弹性件置于测试台(9)上端并与压块(5)对应，所述第二弹性件置于测试台(9)内并与卡头(14)连接，用于在第一弹性件动作时推动两个卡头(14)靠拢分离。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于：两个所述架台(2)与起落臂(3)相接的一侧设有导轨(6)，所述起落臂(3)通过导轨(6)与架台(2)相配合，其中一个所述架台(2)与起落臂(3)相接一侧开设有起落槽(8)，所述起落槽(8)内设有螺杆，所述螺杆顶端与设在架台(2)上端的调节电机(7)输出端连接，所述螺杆上套设有配合块，所述配合块穿过起落槽(8)与起落臂(3)侧壁固定连接。3.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于：所述第一弹性件包括开设在测试台(9)上端的第一配合槽(12)，所述第一配合槽(12)内设有第一斜楔件(11)，所述第一斜楔件(11)下端为倾斜面并延伸至第一配合槽(12)内，所述第一斜楔件(11)上端延伸至第一配合槽(12)外并与压块(5)对应，所述第一斜楔件(11)与测试台(9)的连接处用于对第一斜楔件(11)进行复位的第一限位件。4.根据权利要求3所述的一种芯片测试治具，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：李静，蔡海燕，李琳琳，
申请(专利权)人：盐城市昊芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：