一种双脉冲测试方法、电路及系统技术方案

技术编号:34771462 阅读:24 留言:0更新日期:2022-08-31 19:33
本申请提供一种双脉冲测试方法、电路及系统,该双脉冲测试方法在控制待测开关管导通的第一脉冲期间,控制待测模组所接负载电感的感值小于第一阈值,也即使待测模组在第一脉冲期间采用一个较小感值的负载电感,进而可以减小直流母线电容向负载电感传输的能量,降低大功率模组在进行双脉冲测试时母线电压跌落的程度;而无需外加电容池,从而可以避免现有技术中因外加电容池所导致的测试结果准确性低的问题。另外,本申请在第一脉冲结束之后,可以采用一个较大感值的负载电感,因此,在双脉冲间隔期间,负载电感的能量消耗慢,第二脉冲开始时与第一脉冲结束时负载电感的电流差距较小,保证了测试结果的准确性。保证了测试结果的准确性。保证了测试结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种双脉冲测试方法、电路及系统


[0001]本申请涉及电力电子
,特别涉及一种双脉冲测试方法、电路及系统。

技术介绍

[0002]随着新能源行业的不断发展,逆变器、整流器等电力电子变换器中的功率模组趋于大功率化,为保证功率模组的正常、稳定工作,常需要对功率模组进行双脉冲测试,以测试其工作特性。
[0003]图1所示为常规的双脉冲测试电路,其能够实现对于模组(包括开关管Q1和Q2)的双脉冲测试;但是,随着功率等级的提高,模组电流等级提高,在对大功率模组进行双脉冲测试时,母线电容Cdc向负载电感L传输的能量增大,可能存在母线电压跌落的问题。
[0004]现有技术为解决双脉冲测试时母线电压跌落的问题,存在一种方案是在母线电容Cdc的两端并联一组容量较大的电容池,以降低母线电压跌落的程度;但是,该方法会引入外加电容池与模组母线电容池的杂散电感,导致测试结果的准确性降低。

