光学检测装置及其检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光学检测装置及其检测方法。线状光源提供由多条光束形成的光幕，其中光幕位于传输待测物的传输路径上，传感器组感测未被待测物遮断部份的光束而产生不同强度的感测信号，控制电路依据感测信号的强弱判断待测物的物理特征、移动速度以及位置。移动速度以及位置。移动速度以及位置。

【技术实现步骤摘要】
光学检测装置及其检测方法


[0001]本专利技术涉及一种检测装置，尤其涉及一种光学检测装置及其检测方法。

技术介绍

[0002]光学检测是一种利用光与物质的交互作用来对物质作检测的方法。由于利用光的检测通常不会对物质本身造成过多的破坏性，因此有利于用来作为各种物质的检测。采用光学检测取代传统人力进行检测，不仅能提高生产效率，也能提高检测的准确性。因此，如何能够利用光学特性提高检测效率为本领域技术人员所致力的课题。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种光学检测装置及其检测方法，可有效提高检测效率。
[0004]本专利技术的光学检测装置包括至少一线状光源、至少一传感器组以及控制电路。线状光源提供由多条光束形成的光幕，光幕位于传输待测物的传输路径上，待测物在被传输途中穿越光幕。传感器组配置于光束的传送路径上，线状光源与传感器组配置于传输路径的两侧，传感器组感测未被待测物遮断的部份的光束而产生不同强度的感测信号。控制电路耦接线状光源以及传感器组，依据感测信号的强度及组合，判断待测物的物理特征、移动速度以及位置。
[0005]在本专利技术的一实施例中，上述的线状光源包括多个发光单元或使用导光棒，此些发光单元排列为直线、曲线或折线。
[0006]在本专利技术的一实施例中，上述的传感器组可包括多个传感器单元，此些传感器单元对应配合线状光源以等距排列为直线、曲线或折线。
[0007]在本专利技术的一实施例中，上述的传感器组还可以包括透镜模块，透镜模块依据传感器单元的感测面的感测面积调整未被待测物遮断的光束照射传感器单元的范围。
[0008]在本专利技术的一实施例中，上述的待测物的物理特征包括待测物的数量、密度、大小及厚度至少之其一。
[0009]在本专利技术的一实施例中，上述的控制电路还控制致能线状光源以及传感器组的时间。
[0010]在本专利技术的一实施例中，上述的光学检测装置还包括运输工具，其耦接控制电路，受控于控制电路而调整沿传输路径运输待测物的速度。
[0011]在本专利技术的一实施例中，上述的光束为可见光或不可见光，传感器组为可见光传感器或不可见光传感器。
[0012]在本专利技术的一实施例中，上述的光学检测装置，包括多个线状光源以及多个传感器组，上述多个线状光源提供的多条光束形成多个光幕，上述多个传感器组配置于上述多个线状光源提供的光束的传送路径上，上述多个线状光源与上述多个传感器组配置于传输路径的两侧，上述多个传感器组感测未被待测物部份遮断的上述多个线状光源提供的光束，而产生多个感测信号，控制电路依据上述多个感测信号的强度判断待测物的物理特征、
移动速度以及位置。
[0013]本专利技术还提供一种光学检测装置的检测方法，包括下列步骤。提供至少一线状光源，线状光源提供由多条光束形成的光幕，光幕位于传输至少一待测物的传输路径上，待测物在被传输途中穿越光幕。提供至少一传感器组，配置于上述多条光束的传送路径上，线状光源与传感器组配置于传输路径的两侧，传感器组周期性地连续地感测被待测物未遮断或部份遮断的光束而产生强度不同之感测信号。控制电路依据传感器产生的多组连续的感测讯号，判断待测物的物理特征、移动速度以及位置等。控制电路并可依据判断结果机动的调整运输工具的速度，以增加精确度及效率。
[0014]在本专利技术的一实施例中，上述的线状光源包括多个发光单元，此些发光单元排列为直线、曲线或折线。
[0015]在本专利技术的一实施例中，上述的待测物的物理特征包括待测物的数量、密度、大小及厚度至少之其一。
[0016]基于上述，本专利技术实施例的线状光源提供由多条光束形成的光幕，其中光幕位于传输待测物的传输路径上，传感器组感测被待测物未遮断或部份遮断的光束而产生强度不同之感测信号，控制电路控制传感器组周期性地连续感测未被待测物遮断的光束而产生的多个感测讯号，并依据此些感测信号判断待测物的物理特征、移动速度以及位置。在部份实施例中，控制电路亦可依据判断结果机动的调整运输工具的速度。如此藉由感测被待测物未遮断或部份遮断的光束而产生强度不同之的感测信号，可取代利用传统人力进行检测的方式，并提供精确的多方面的数据分析，对于微细之待测物更可有效地提高检测效率。
[0017]为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。
附图说明
[0018]图1是依照本专利技术的实施例的一种光学检测装置的示意图。
