光学辅助装置及测试方法制造方法及图纸

本申请公开了一种光学辅助装置及测试方法，应用于显示面板；该光学辅助装置包括辅助主体和固定于辅助主体内的第一光源组件，辅助主体的第一端和目标摄像模组的入光面对应，辅助主体的第二端和待测构件的表面对应，第一光源组件发出的辅助光线经辅助主体的第二端入射至待测构件的表面，辅助光线和目标摄像模组的入光面的中轴线重合；本申请通过将发射辅助光线的第一光源组件固定于辅助主体内，使得辅助光线和目标摄像模组的入光面的中轴线重合，同时利用辅助光线的反射原理，调节目标光源的位置和辅助光线的反射光线的匹配度，提高了显示面板的粗糙度的测试系统的调试效率。示面板的粗糙度的测试系统的调试效率。示面板的粗糙度的测试系统的调试效率。

【技术实现步骤摘要】
光学辅助装置及测试方法


[0001]本申请涉及显示
，尤其涉及一种光学辅助装置及测试方法。

技术介绍

[0002]现有显示面板的表面粗糙度通常是利用相机拍照或录像，同时配合光源在待测物件的正面、背面或侧面进行打光，使待测物件的表面不良位置凸显，以被相机获取。
[0003]现有的测试系统一般先进行光源安装，然后在根据相机获取的图片调节相机和光源的角度，以使光源能照射到异常物的最佳位置，同时相机能拍摄高质量的相片；因此，该调试过程需要相机和光源反复的调整角度，以及相机多次的采图，调节时间冗长。

