一种上电时序的测试方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本公开提供了一种上电时序的测试方法、装置、电子设备及存储介质，包括获取示波器输出的多个波形，包括：两个测试点的测试波形以及两个测试点之间的差分波形；确定差分波形的一阶导数上反应波形上电顺序的特征曲线，获取局部差分波形；确定局部差分波形分别与两个测试点的测试波形之间的相关性；根据相关性的结果确定两个测试点的上电时序。确定两个测试点的上电时序。确定两个测试点的上电时序。

【技术实现步骤摘要】
一种上电时序的测试方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本公开涉及计算机
，尤其涉及一种上电时序的测试方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]电子信号的上电时序测试，通常为通过示波器的探棒对测试点进行点测，抓取波形数据，通过对两个测试点波形数据的比较获取两个测试点的信号上电顺序。
[0003]现有的示波器探棒点测通过人工实现，如使用两根单端探棒，分别对两个测试点进行点测，以获取两个测试点信号的上电顺序。若使用机械臂代替人工点测，则最少需要两根机械臂，若想把机械臂前端做到像人手一样360
°
无死角的点测，需要在机械臂的前端安装治具，治具上需要安装用来驱动的电机，定位的摄像头等设备，导致治具的体积很大，空间占用大，在测试点均配备一个机械臂和一根探棒，使用时容易发生相邻的两个机械臂相互干扰的情况。