技术实现思路

[0005]有鉴于此,本申请提供一种双脉冲测试方法、电路及系统,以避免外加电容池所导致的测试结果准确性低的问题。
[0006]为实现上述目的,本申请提供如下技术方案:
[0007]本申请第一方面提供了一种双脉冲测试方法,包括:
[0008]在第一脉冲期间,控制待测模组中的待测开关管导通,并控制所述待测模组所接负载电感的感值小于第一阈值;
[0009]在双脉冲间隔期间,控制所述待测开关管关断;
[0010]在第二脉冲期间,控制所述待测开关管导通。
[0011]可选的,在控制所述待测模组所接负载电感的感值小于第一阈值之后,还包括:
[0012]在第一脉冲结束后,控制所述负载电感的感值大于第二阈值;所述第二阈值大于等于所述第一阈值。
[0013]可选的,控制所述待测模组所接负载电感的感值小于第一阈值,包括:旁路掉所述负载电感中的部分串联电感;
[0014]控制所述负载电感的感值大于第二阈值,包括:解除对于所述部分串联电感的旁路。
[0015]可选的,控制所述待测模组所接负载电感的感值小于第一阈值,包括:切入感值小于所述第一阈值的电感作为所述负载电感;
[0016]控制所述负载电感的感值大于第二阈值,包括:切入感值大于所述第二阈值的电感作为所述负载电感。
[0017]本申请第二方面提供了一种双脉冲测试电路,包括:直流母线电容、第一电感、第二电感以及开关模块;其中,
[0018]所述直流母线电容与待测模组并联连接;
[0019]所述第一电感与所述第二电感串联连接,串联后的支路与所述待测模组中的待测续流二极管并联连接;
[0020]所述开关模块与所述第一电感并联连接;在所述双脉冲测试电路执行对所述待测模组的双脉冲测试时,所述开关模块在第一脉冲结束之前处于闭合状态,并在所述第一脉冲结束之后处于断开状态。
[0021]可选的,所述第一电感与所述第二电感,均为空心电感。
[0022]可选的,所述第一电感的感值大于所述第二电感的感值,且两者之差大于预设值。
[0023]可选的,所述第一电感包括:一个电感,或者,至少两个串联连接的电感;
[0024]所述第二电感包括:一个电感,或者,至少两个串联连接的电感。
[0025]可选的,所述开关模块的电流等级大于所述待测模组的最大负载电流。
[0026]可选的,所述开关模块包括:第一开关管和第二开关管;
[0027]所述第一开关管与所述第二开关管均带有反并联二极管;
[0028]所述第一开关管与所述第二开关管反向串联连接,所述第二开关管的反并联二极管,与所述待测模组中待测开关管的电流流通方向相同;
[0029]所述第二开关管常断,所述第一开关管在所述第一脉冲结束之前处于闭合状态,并在所述第一脉冲结束之后处于断开状态。
[0030]可选的,还包括:直流电源;
[0031]所述直流电源与所述直流母线电容并联连接。
[0032]本申请第三方面提供了一种双脉冲测试系统,包括:上位机、控制板及如上述第二方面任一种所述的双脉冲测试电路;其中,
[0033]所述上位机用于通过所述控制板,控制待测模组中的开关管及所述双脉冲测试电路中的开关模块动作。
[0034]本申请提供的双脉冲测试方法,其在控制待测开关管导通的第一脉冲期间,控制待测模组所接负载电感的感值小于第一阈值,也即使待测模组在第一脉冲期间采用一个较小感值的负载电感,进而可以减小直流母线电容向负载电感传输的能量,降低大功率模组在进行双脉冲测试时母线电压跌落的程度;而无需外加电容池,从而可以避免现有技术中因外加电容池所导致的测试结果准确性低的问题。另外,本申请在第一脉冲结束之后,可以采用一个较大感值的负载电感,因此,在双脉冲间隔期间,负载电感的能量消耗慢,第二脉冲开始时与第一脉冲结束时负载电感的电流差距较小,保证了测试结果的准确性。
附图说明
[0035]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0036]图1为现有技术的双脉冲测试电路的结构示意图;
[0037]图2a为现有技术中双脉冲测试电路在理想情况下的双脉冲测试波形示意图;
[0038]图2b为现有技术中双脉冲测试电路在负载电感感值较大情况下的双脉冲测试波
形示意图;
[0039]图3为本申请实施例提供的双脉冲测试方法的流程图;
[0040]图4a为现有技术中双脉冲测试电路在负载电感感值较小情况下的双脉冲测试波形示意图;
[0041]图4b为本申请实施例提供的双脉冲测试电路的双脉冲测试波形示意图;
[0042]图5为本申请实施例提供的双脉冲测试方法的另一流程图;
[0043]图6和图7分别为本申请实施例提供的双脉冲测试电路的两种结构示意图;
[0044]图8为本申请实施例提供的双脉冲测试电路及待测模组中各开关管的控制信号示意图;
[0045]图9为本申请实施例提供的双脉冲测试系统的结构示意图;
[0046]图10为本申请实施例提供的双脉冲测试电路中开关模块及待测模组中各开关管的控制信号示意图。
具体实施方式
[0047]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0048]在本申请中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双脉冲测试方法,其特征在于,包括:在第一脉冲期间,控制待测模组中的待测开关管导通,并控制所述待测模组所接负载电感的感值小于第一阈值;在双脉冲间隔期间,控制所述待测开关管关断;在第二脉冲期间,控制所述待测开关管导通。2.根据权利要求1所述的双脉冲测试方法,其特征在于,在控制所述待测模组所接负载电感的感值小于第一阈值之后,还包括:在第一脉冲结束后,控制所述负载电感的感值大于第二阈值;所述第二阈值大于等于所述第一阈值。3.根据权利要求2所述的双脉冲测试方法,其特征在于,控制所述待测模组所接负载电感的感值小于第一阈值,包括:旁路掉所述负载电感中的部分串联电感;控制所述负载电感的感值大于第二阈值,包括:解除对于所述部分串联电感的旁路。4.根据权利要求2所述的双脉冲测试方法,其特征在于,控制所述待测模组所接负载电感的感值小于第一阈值,包括:切入感值小于所述第一阈值的电感作为所述负载电感;控制所述负载电感的感值大于第二阈值,包括:切入感值大于所述第二阈值的电感作为所述负载电感。5.一种双脉冲测试电路,其特征在于,包括:直流母线电容、第一电感、第二电感以及开关模块;其中,所述直流母线电容与待测模组并联连接;所述第一电感与所述第二电感串联连接,串联后的支路与所述待测模组中的待测续流二极管并联连接;所述开关模块与所述第一电感并联连接;在所述双脉冲测试电路执行对所述待测模组的双脉冲测试时,所述开关模块在第一脉冲结束之前处于闭合状态,并在所...

【专利技术属性】
技术研发人员:庄桂元常仁贺骆然
申请(专利权)人:阳光电源股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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