一种用于键合丝熔断电流的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于键合丝熔断电流的测试装置，包括测量底座以及数显游标卡尺，所述测量底座一端设置有固定挡块，所述数显游标卡尺的第一卡块与所述固定挡块相连接；所述测量底座另一端设置有滑动挡块，所述滑动挡块与所述数显游标卡尺的第二卡块相连接；所述固定挡块与所述滑动挡块上分别对应设置有紧固螺栓用以固定键合丝，所述键合丝在被固定时平行于所述数显游标卡尺；还包括直流稳压电源，所述直流稳压电源正负极分别连接位于所述固定挡块与所述滑动挡块上的紧固螺栓。本实用新型专利技术可以测试不同材料不同直径键合丝长度200mm内的熔断电流，还可以测试不同材料不同直径键合丝可承受固定电流的最长长度，操作简便，且具有较高的准确度。且具有较高的准确度。且具有较高的准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于键合丝熔断电流的测试装置


[0001]本技术涉及键合丝性能测试
，具体涉及一种用于键合丝熔断电流的测试装置。

技术介绍

[0002]键合丝是连接芯片与外框架，是用来传输电信号的连接线，广泛应用于发光二极管LED、分立器件TR以及集成电路IC中，目前常见的为键合金丝、键合银丝和键合铜丝。键合丝生产时首先要把金、银、铜等金属材料熔炼成金属棒材，并需要向金、银、铜主金属内加入稀土等微量元素，改变金、银、铜主金属的晶粒结构，以达到我们需要的键合丝弧度与焊接性能。
[0003]不同材料制成的键合丝具有不同的电学性能，不同线径的键合丝其电学性能亦有很大差异。在键合丝的技术规格书上，通常需要体现键合丝熔断电流的上限值，以提供给客户作为参考。目前，键合丝熔断电流的测量步骤繁琐，且测量距离难以控制，导致其测量准确度低，所以，如何设计一种测量键合丝熔断电流的制具来提高测量的准确度以及测量效率，成为我们当前需要解决的问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种用于键合丝熔断电流的测试装置。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0006]一种用于键合丝熔断电流的测试装置，包括测量底座以及数显游标卡尺，所述测量底座一端设置有固定挡块，所述数显游标卡尺的第一卡块与所述固定挡块相连接；所述测量底座另一端设置有滑动挡块，所述滑动挡块与所述数显游标卡尺的第二卡块相连接；
[0007]所述第二卡块在所述数显游标卡尺上滑动时，所述滑动挡块随其同步移动；且所述第一卡块、所述第二卡块间的距离与所述固定挡块、滑动挡块间的距离时刻相等；
[0008]所述固定挡块与所述滑动挡块上分别对应设置有紧固螺栓用以固定键合丝，所述键合丝在被固定时平行于所述数显游标卡尺。
[0009]进一步地，还包括直流稳压电源，所述直流稳压电源正负极分别连接位于所述固定挡块与所述滑动挡块上的紧固螺栓。
[0010]进一步地，所述测量底座为绝缘材料制成。
[0011]本技术的有益效果为：
[0012]本技术结构简单、设计合理，将键合丝一端固定在固定挡块上，移动滑动挡块至需要测量键合丝的长度位置，长度可在数显游标卡尺上读出，然后将键合丝的另一端固定在可滑动挡块上，调整直流稳压电源上的电流，直到键合丝熔断，这时直流稳压电源上电流的数值就是此材料此直径键合丝长度的熔断电流；还可以固定直流稳压电源上的电流值，通过调整滑动挡块，直至测量的键合丝熔断，这时数显游标卡尺上的数值就是此材料此
直径键合丝承受此固定电流的最长长度；本技术可以测试不同材料不同直径键合丝长度200mm内的熔断电流，还可以测试不同材料不同直径键合丝可承受固定电流的最长长度，操作简便，且具有较高的准确度。
附图说明
[0013]图1是本技术提供的用于键合丝熔断电流的测试装置结构示意图。
具体实施方式
[0014]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0015]需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
[0016]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0017]实施例1
[0018]请参阅图1，本实施例提供一种用于键合丝熔断电流的测试装置，包括测量底座1以及数显游标卡尺2，所述测量底座1一端设置有固定挡块3，所述数显游标卡尺2的第一卡块4与所述固定挡块3相连接；所述测量底座1另一端设置有滑动挡块5，所述滑动挡块5与所述数显游标卡尺的第二卡块6相连接；
[0019]所述第二卡块6在所述数显游标卡尺2上滑动时，所述滑动挡块5随其同步移动；且所述第一卡块4、所述第二卡块6间的距离与所述固定挡块3、滑动挡块5间的距离时刻相等；
[0020]所述固定挡块3与所述滑动挡块5上分别对应设置有紧固螺栓7用以固定键合丝，所述键合丝在被固定时平行于所述数显游标卡尺2。
[0021]还包括直流稳压电源8，所述直流稳压电源8正负极分别连接位于所述固定挡块3与所述滑动挡块5上的紧固螺栓。
[0022]进一步地，所述测量底座1为绝缘材料制成。
[0023]本技术结构简单、设计合理，将键合丝一端固定在固定挡块上，移动滑动挡块至需要测量键合丝的长度位置，长度可在数显游标卡尺上读出，然后将键合丝的另一端固定在可滑动挡块上，调整直流稳压电源上的电流，直到键合丝熔断，这时直流稳压电源上电流的数值就是此材料此直径键合丝长度的熔断电流；还可以固定直流稳压电源上的电流值，通过调整滑动挡块，直至测量的键合丝熔断，这时数显游标卡尺上的数值就是此材料此直径键合丝承受此固定电流的最长长度；本技术可以测试不同材料不同直径键合丝长
度200mm内的熔断电流，还可以测试不同材料不同直径键合丝可承受固定电流的最长长度，操作简便，且具有较高的准确度。
[0024]此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本技术的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在上面的权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。公开于该
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的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于键合丝熔断电流的测试装置，包括测量底座以及数显游标卡尺，其特征在于，所述测量底座一端设置有固定挡块，所述数显游标卡尺的第一卡块与所述固定挡块相连接；所述测量底座另一端设置有滑动挡块，所述滑动挡块与所述数显游标卡尺的第二卡块相连接；所述第二卡块在所述数显游标卡尺上滑动时，所述滑动挡块随其同步移动；且所述第一卡块、所述第二卡块间的距离与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李军，朱小良，
申请(专利权)人：江苏金蚕电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：