技术实现思路

[0004]本申请提供一种光学辅助装置及测试方法，以解决现有显示面板的粗糙度的测试系统调试时间较长的的技术问题。
[0005]为解决上述方案，本申请提供的技术方案如下：
[0006]本申请提供一种光学辅助装置，应用于显示面板，其包括：
[0007]辅助主体，所述辅助主体和目标摄像模组固定连接，以及所述辅助主体的第一端和目标摄像模组的入光面对应，所述辅助主体的第二端和待测构件的表面对应；
[0008]第一光源组件，所述第一光源组件设置于所述辅助主体内，以及所述第一光源组件和所述辅助主体固定连接，所述第一光源组件发出的辅助光线经所述辅助主体的第二端入射至所述待测构件的表面；
[0009]其中，所述辅助光线和所述目标摄像模组的入光面的中轴线重合，所述辅助主体的第一端至所述辅助主体的第二端的方向和所述辅助光线平行。
[0010]在本申请的光学辅助装置中，所述辅助主体包括具有第一导光面和第二导光面的导光通道，所述第一导光面和目标摄像模组的入光面对应，所述第二导光面和待测构件的表面对应；
[0011]所述第一光源组件设置于所述导光通道内，所述第一光源组件发出的辅助光线经所述第二导光面入射至所述待测构件的表面；
[0012]其中，所述导光通道的第一中轴线、所述辅助光线、以及所述目标摄像模组的入光面的第二中轴线重合，所述第一中轴线和所述第一导光面至所述第二导光面的方向平行。
[0013]在本申请的光学辅助装置中，所述第一光源组件包括光源主体和连接件，所述光源主体从靠近所述第二导光面的一侧发出所述辅助光线，所述光源主体通过所述连接件和所述辅助主体的内壁固定连接。
[0014]在本申请的光学辅助装置中，所述辅助光线包括激光或红外线。
[0015]在本申请的光学辅助装置中，所述连接件包括至少一个连接叶片，所述连接叶片从所述光源主体延伸至所述辅助主体的内壁。
[0016]在本申请的光学辅助装置中，所述辅助主体的所述第一导光面的面积大于所述目
标摄像模组的入光面的面积。
[0017]在本申请的光学辅助装置中，所述光学辅助装置还包括设置于所述辅助主体和所述目标摄像模组之间的至少一个收缩接口；
[0018]所述收缩接口包括第一接口和第二接口，所述第一接口与所述辅助主体的第一导光面对接，所述第二接口和所述目标摄像模组的入光面对接，所述第一接口的内接圆直径和所述第一导光面的外接圆直径相等，所述第二接口的内接圆直径和所述目标摄像模组的入光面的外接圆直径相等。
[0019]在本申请的光学辅助装置中，所述辅助主体包括收缩段，所述收缩段靠近所述第一导光面一侧的面积小于所述收缩段靠近所述第二导光面一侧的面积。
[0020]在本申请的光学辅助装置中，所述收缩段的收光曲面在垂直于所述第一导光面或所述第二导光面上的截面轮廓为抛物线、多项式曲线、贝塞尔曲线和B样条曲线中的一种。
[0021]本申请还提出了一种测试方法，应用于显示面板，其包括：
[0022]提供一上述光学辅助装置；
[0023]将所述目标摄像模组的镜头和所述光辅助装置中辅助主体的第一端固定连接，以使所述辅助主体的第一导光面和所述目标摄像模组的入光面对应；
[0024]利用所述光学辅助装置中的第一光源组件发出辅助光线，以及使所述辅助光线经所述辅助主体的第二导光面入射至待测构件的表面；
[0025]提供第二光源组件，以及调节所述第二光源组件的位置和出光角度，以使所述辅助光线经所述待测构件反射光线入射至所述第二光源组件的出光面的中心，以及所述第二光源组件的发出的光线和所述辅助光线在所述待测构件上重合。
[0026]有益效果：本申请公开了一种光学辅助装置及测试方法，应用于显示面板的粗糙度测试系统；该光学辅助装置包括辅助主体和固定于辅助主体内的第一光源组件，辅助主体的第一端和目标摄像模组的入光面对应，辅助主体的第二端和待测构件的表面对应，第一光源组件发出的辅助光线经辅助主体的第二端入射至待测构件的表面，辅助光线和目标摄像模组的入光面的中轴线重合；本申请通过将发射辅助光线的第一光源组件固定于辅助主体内，使得辅助光线和目标摄像模组的入光面的中轴线重合，根据辅助光线经待测构件后的反射光线确定目标摄像模组的拍摄角度，同时利用辅助光线的反射原理，调节目标光源的位置和辅助光线的反射光线的匹配度，提高了显示面板的粗糙度的测试系统的调试效率。
附图说明
[0027]下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。
[0028]图1为现有技术中显示面板的粗糙度测试系统的结构图；
[0029]图2为本申请光学辅助装置的第一种结构图；
[0030]图3为本申请光学辅助装置的第二种结构图；
[0031]图4为图2的主视结构图；
[0032]图5为本申请光学辅助装置的第三种结构图；
[0033]图6为本申请利用光学辅助装置的测试方法步骤图。
具体实施方式
[0034]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0035]在现有的显示面板粗糙度测试系统中，当大部分光源被反射进入摄像模组的镜头时，摄像模组获取的图片中，凸起或异常部分较暗，其他区域为较亮，此种情况为明场；另外，而当较少光源被反射进入摄像模组的镜头时，光源经过异常部分时可能发生漫反射，使得异常部分较亮，其他区域较暗，此种情况为暗场。而在显示面板的粗糙测试中，请参阅图1，为了更好的获取异常部分的数据，需要摄像模组获取的图片为暗场，而暗场的图片获取的方式，需要相机和光源反复的调整角度，以及相机多次的采图，调节时间冗长。
[0036]请参阅图2，本申请提供一种应用于显示面板的光学辅助装置100，该光学辅助装置100主用于显示面板的粗糙度测试系统，所述光学辅助装置100可以包括辅助主体10和第一光源组件20。
[0037]在本实施例中，所述辅助主体10和目标摄像模组30固定连接，以及所述辅助主体10的第一端和目标摄像模组30的入光面对应，所述辅助主体本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学辅助装置，应用于显示面板，其特征在于，包括：辅助主体，所述辅助主体和目标摄像模组固定连接，以及所述辅助主体的第一端和目标摄像模组的入光面对应，所述辅助主体的第二端和待测构件的表面对应；第一光源组件，所述第一光源组件设置于所述辅助主体内，以及所述第一光源组件和所述辅助主体固定连接，所述第一光源组件发出的辅助光线经所述辅助主体的第二端入射至所述待测构件的表面；其中，所述辅助光线和所述目标摄像模组的入光面的中轴线重合，所述辅助主体的第一端至所述辅助主体的第二端的方向和所述辅助光线平行。2.根据权利要求1所述的光学辅助装置，其特征在于，所述辅助主体包括具有第一导光面和第二导光面的导光通道，所述第一导光面和目标摄像模组的入光面对应，所述第二导光面和待测构件的表面对应；所述第一光源组件设置于所述导光通道内，所述第一光源组件发出的辅助光线经所述第二导光面入射至所述待测构件的表面；其中，所述导光通道的第一中轴线、所述辅助光线、以及所述目标摄像模组的入光面的第二中轴线重合，所述第一中轴线和所述第一导光面至所述第二导光面的方向平行。3.根据权利要求2所述的光学辅助装置，其特征在于，所述第一光源组件包括光源主体和连接件，所述光源主体从靠近所述第二导光面的一侧发出所述辅助光线，所述光源主体通过所述连接件和所述辅助主体的内壁固定连接。4.根据权利要求3所述的光学辅助装置，其特征在于，所述辅助光线包括激光或红外线。5.根据权利要求3所述的光学辅助装置，其特征在于，所述连接件包括至少一个连接叶片，所述连接叶片从所述光源主体延伸至所述辅助主体的内壁。6.根据权利要求2所述的光学...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵建潮，
申请(专利权)人：苏州华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：