确定玻璃基板缺陷等级的方法、计算机设备及存储介质技术

本申请公开确定玻璃基板缺陷等级的方法、计算机设备及存储介质，属于玻璃基板缺陷检测技术领域，其中所述方法包括S101，采集无缺陷玻璃基板的图像作为基准图像，处理所述基准图像得到无缺陷玻璃基板的第一轮廓线；S201，采集待检测玻璃基板的图像作为判定图像，处理所述判定图像，并将处理后的判定图像输入至玻璃基板缺陷检测模型，获得待检测玻璃基板的第二轮廓线以及所述判定图像中存在的缺陷面积和缺陷位置；S301，基于所述第一轮廓线、所述第二轮廓线以及所述缺陷面积和所述缺陷位置的信息，确定待检测玻璃基板的缺陷等级。本申请提供的技术方案能够有效确定玻璃基板的品质，并精确划分缺陷玻璃基板的缺陷等级，避免资源的浪费，节约成本。节约成本。节约成本。

【技术实现步骤摘要】
确定玻璃基板缺陷等级的方法、计算机设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及玻璃基板缺陷检测
，尤其涉及确定玻璃基板缺陷等级的方法、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着社会的发展，电子显示设备更新换代越来越快，显示设备的种类、大小也越来越多，对显示设备的要求也越来越高。玻璃基板作为液晶显示器的主要原材，在生产过程中极易出现缺陷，其产品质量及利用率直接关系到液晶显示器的成像效果以及玻璃基板制造厂商的成本。
[0003]在玻璃基板的制造过程中，一般都会基于玻璃基板缺陷检测模型进行缺陷检测，但是，这种检测方法只能确定玻璃基板是否存在缺陷以及缺陷的种类，并不能对玻璃基板存在的缺陷进行等级划分，从而无法根据缺陷等级对缺陷玻璃基板进行有效的回收利用，不仅造成极大的资源浪费，同时也严重制约着企业的利润率。

技术实现思路

[0004]本专利技术的一个优势在于提供一种确定玻璃基板缺陷等级的方法、计算机设备及存储介质，其中基于无缺陷玻璃基板的第一轮廓线、待检测玻璃基板的第二轮廓线以及相应的缺陷面积和缺陷位置对待检测玻璃基本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.确定玻璃基板缺陷等级的方法，其特征在于，包括以下步骤：S101，采集无缺陷玻璃基板的图像作为基准图像，处理所述基准图像得到无缺陷玻璃基板的第一轮廓线；S201，采集待检测玻璃基板的图像作为判定图像，处理所述判定图像，并将处理后的判定图像输入至玻璃基板缺陷检测模型，获得待检测玻璃基板的第二轮廓线以及所述判定图像中存在的缺陷面积和缺陷位置；S301，基于所述第一轮廓线、所述第二轮廓线以及所述缺陷面积和所述缺陷位置的信息，确定待检测玻璃基板的缺陷等级。2.如权利要求1所述确定玻璃基板缺陷等级的方法，其特征在于，在步骤S101中，处理所述基准图像得到无缺陷玻璃基板的第一轮廓线，具体为：对所述基准图像进行灰度处理得到灰度图像，并将所述灰度图像转换为二值图像；基于所述二值图像进行轮廓提取，绘制所述第一轮廓线，所述第一轮廓线为无缺陷玻璃基板的外轮廓线。3.如权利要求1所述确定玻璃基板缺陷等级的方法，其特征在于，在步骤S201中，基于所述判定图像确定待检测玻璃基板的外轮廓线；通过所述玻璃基板缺陷检测模型确定待检测玻璃基板存在的缺陷，并判断所述缺陷是否包含内部缺陷，若包含，则对所述内部缺陷进行轮廓检测，得到内部缺陷轮廓线，并对所述内部缺陷轮廓线进行轮廓近似处理，生成闭合的近似轮廓线；其中，若存在所述内部缺陷，所述第二轮廓线由所述近似轮廓线和待检测玻璃基板的外轮廓线组成；若不存在所述内部缺陷，所述第二轮廓线为待检测玻璃基板的外轮廓线。4.如权利要求3所述确定玻璃基板缺陷等级的方法，其特征在于，在步骤S201中，基于内部缺陷轮廓线的外接矩形或内部缺陷轮廓线的最小外接圆生成所述闭合的近似轮廓线。5.如权利要求3或4所述确定玻璃基板缺陷等级的方法，其特征在于，在步骤S301中，匹配待检测玻璃基板的外轮廓线与所述第一轮廓线，确定待检测玻璃基板是否存在边缘缺陷，若存在边缘缺陷，且所述第二轮廓线不包含所述近似轮廓线，则判定...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈凡，邹维，刘壮，
申请(专利权)人：济宁海富光学科技有限公司，
类型：发明
国别省市：