本发明专利技术提供一种二阶RC等效电路模型参数的自动拟合方法和装置，本发明专利技术的二阶RC等效电路模型参数的自动拟合过程是先获取HPPC测试数据，并根据所述HPPC测试数据得到标定点的数据集；然后对所述HPPC测试数据进行自动拟合处理得到二阶RC等效电路模型在标定点的参数初始值；最后根据所述标定点的数据集和所述标定点的区间参数初始值得到所述二阶RC等效电路模型的RC参数。本发明专利技术的自动拟合方法能够提高二阶RC等效电路模型中参数拟合的效率和准确性。性。性。
【技术实现步骤摘要】
一种二阶RC等效电路模型参数的自动拟合方法和装置
[0001]本专利技术涉及数据处理技术，特别是涉及一种二阶RC等效电路模型参数的自动拟合方法和装置。
技术介绍
[0002]电池管理系统中，锂电池的二阶RC等效电路模型应用较为广泛，而二阶RC等效电路模型中的参数需要大量HPPC(Hybrid Pulse Power Characteristic，混合脉冲功率特性)测试，并通过拟合方法获取。
[0003]目前主要是通过matlab提供的拟合工具cftool进行参数拟合。对于电池管理系统中，不同的SOC(State of Charge，荷电量)区间下的脉冲电压曲线存在较大的差异，而且不同的脉冲倍率下的参数亦存在一定的差异。因此，为了拟合不同脉冲倍率、不同SOC区间下的二阶RC等效电路模型参数，需采用手动拟合的方式，但是手动拟合的工作量大，容易出现错误，从而导致效率、准确性较差。
技术实现思路
[0004]鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种二阶RC等效电路模型参数的自动拟合方法和装置，用于解决现有技术中手动拟合时效率差、准确性低的问题。
[0005]为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种二阶RC等效电路模型参数的自动拟合方法，至少包括以下步骤：
[0006]获取HPPC测试数据，并根据所述HPPC测试数据得到标定点的数据集；
[0007]对所述HPPC测试数据进行自动拟合处理得到二阶RC等效电路模型在标定点的参数初始值；
[0008]根据所述标定点的数据集和所述标定点的区间参数初始值得到所述二阶RC等效电路模型的RC参数。
[0009]优选地，根据所述HPPC测试数据得到标定点的数据集包括：
[0010]根据脉冲电流变化确定所述HPPC测试数据中各标定点的断点；
[0011]根据各标定点的断点对应的电压数据得到对应的数据集。
[0012]优选地，根据脉冲电流变化确定所述HPPC测试数据在SOC全范围内各标定点的断点；
[0013]所述标定点包括脉冲点和搁置点；对应的，脉冲点的断点为脉冲起点和脉冲终点，搁置点的断点为搁置起点和搁置终点。
[0014]优选地，根据脉冲电流变化确定所述HPPC测试数据中各标定点的断点的方式为：
[0015]若第k
‑
1时刻的电流值满足
‑
N＜I
k
‑1＜N，而k+1时刻电流值满足M＜I
k
‑1＜H，其中，M远大于N，则k时刻为脉冲起点，k+Δt1时刻为脉冲终点；k+Δt1+1时刻为搁置起点，k+Δt1+Δt2时刻为搁置终点，其中Δt1为脉冲时间，Δt2为搁置时间。
[0016]优选地，对所述HPPC测试数据进行自动拟合处理得到二阶RC等效电路模型在标定
点的参数初始值包括：
[0017]确定二阶RC等效电路模型；
[0018]对所述二阶RC等效电路模型进行转换处理得到拟合模型；
[0019]对所述HPPC测试数据进行自动拟合处理得到拟合模型在标定点的区间参数初始值。
[0020]优选地，所述自动拟合处理采用LM算法的非线性最小二乘法。
[0021]优选地，对所述HPPC测试数据进行自动拟合处理得到拟合模型在标定点的区间参数初始值的过程包括：
[0022]将SOC全区间划分为n个SOC区间；
[0023]从标定点的数据集中提取每个SOC区间内的一段脉冲电压数据得到标定点在各SOC区间的区脉冲电压数据；
[0024]对每个SOC区间的区脉冲电压数据进行处理得到区间参数初始值。
[0025]优选地，根据所述标定点的数据集和所述标定点的区间参数初始值得到所述二阶RC等效电路电路模型的RC参数的过程包括：
[0026]根据所述标定点的区间参数初始值和所述标定点的数据集中对应区间的区脉冲电压数据得到标定点在各区间的脉冲电压拟合结果；
[0027]对标定点所有区间的脉冲电压拟合结果进行拟合处理得到拟合模型的参数值；
[0028]根据所述拟合模型的参数值得到二阶RC等效电路模型的RC参数。