技术实现思路

[0004]本公开提供一种上电时序测试方法、装置、电子设备及存储介质，以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。
[0005]本公开一方面提供一种上电时序测试方法，包括：
[0006]获取示波器输出的多个波形，包括：两个测试点的测试波形以及所述两个测试点之间的差分波形；
[0007]确定所述差分波形的一阶导数上反应波形上电顺序的特征曲线，获取局部差分波形；
[0008]确定所述局部差分波形分别与所述两个测试点的测试波形之间的相关性；
[0009]根据相关性的结果确定所述两个测试点的上电时序。
[0010]在一可实施方式中，所述获取示波器输出的多个波形，包括：
[0011]响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接所述两个测试点中的第一测试点，负极连接地线，以使所述示波器采集第一测试点的测试波形；
[0012]响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接地线，负极连接所述两个测试点中的第二测试点，以使所述示波器采集第二测试点的测试波形；
[0013]响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正负极分别与所述第一测试点和所述第二测试点连接，以使所述示波器采集所述第一测试点与所述第二测试点之间的差分波形；
[0014]获取示波器输出的所述第一测试点的测试波形、所述第二测试点的测试波形和所述差分波形。
[0015]在一可实施方式中，所述根据相关性的结果确定所述两个测试点的上电时序，包括：
[0016]若第一测试点的测试波形或第二测试点的测试波形分别与局部差分波形的相关性的结果大于设定阈值，确定第一测试点和第二测试点不是同时上电；
[0017]若第一测试点的测试波形和第二测试点的测试波形均与局部差分波形的相关性的结果小于设定阈值，确定第一测试点和第二测试点同时上电。
[0018]在一可实施方式中，所述确定第一测试点和第二测试点不是同时上电之后，还包括：
[0019]确定第一测试点与第二测试点的上电时序差；
[0020]获取局部差分波形对所述上电时序差进行求导的求导结果；
[0021]若求导结果大于0，确定第一测试点先上电，第二测试点后上电；
[0022]若求导结果小于0，确定第二测试点先上电，第一测试点后上电。
[0023]在一可实施方式中，所述确定第一测试点与第二测试点的上电时序差，包括：
[0024]利用如下公式进行确定；
[0025]t＝(H/S)*K(d(A
‑
B))
[0026]t为上电时序差，H为示波器采样深度，S为示波器采样率，d(A
‑
B)为局部差分波形，K(d(A
‑
B))为局部差分波形内的离散采样点的数量。
[0027]在一可实施方式中，所述计算所述差分波形的一阶导数上反应波形上电顺序的特征曲线之前，还包括：
[0028]对两个测试点的测试波形以及差分波形分别滤波处理。
[0029]本公开另一方面提供一种上电时序的测试装置，包括：
[0030]获取模块，用于获取示波器输出的多个波形，包括：两个测试点的测试波形以及所述两个测试点之间的差分波形；
[0031]计算模块，用于确定所述差分波形的一阶导数上反应波形上电顺序的特征曲线，获取局部差分波形；
[0032]所述计算模块，还用于确定所述局部差分波形分别与所述两个测试点的波形之间的相关性；
[0033]分析模块，用于根据相关性的结果确定所述两个测试点的上电时序。
[0034]本公开再一方面提供一种电子设备，包括：存储器和处理器，所述存储器存储由所述处理器可执行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述上电时序的测试方法。
[0035]本公开还一方面提供一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被读取并执行时，实现上述上电时序的测试方法。
[0036]基于上述方案，本公开提供一种上电时序的测试方法，通过获取两个测试点的波形以及两个测试点之间的差分波形，并对差分波形进行解析，根据差分波形得到局部差分波形，通过对两个测试点分别与局部差分波形之间进行的相关性计算，可确定第一测试点和第二测试点之间的上电时序，使用该方法可以仅利用一根探棒分别获取上述多个波形，无需遵循获取波形的时机和次序即可解析两个测试点的上电时序，探棒获取波形时空间占用小，测试方便且无空间使用干扰。
附图说明
[0037]图1所示为本公开一实施例提供的上电时序测试方法的流程示意图；
[0038]图2所示为本公开一实施例提供的第一测试点的测试波形示意图；
[0039]图3所示为本公开一实施例提供的第二测试点的测试波形示意图；
[0040]图4所示为本公开一实施例提供的上升沿触发方式下的差分波形示意图；
[0041]图5所示为本公开一实施例提供的上电时序的测试装置的主控机构的结构示意图。
具体实施方式
[0042]为使本公开的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本公开实施例中的附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例，而非全部实施例。基于本公开中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
[0043]为了节约空间，使用一根机械臂控制探棒来获取相邻待测试点的上电时序。设置主控机构、机械臂和探棒，机械臂用于固定探棒，一根机械臂同时只能固定一根探棒，机械臂通过主控机构信号控制，执行如下的测试方法。
[0044]如图1所示，本公开一实施例提供了一种上电时序测试方法，包括：
[0045]步骤101，获取示波器输出的多个波形，包括：两个测试点的测试波形以及所述两个测试点之间的差分波形。
[0046]在上电时序的测试中，通常使用示波器获取波形，令波形通过示波器屏幕显示。
[004本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种上电时序的测试方法，其特征在于，包括：获取示波器输出的多个波形，包括：两个测试点的测试波形以及所述两个测试点之间的差分波形；确定所述差分波形的一阶导数上反应波形上电顺序的特征曲线，获取局部差分波形；确定所述局部差分波形分别与所述两个测试点的测试波形之间的相关性；根据相关性的结果确定所述两个测试点的上电时序。2.根据权利要求1所述的上电时序的测试方法，其特征在于，所述获取示波器输出的多个波形，包括：响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接所述两个测试点中的第一测试点，负极连接地线，以使所述示波器采集第一测试点的测试波形；响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正极连接地线，负极连接所述两个测试点中的第二测试点，以使所述示波器采集第二测试点的测试波形；响应于示波器输出的波形触发方式，控制机械臂将探棒的正负极分别与所述第一测试点和所述第二测试点连接，以使所述示波器采集所述第一测试点与所述第二测试点之间的差分波形；获取示波器输出的所述第一测试点的测试波形、所述第二测试点的测试波形和所述差分波形。3.根据权利要求2所述的上电时序的测试方法，其特征在于，所述根据相关性的结果确定所述两个测试点的上电时序，包括：若第一测试点的测试波形或第二测试点的测试波形分别与局部差分波形的相关性的结果大于设定阈值，确定第一测试点和第二测试点不是同时上电；若第一测试点的测试波形和第二测试点的测试波形均与局部差分波形的相关性的结果小于设定阈值，确定第一测试点和第二测试点同时上电。4.根据权利要求3所述的上电时序的测试方法，其特征在于，所述确定第一测试点和第二测试点不是同时上电之后，还包括：确定第一测试点与第二测试点的上电时序差；获取局部差分波形对所述上电时序差进行求导的求导结果；若求导结果大于0，确定第一测试点先上电，第二测试点后上电；若求导结果小于0，确定第二测试点先上电，第一测试点后上电。5.根据权利要求4所述的上电时序的测试方法，其特征在于，所述确定第一测试点与第二测试点的上电时序差，包括：利用如下公式进行确定：t＝(H/S)*K(d(A
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【专利技术属性】
技术研发人员：周旭，史全意，杨雷雷，刘蕾，
申请(专利权)人：联宝合肥电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：