本发明专利技术涉及激光器bar条技术领域，尤其是一种测试精度高的激光器bar条测试装置，包括底板，所述底板上固定连接有连接板，所述连接板上通过升降机构连接有连接块，所述连接块的两端均固定连接有连接柱，两个所述连接柱上均固定连接有导电片，所述连接板上安装有检测装置，所述检测装置与两个所述导电片通过导线连接，所述连接板上通过间歇移动机构连接有移动板，所述移动板上通过固定机构固定有激光器bar条。本发明专利技术还提供了测试精度高的激光器bar条测试测试方法。本发明专利技术具有确保了激光器bar条对电流检测结果的准确性。条对电流检测结果的准确性。条对电流检测结果的准确性。
【技术实现步骤摘要】
一种测试精度高的激光器bar条测试装置及其测试方法
[0001]本专利技术涉及激光器bar条
，尤其涉及一种测试精度高的激光器bar条测试装置及其测试方法。
技术介绍
[0002]激光器bar条是由多个半导体单管并排形成的激光器单条，具有功率转换效率高、体积小等诸多优点，在泵浦固体激光器、光纤放大器、工业、激光医学、光存储、军事等领域呈现出良好的应用前景，在进行激光器bar条进行生产制作时，需要对激光器bar条上的单个半导体单管进行测试，以便将合格的单管半导体进行挑选出来，在进行测试一般通过光谱检测和电流进行检测，在进行电流检测时，通过将单个的半导体单管接入电路，对电流进行测试，将电流异常的挑选出来，但是在进行测试，由于激光器bar条是发生移动，导致在进行接触时，难以将半导体单管完整接入，影响了对电流的测试结果，导致检测结果的不准确性。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的难以将半导体单管完整接入，影响了对电流的测试结果，导致检测结果不准确性的缺点，而提出的一种测试精度高的激光器bar条测试装置及其测试方法。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
[0005]设计一种测试精度高的激光器bar条测试装置及其测试方法，包括底板，所述底板上固定连接有连接板，所述连接板上通过升降机构连接有连接块，所述连接块的两端均固定连接有连接柱，两个所述连接柱上均固定连接有导电片，所述连接板上安装有检测装置，所述检测装置与两个所述导电片通过导线连接，所述连接板上通过间歇移动机构连接有移动板，所述移动板上通过固定机构固定有激光器bar条。
[0006]优选的，所述升降机构包括转轴与第二电机，所述第二电机安装在所述连接板上，所述第二电机输出轴上固定连接有所述转轴，所述转轴上开设有往复螺纹，所述转轴与所述连接块螺纹贯穿连接，所述连接块上设置有限位机构。
[0007]优选的，所述限位机构包括定位杆，所述定位杆与所述连接块固定连接，所述连接板上开设有定位孔，所述定位杆可插接进所述定位孔内。
[0008]优选的，所述间歇移动机构包括限位框、螺纹杆、第一电机、滑块、不完全齿轮、齿轮，所述限位框固定连接在所述底板上，所述螺纹杆通过轴承与所述限位框转动连接，所述螺纹杆螺纹贯穿所述滑块，所述滑块与所述移动板固定连接，所述滑块与所述限位框相抵接，所述齿轮固定连接在所述螺纹杆上，所述底板上安装有第一电机，所述第一电机的输出轴与所述不完全齿轮传动连接，所述不完全齿轮相啮合齿轮。
[0009]优选的，所述固定机构包括紧固旋钮与固定架，所述固定架与所述移动板固定连接，所述紧固旋钮螺纹贯穿所述固定架。
[0010]优选的，所述紧固旋钮的上固定连接有抵接块。
[0011]优选的，所述抵接块为橡胶材料制成。
[0012]本专利技术还提供了一种测试精度高的激光器bar条测试测试方法，包括以下步骤：
[0013]S1、通过所述固定机构将所述激光器bar条进行固定在所述移动板上，同时所述激光器bar条的一端与所述固定架相抵接；
[0014]S2、启动间歇移动机构带动所述移动板进行移动，从而带动所述激光器bar条进行间歇移动，当所述激光器bar条上的半导体单管位于所述导电片的正下方时，升降机构带动所述导电片向下移动，使所述导电片与半导体单管的两端进行抵接，对电路进行导通；
[0015]S3、通过检测装置对通过半导体单管的电流起到检测的作用，当电流出现异常时，对该半导体单管进行标记。
[0016]本专利技术提出的一种测试精度高的激光器bar条测试装置及其测试方法，有益效果在于：过采用升降机构以便带动连接块进行上下移动，使导电片在下降的过程中，将半导体单体两端相抵接，同时与间歇移动机构相配合，以便在进行电流检测时，激光器bar条不发生移动，使检测装置对流过半导体单体的电流进行检测，从而确保了激光器bar条对电流检测结果的准确性。
附图说明
[0017]图1为本专利技术提出的一种测试精度高的激光器bar条测试装置及的结构示意图；