[0019]图2以及图3是依照本专利技术的实施例的待测物穿越光幕的俯视示意图。
[0020]图4以及图5是依照本专利技术的实施例的线状光源的示意图。
[0021]图6是依照本专利技术另一实施例的一种光学检测装置的示意图。
[0022]图7是依照本专利技术的实施例的一种光学检测装置的检测方法的流程图。
具体实施方式
[0023]为了使本专利技术之内容可以被更容易明了，以下特举实施例做为本专利技术确实能够据以实施的范例。另外，凡可能之处，在附图及实施方式中使用相同标号的组件/构件，系代表相同或类似部件。
[0024]图1是依照本专利技术的实施例的一种光学检测装置的示意图，请参照图1。光学检测装置可包括线状光源102、传感器组104以及控制电路106，控制电路106耦接线状光源102以及传感器组104。线状光源102可提供由多条光束形成的光幕LC1(如虚线所示)，光幕LC1位于待测物的传输路径上，线状光源102与传感器组104配置于传输路径的两侧。例如在图1中，待测物P1的传输路径为D1，线状光源102与传感器组104配置于传输路径D1的两侧，待测物P1在沿传输路径D1被传输的途中将穿越光幕LC1(例如以垂直于光幕LC1的方向穿越光幕
LC1然不以此为限，在其他实施例中也可以与光幕LC1的法线夹一小于90度的特定角度的方向穿越光幕LC1)，类似地待测物P2与P3也分别沿其传输路径D2、D3在被传输的途中穿越光幕LC1。
[0025]进一步来说，线状光源102可包括多个发光单元LM1，发光单元LM1可例如为发光二极管或雷射二极管，然不以此为限，此外，发光单元LM1可为可见光光源或不可见光光源，而使得线状光源102发出的光束为可见光或不可见光。多个发光单元LM1可以线状排列，例如在图1实施例中，多个发光单元LM1排列成直线，而使得线状光源102呈直线。在部份实施例中，线状光源102可还可包括导光棒，其可均匀化发光单元LM1所发出的光束。
[0026]传感器组104配置于线状光源102所发出的光束的传送路径上，在线状光源102的光束未被待测物遮断的情形下，传感器组104可直接接收来自线状光源102的光束。进一步来说，传感器组104可包括至少一传感器单元SA1，例如传感器组104可包括多个传感器单元SA1，此些传感器单元SA1可对应线状光源102以等距排列为直线。传感器组104可受控于控制电路106而周期性地连续感测来自线状光源102且未被待测物遮断的光束，并对应地产生感测信号给控制电路106。控制电路106可依据感本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学检测装置，其特征在于，包括：至少一线状光源，提供由多条光束形成的光幕，所述光幕位于传输至少一待测物的传输路径上，所述待测物在被传输途中穿越所述光幕；至少一传感器组，配置于所述多条光束的传送路径上，所述线状光源与所述传感器组配置于所述传输路径的两侧，所述传感器组感测未被所述待测物遮断的所述多条光束而产生感测信号；以及控制电路，耦接所述线状光源以及所述传感器组，依据所述感测信号判断所述待测物的物理特征、移动速度以及位置。2.根据权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，所述线状光源包括多个发光单元，所述多个发光单元排列为直线、曲线或折线。3.根据权利要求2所述的光学检测装置，其特征在于，所述传感器组包括：多个传感器单元，所述多个传感器单元对应所述线状光源以等距排列为直线、曲线或折线。4.根据权利要求3所述的光学检测装置，其特征在于，所述传感器组还包括透镜模块，所述透镜模块依据所述多个传感器单元的感测面的感测面积调整未被所述待测物遮断的所述多条光束照射所述多个传感器单元的范围。5.根据权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，所述待测物的物理特征包括所述待测物的数量、密度、大小及厚度至少之其一。6.根据权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，所述控制电路还控制致能所述线状光源以及所述传感器组的时间。7.根据权利要求6所述的光学检测装置，其特征在于，还包括：运输工具，耦接所述控制电路，受控于所述控制电路而调整沿所述传输路径运输所述待测物的速度。8.根据权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，所述多条光束为可见光或不可见光，所述传感器组为可见光传感器或不可见光传感器。9.根据权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，包括多个线状光...

【专利技术属性】
技术研发人员：施明顺，廖荣富，
申请(专利权)人：大象科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：