[0029]为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术还提供一种二阶RC等效电路模型参数的自动拟合装置，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的程序，所述处理器执行所述程序时，实现上述的二阶RC等效电路模型参数的自动拟合方法的步骤。
[0030]如上所述，本专利技术的二阶RC等效电路模型参数的自动拟合方法和装置，具有以下有益效果：
[0031]本专利技术提出的二阶RC等效电路模型参数的自动拟合过程是先获取HPPC测试数据，并根据所述HPPC测试数据得到标定点的数据集；然后对所述HPPC测试数据进行自动拟合处理得到二阶RC等效电路模型在标定点的参数初始值；最后根据所述标定点的数据集和所述标定点的区间参数初始值得到所述二阶RC等效电路模型的RC参数。本专利技术的自动拟合方法能够提高二阶RC等效电路模型中参数拟合的效率和准确性。
附图说明
[0032]图1显示为本专利技术的二阶RC等效电路模型参数的自动拟合方法的流程示意图。
[0033]图2显示为本专利技术实施例在HPPC测试数据的示意图。
[0034]图3显示为本专利技术二阶RC等效电路模型参数的自动拟合装置的结果示意图。
具体实施方式
[0035]以下通过特定的具体实例说明本专利技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点与功效。本专利技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离
本专利技术的精神下进行各种修饰或改变。
[0036]请参阅图1
‑
3。需要说明的是，本实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本专利技术的基本构想，遂图式中仅显示与本专利技术中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。
[0037]本专利技术基于SOC区间对HPPC测试区间进行先划分，先对划分后的每个SOC区间的HPPC测试数据进行自动拟合数据，然后再对所有区间进行整体的自动拟合处理，从而高效、准确的实现二阶RC等效电路模型参数的快速拟合。基于该技术构思，本专利技术提出一种二阶RC等效电路模型参数的自动拟合方法和装置。
[0038]方法实施例：
[0039]如图1显示为本专利技术二阶RC等效电路模型参数的自动拟合方法的流程图。以下结合图1对本专利技术二阶RC等效电路模型参数的自动拟合方法进行详细的介绍。
[0040]S1，获取HPPC测试数据，并根据所述HPPC测试数据得到标定点的数据集；所述标定点包括脉冲点和搁置点；
[0041]在本专利技术中，在HPPC测试过程中，以设定的脉冲电流充电，然后断点搁置一定时间后再次充恒定的脉冲本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种二阶RC等效电路模型参数的自动拟合方法，其特征在于，至少包括以下步骤：获取HPPC测试数据，并根据所述HPPC测试数据得到标定点的数据集；对所述HPPC测试数据进行自动拟合处理得到二阶RC等效电路模型在标定点的参数初始值；根据所述标定点的数据集和所述标定点的区间参数初始值得到所述二阶RC等效电路模型的RC参数。2.根据权利要求1所述的二阶RC等效电路模型参数的自动拟合方法，其特征在于，根据所述HPPC测试数据得到标定点的数据集包括：根据脉冲电流变化确定所述HPPC测试数据中各标定点的断点；根据各标定点的断点对应的电压数据得到对应的数据集。3.根据权利要求2所述的二阶RC等效电路模型参数的自动拟合方法，其特征在于，根据脉冲电流变化确定所述HPPC测试数据在SOC全范围内各标定点的断点；所述标定点包括脉冲点和搁置点；对应的，脉冲点的断点为脉冲起点和脉冲终点，搁置点的断点为搁置起点和搁置终点。4.根据权利要求3所述的二阶RC等效电路模型参数的自动拟合方法，其特征在于，根据脉冲电流变化确定所述HPPC测试数据中各标定点的断点的方式为：若第k
‑
1时刻的电流值满足
‑
N＜I
k
‑1＜N，而k+1时刻电流值满足M＜I
k
‑1＜H，其中，M远大于N，则k时刻为脉冲起点，k+Δt1时刻为脉冲终点；k+Δt1+1时刻为搁置起点，k+Δt1+Δt2时刻为搁置终点，其中Δt1为脉冲时间，Δt2为搁置时间。5.根据权利要求1所述的二阶RC等效电路模型参数的自动拟合方法，其特征在于，对所述HPPC测试数...
【专利技术属性】
技术研发人员：冯礼鸿，沈向东，沈成宇，曹楷，刘建永，侯敏，曹辉，
申请(专利权)人：上海瑞浦青创新能源有限公司，
类型：发明
国别省市：
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