[0018]图2为本专利技术提出的一种测试精度高的激光器bar条测试装置立体的剖视图；
[0019]图3为本专利技术提出的一种测试精度高的激光器bar条测试装置的立体图；
[0020]图4为本专利技术提出的一种测试精度高的激光器bar条测试装置正视图；
[0021]图5为本专利技术提出的一种测试精度高的激光器bar条测试装置图 1中A部分的放大图。
[0022]图中：连接板1、连接块2、定位杆3、转轴4、连接柱5、导电片6、激光器bar条7、移动板8、紧固旋钮9、限位框10、螺纹杆11、第一电机12、滑块13、不完全齿轮14、检测装置15、齿轮16、第二电机17、底板18、固定架19、抵接块20。
具体实施方式
[0023]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0024]实施例1
[0025]参照图1
‑
5，一种测试精度高的激光器bar条测试装置，包括底板18，底板18上固定连接有连接板1，连接板1上通过升降机构连接有连接块2，连接块2的两端均固定连接有连接柱5，两个连接柱 5上均固定连接有导电片6，连接板1上安装有检测装置15，检测装置15与两个导电片6通过导线连接，连接板1上通过间歇移动机构连接有移动板8，移动板8上通过固定机构固定有激光器bar条7，通过采用升降机构以便带动连接块2进行上下移动，使导电片6在下降的过程中，将半导体单体两端相抵接，同时与间歇移动机构相配合，以便在进行电流检测时，激光器bar条7不发生移动，使检测装置 15对流过半导体单体的电流进行检测，从而确保了激光器bar条7 对电流检测结果的准确性。
[0026]升降机构包括转轴4与第二电机17，第二电机17安装在连接板 1上，第二电机17输出轴上固定连接有转轴4，转轴4上开设有往复螺纹，转轴4与连接块2螺纹贯穿连接，连接块2上设置有限位机构，通过第二电机17进行转动，将带动转轴4进行转动，由于往复螺纹设置，将使连接块2在转轴4上进行来回移动。
[0027]限位机构包括定位杆3，定位杆3与连接块2固定连接，连接板 1上开设有定位孔，定位杆3可插接进定位孔内，通过采用定位杆3 与定位孔的设计，对连接块2起到限位的作用，防止了连接块2发生移动的情况。
[0028]间歇移动机构包括限位框10、螺纹杆11、第一电机12、滑块13、不完全齿轮14、齿轮16，限位框10固定连接在底板18上，螺纹杆 11通过轴承与限位框10转动连接，螺纹杆11螺纹贯穿滑块13，滑块13与移动板8固定连接，滑块13与限位框10相抵接，齿轮16固定连接在螺纹杆11上，底板18上安装有第一电机12，第一电机12 的输出轴与不完全齿轮14传动连接，不完全齿轮14相啮合齿轮16，通过本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试精度高的激光器bar条测试装置，包括底板(18)，其特征在于，所述底板(18)上固定连接有连接板(1)，所述连接板(1)上通过升降机构连接有连接块(2)，所述连接块(2)的两端均固定连接有连接柱(5)，两个所述连接柱(5)上均固定连接有导电片(6)，所述连接板(1)上安装有检测装置(15)，所述检测装置(15)与两个所述导电片(6)通过导线连接，所述连接板(1)上通过间歇移动机构连接有移动板(8)，所述移动板(8)上通过固定机构固定有激光器bar条(7)。2.根据权利要求1所述的测试精度高的激光器bar条测试装置，其特征在于，所述升降机构包括转轴(4)与第二电机(17)，所述第二电机(17)安装在所述连接板(1)上，所述第二电机(17)输出轴上固定连接有所述转轴(4)，所述转轴(4)上开设有往复螺纹，所述转轴(4)与所述连接块(2)螺纹贯穿连接，所述连接块(2)上设置有限位机构。3.根据权利要求2所述的测试精度高的激光器bar条测试装置，其特征在于，所述限位机构包括定位杆(3)，所述定位杆(3)与所述连接块(2)固定连接，所述连接板(1)上开设有定位孔，所述定位杆(3)可插接进所述定位孔内。4.根据权利要求3所述的测试精度高的激光器bar条测试装置，其特征在于，所述间歇移动机构包括限位框(10)、螺纹杆(11)、第一电机(12)、滑块(13)、不完全齿轮(14)、齿轮(16)，所述限位框(10)固定连接在所述底板(18)上，所述螺纹杆(11)通过轴承与所述限位框(10)转动连接，所述螺纹杆(11)螺纹贯穿所述滑块(13)，所述滑块(1...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄玉柱，吴应发，唐超群，
申请(专利权)人：武汉智汇芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。